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公开(公告)号：CN110190833A
公开(公告)日：2019-08-30
申请号：CN201910592633.9
申请日：2019-07-03
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H03K3/013 , H03K3/3562
Abstract: 本发明公开了一种抗单粒子翻转的自检测自恢复同步复位D触发器，D触发器的时钟信号输入电路分别与时钟信号输入端C、自检测自恢复同步复位主锁存器和自检测自恢复同步复位从锁存器连接，能够产生一个与时钟信号输入端C逻辑状态相反和相同的输出信号CN、CP；SEU监测电路分别与自检测自恢复同步复位主锁存器及自检测自恢复同步复位从锁存器连接；自检测自恢复同步复位主锁存器分别与数据信号输入端D、复位信号输入端RN及自检测自恢复同步复位从锁存器连接；自检测自恢复同步复位从锁存器与输出电路连接；输出电路与第一输出端Q及第二输出端QN连接。本发明触发器状态可控能力强，抗单粒子翻转能力强，工作方式灵活。
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公开(公告)号：CN113873184B
公开(公告)日：2023-10-17
申请号：CN202111277411.1
申请日：2021-10-29
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H04N25/76 , H04N25/772 , H04N17/00
Abstract: 本发明公开了一种图像传感器芯片级ADC修调系统，包括修调控制模块和修调预写入模块，修调控制模块连接修调预写入模块，修调控制模块用于输出控制信号给修调预写入模块，修调预写入模块的修调输出连接到ADC模块的控制端，与ADC模块的各待修正模块连接，用于输出修调控制信号，针对系统修调预写入、电容失配修调、功耗修调和误差修调，可有效弥补工艺偏差失配、工艺角偏离等因素引起的性能参数下降和功耗超差、提升ADC的关键动态和静态参数，具有很高的实用性。
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公开(公告)号：CN110311660B
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN201910592627.3
申请日：2019-07-03
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H03K3/3562
Abstract: 本发明公开了一种自适应抗单粒子翻转的D触发器，D触发器有时钟信号输入端C和数据信号输入端D，第一输出端Q和第二输出端QN；时钟输入电路的输入端与时钟信号输入端C连接，输出端分别与开关控制RC滤波结构型主锁存器和开关控制RC滤波结构型从锁存器连接；SEU监测电路分别与开关控制RC滤波结构型主锁存器及开关控制RC滤波结构型从锁存器连接；开关控制RC滤波结构型主锁存器电路分别与数据信号输入端D和开关控制RC滤波结构型从锁存器连接；开关控制RC滤波结构型从锁存器与输出电路连接；输出电路还分别连接第一输出端Q及第二输出端QN。本发明具有良好的单粒子加固能力，并克服了加固触发器不能应用于高速无辐照环境的局限性。
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公开(公告)号：CN112422955B
公开(公告)日：2022-08-12
申请号：CN202011166168.1
申请日：2020-10-27
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明公开了一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，属于仿真分析领域。一种用于CMOS图像传感器的ADC固有噪声分析方法，包括以下步骤：1)对ADC比较器的翻转进行仿真分析，得出翻转区间偏移；2)计算所述翻转区间偏移分布在ADC计数器的一个时钟周期内的概率和跨越多个时钟周期的概率，并计算由此而引起的CMOS图像传感器噪声电压；3)将所述CMOS图像传感器噪声电压和对应的概率相乘，得到由ADC固有噪声引起的CMOS图像传感器噪声的计算值。本发明的分析方法，确定了由ADC固有噪声而引起CMOS图像传感器的整体噪声，在设计阶段有利于明确设计值是否满足设计要求，为噪声设计改进提供依据。
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公开(公告)号：CN114050155A
公开(公告)日：2022-02-15
申请号：CN202111264689.5
申请日：2021-10-28
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明提供一种用于收发器的高耐压抗静电结构，多个对应端口两侧均连接有高耐压二极管结构，端口均为仅一侧导通高耐压二极管结构的阳极，形成多个对应端口线路组，且每个对应端口线路组至少形成两条放电通道；通过反偏二极管和正偏二级管的组合，端口到端口之间至少存在两条放电通道，大幅度减小了单条放电通道的压力，满足超高电压静电放电要求，当端口到端口的其中一条放电通道负荷过重，另外一条放电通道负荷较轻，则均衡放电通道平衡器件被触发，承受电压过大的一侧，通过均衡放电通道平衡器件向负荷较轻的一侧分流，实现双侧均衡放电，双侧均衡放电技术，有效避免了单一通道放电负荷过大而另一通道负荷较小的放电不平衡问题，显著提升器件的抗静电特性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111294530B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202010100289.X
