化合物半导体层叠基板及其制造方法以及半导体元件

    公开(公告)号:CN110301033B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN201880012091.7

    申请日:2018-02-15

    Abstract: 本发明为化合物半导体层叠基板,是将为包含A和B作为构成元素的相同组成、具有相同的原子排列的2张单晶的化合物半导体基板直接贴合层叠而成的基板,其特征在于,该层叠基板的表面背面为包含A或B的同种的原子的极性面,层叠界面为包含B或A中的任一者的原子之间的键合、并且它们的晶格匹配的单极性的反相位区域边界面。由此,使化合物半导体层叠基板的表面背面的极性面成为单一极性,使半导体元件的工序设计变得容易,同时无需施加复杂的基板加工,可制造低成本、高性能、稳定的半导体元件。

    SiC复合基板的制造方法
    22.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108140541B

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN201680052889.5

    申请日:2016-09-09

    Abstract: 本发明提供SiC复合基板的制造方法,是在多晶SiC基板11上具有单晶SiC层12的SiC复合基板10的制造方法,其特征在于,在表面和背面具有氧化硅膜21a的由Si构成的保持基板21的表面设置单晶SiC层12而制作了单晶SiC层负载体14后,将该单晶SiC层负载体14中的保持基板21的背面的部分区域或整面的氧化硅膜21a的厚度的一部分或全部除去,对单晶SiC层负载体14'赋予翘曲,接下来在单晶SiC层12上采用化学气相沉积法沉积多晶SiC而形成多晶SiC基板11,然后将上述保持基板21以物理和/或化学方式除去。根据本发明,采用简便的制造工艺得到在具有结晶性良好的单晶SiC层的同时翘曲小的SiC复合基板。

    III族氮化物基板的制造装置和制造方法

    公开(公告)号:CN113677835A

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN202080025638.4

    申请日:2020-03-24

    Abstract: 本发明的III族氮化物基板的制造装置具备:在反应容器(1)内保持晶种(2)并旋转的自转基座(3),对晶种(2)进行加热的加热工具(9),配置收纳自转基座(2)并旋转的公转基座(4),相对于公转基座(4)的旋转轴的轴方向以规定的倾斜度喷出III族元素的氯化物气体的第一气体喷出口(6)、喷出含氮气体的第二气体喷出口(7)以及从第一气体喷出口(6)和第二气体喷出口(7)之间喷出惰性气体的第三气体喷出口(8),和排出气体的排气工具(5)。根据本发明,可提供可得到均匀且良好的III族氮化物结晶基板的制造装置和制造方法。

    GaN层叠基板的制造方法
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112585305A

    公开(公告)日:2021-03-30

    申请号:CN201980052719.0

    申请日:2019-08-01

    Abstract: 将偏角0.5~5度的C面蓝宝石薄膜(1t)转印至由800K下的热膨胀率比硅大、比C面蓝宝石小的陶瓷材料构成的操作基板上,从而制作GaN外延生长用基板(11);进行GaN外延生长用基板(11)的高温氮化处理而将C面蓝宝石薄膜(1t)表面用由AlN构成的表面处理层(11a)被覆;使GaN在该表面处理层(11a)上外延生长,制作表面由N极性面构成的GaN膜负载体;对GaN膜(13)进行离子注入;将经离子注入的GaN膜负载体的GaN膜侧表面与支撑基板(12)贴合以接合;在GaN膜(13)中的离子注入区域(13ion)进行剥离而将GaN薄膜(13a)转印至支撑基板(12)上,得到在支撑基板(12)上具有表面由Ga极性面构成的结晶性和平坦性良好的GaN薄膜(13a)的GaN层叠基板(10)。