申请日：2020-02-18
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明属于图像传感器技术领域，公开了一种用于图像传感器的自由亚采样型行逻辑电路及其工作方法。本发明通过开窗译码模块、亚采样状态标识模块、LATCH阵列、全局控制器及成像控制逻辑模块完成对图像传感器像元行的控制；支持多种曝光模式；通过像元阵列的亚采样标识，实现超大规模像元阵列的全面阵自由亚采样；通过地址标识及亚采样指针链的设计，支持开窗范围内的小区域亚采样标记；支持亚采样一键关断；通过时钟门控设计，令亚采样标识与像元成像工作频率不同，实现亚采样快速标定。设计结构简单、配置灵活、适用范围广、支持复用拼接，可应用于不同类型的图像传感器芯片电路。
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公开(公告)号：CN111757033A
公开(公告)日：2020-10-09
申请号：CN202010613941.8
申请日：2020-06-30
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于CMOS图像传感器的列读出电路校准系统及方法，通过在CMOS图像传感器上集成与有效列读出电路通过选通开关并联的校准列读出电路；利用有效列读出电路的读出数据判断CMOS图像传感器上有效列读出电路列的失效情况；通过校准列读出电路获取CMOS图像传感器上校准列读出电路的读出数据，根据校准列读出电路的读出数据判断校准列读出电路列的失效情况；利用校准列读出电路的有效列电路替换有效列读出电路的失效列电路，实现CMOS图像传感器的列读出电路校准，通过测试确定有效列读出电路中失效列，利用校准列读出电路实现失效列校准，可有效降低坏列影响，提升电路成品率。
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公开(公告)号：CN118714474A
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN202410754751.6
申请日：2024-06-12
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种应用于CMOS图像传感器的读出电路及控制方法，属于CMOS图像传感器领域，包括：像素信号采样模块、采样保持读出模块和模数转换模块，像素信号采样模块采集每行像元的复位信号和光电信号；采样保持读出模块包括MOS电容将像素信号采样模块所采集的每行像元的复位信号和光电信号以高帧频模式或低噪声模式的工作方式分别存储至不同的MOS电容；模数转换模块将MOS电容中存储的复位信号和光电信号进行模数转换得到数字码。本发明能够解决现有技术的读出噪声较大的问题。
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公开(公告)号：CN116567441A
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202310179255.8
申请日：2023-02-28
Applicant: 西安微电子技术研究所
Abstract: 本发明提供一种面向品拼接工艺的可复用版图和拼接补偿校准装置，包括多级依次连接的拼接块，每一级拼接块一一对应连接有斜坡生成补偿电路，斜坡生成补偿电路连接有A/D转换电路；拼接块中均排列设置有多级电路组，每级电路组中包括两根信号电路；拼接块中的首级电路组接入对应的斜坡生成补偿电路组，仅其余级电路组与下一级拼接块的多级电路组依次连接，且首级拼接块之后的所有拼接块的多级电路组接入信号的数量逐级递减；本申请每一级拼接块为可复用版图，通过可复用版图将光刻版数目降低为一套，有效解决了超大面阵图像传感器采用多套光刻版的高成本问题，以及不同拼接块之间的工艺差异问题，同时，斜坡生成补偿电路能够大幅优化成像质量。
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公开(公告)号：CN110190833B
公开(公告)日：2023-02-07
申请号：CN201910592633.9
申请日：2019-07-03
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: H03K3/013 , H03K3/3562
Abstract: 本发明公开了一种抗单粒子翻转的自检测自恢复同步复位D触发器，D触发器的时钟信号输入电路分别与时钟信号输入端C、自检测自恢复同步复位主锁存器和自检测自恢复同步复位从锁存器连接，能够产生一个与时钟信号输入端C逻辑状态相反和相同的输出信号CN、CP；SEU监测电路分别与自检测自恢复同步复位主锁存器及自检测自恢复同步复位从锁存器连接；自检测自恢复同步复位主锁存器分别与数据信号输入端D、复位信号输入端RN及自检测自恢复同步复位从锁存器连接；自检测自恢复同步复位从锁存器与输出电路连接；输出电路与第一输出端Q及第二输出端QN连接。本发明触发器状态可控能力强，抗单粒子翻转能力强，工作方式灵活。
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