    碳化硅基板的制造方法及碳化硅基板

    公开(公告)号:CN110366611A

    公开(公告)日:2019-10-22

    申请号:CN201880014716.3

    申请日:2018-03-01

    Abstract: 本发明为碳化硅基板的制造方法,具有:准备在由碳、硅或碳化硅构成的母材基板1a的两面设置包含氧化硅、氮化硅、氮化碳化硅或硅化物的被覆层1b、1b并使该被覆层1b、1b表面成为平滑面的支承基板1的工序;在所述支承基板1的两面采用气相生长法或液相生长法形成多晶碳化硅的膜10的工序;将所述支承基板1中至少被覆层1b、1b以化学方式除去,在使被覆层1b、1b表面的平滑性反映于表面的状态下将多晶碳化硅的膜从该支承基板1分离,作为晶粒直径为10nm以上且10μm以下、至少一个主面的算术平均粗糙度Ra为0.3nm以下的碳化硅基板10a、10b得到该多晶碳化硅的膜的工序。由此实现表面平滑且平坦并且内部应力也减小的碳化硅基板。

    SiC复合基板的制造方法
    27.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108138358A

    公开(公告)日:2018-06-08

    申请号:CN201680052879.1

    申请日:2016-09-09

    Abstract: 本发明提供SiC复合基板的制造方法,是在多晶SiC基板11上具有单晶SiC层12的SiC复合基板10的制造方法,其特征在于,在由Si构成的保持基板21的单面设置单晶SiC层12而制作了单晶SiC层负载体14后,在该单晶SiC层12上采用化学气相沉积法沉积多晶SiC而制作在保持基板21'上将单晶SiC层12和厚度t的多晶SiC基板11层叠的SiC层叠体15时,进行将单晶SiC层负载体14加热至低于1414℃而只沉积厚度t的一部分的多晶SiC,接着升温到1414℃以上而边将保持基板21的至少一部分熔融边进一步沉积多晶SiC直至成为厚度t后进行冷却,然后将保持基板21'以物理和/或化学方式除去。根据本发明,用简便的制造工艺得到在具有结晶性良好的单晶SiC层的同时翘曲小的SiC复合基板。

    混合基板的制造方法和混合基板

    公开(公告)号:CN104488080A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201380039179.5

    申请日:2013-07-18

    CPC classification number: H01L21/76254

    Abstract: 本发明涉及能够投入半导体生产线的混合基板的制造方法,即,从硅基板1的表面注入离子而形成离子注入区域3,使上述硅基板的经离子注入的表面与蓝宝石基板4的表面直接或经由绝缘膜2贴合后,在上述离子注入区域3使硅基板1剥离而得到在蓝宝石基板4上具有硅薄膜(半导体层)6的混合基板8的混合基板的制造方法,其特征在于,预先在还原性气氛中将上述蓝宝石基板4进行热处理后,与硅基板1贴合。

    SOI基板的制造方法
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101981654A

    公开(公告)日:2011-02-23

    申请号:CN200980111732.5

    申请日:2009-04-01

    CPC classification number: H01L21/76254 H01L27/12

    Abstract: 本发明提供了一种简便地制造SOI基板的方法,所述SOI基板为透明绝缘性基板,所述SOI基板具有:一个主表面,硅薄膜形成于该主表面上;粗糙的主表面,该粗糙的主表面位于形成所述硅薄膜一侧的相对侧。本发明提供了一种制造SOI基板的方法,所述基板至少包含透明绝缘性基板和硅薄膜,所述硅薄膜形成于作为所述透明绝缘性基板一个主表面的第一主表面上,而所述透明绝缘性基板的第二主表面是粗糙的,所述第二主表面为与第一主表面相对侧的主表面。所述方法至少包含下述工序:制备所述透明绝缘性基板的工序,作为所述透明绝缘性基板,所述第一主表面按RMS值计的表面粗糙度小于0.7nm,并且所述第二主表面按RMS值计的表面粗糙度大于所述第一主表面的表面粗糙度;以及在所述透明绝缘性基板的第一主表面上形成硅薄膜的工序。

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