公开(公告)号：CN113873184B

公开(公告)日：2023-10-17

申请号：CN202111277411.1

申请日：2021-10-29

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 何杰 ,  李婷 ,  曹天娇 ,  袁昕 ,  张曼 ,  徐晚成 ,  崔双韬 ,  李海松 ,  杨靓

IPC: H04N25/76 ,  H04N25/772 ,  H04N17/00

Abstract: 本发明公开了一种图像传感器芯片级ADC修调系统，包括修调控制模块和修调预写入模块，修调控制模块连接修调预写入模块，修调控制模块用于输出控制信号给修调预写入模块，修调预写入模块的修调输出连接到ADC模块的控制端，与ADC模块的各待修正模块连接，用于输出修调控制信号，针对系统修调预写入、电容失配修调、功耗修调和误差修调，可有效弥补工艺偏差失配、工艺角偏离等因素引起的性能参数下降和功耗超差、提升ADC的关键动态和静态参数，具有很高的实用性。

公开(公告)号：CN113992871B

公开(公告)日：2023-11-24

申请号：CN202111277400.3

申请日：2021-10-29

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 何杰 ,  李婷 ,  曹天娇 ,  袁昕 ,  徐晚成 ,  张曼 ,  崔双韬 ,  李海松 ,  杨靓

IPC: H04N25/76 ,  H04N25/78 ,  H03M1/00 ,  H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种用于CMOS图像传感器芯片级ADC的双位移位校正系统，包括依次连接的SH电路、多级串联的编码器电路和flash ADC电路，SH电路用于电荷分享或者电容翻转结构实现，每级编码器电路输出4位数字码，含两位校正码；根据电容的电荷守恒原理，采用电荷分享采样技术，实现了双位移位校正功能，每级4bit输出，两位校正算法，级间闭环增益只有4倍，采用非交叠时钟控制，前级采样，后级放大输出，流水线工作，降低了级间闭环增益，降低了后级量化范围，提升了校正区间，对于ADC的整体性能提升具有显著效果。采用多级串联的编码器电路，可有效降低系统功耗、提升量化输入摆幅并极大提升SFDR等关键动态参数，具有很高的实用性。

公开(公告)号：CN113992871A

公开(公告)日：2022-01-28

申请号：CN202111277400.3

申请日：2021-10-29

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 何杰 ,  李婷 ,  曹天娇 ,  袁昕 ,  徐晚成 ,  张曼 ,  崔双韬 ,  李海松 ,  杨靓

IPC: H04N5/374 ,  H04N5/378 ,  H03M1/00 ,  H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种用于CMOS图像传感器芯片级ADC的双位移位校正系统，包括依次连接的SH电路、多级串联的编码器电路和flash ADC电路，SH电路用于电荷分享或者电容翻转结构实现，每级编码器电路输出4位数字码，含两位校正码；根据电容的电荷守恒原理，采用电荷分享采样技术，实现了双位移位校正功能，每级4bit输出，两位校正算法，级间闭环增益只有4倍，采用非交叠时钟控制，前级采样，后级放大输出，流水线工作，降低了级间闭环增益，降低了后级量化范围，提升了校正区间，对于ADC的整体性能提升具有显著效果。采用多级串联的编码器电路，可有效降低系统功耗、提升量化输入摆幅并极大提升SFDR等关键动态参数，具有很高的实用性。

公开(公告)号：CN113873184A

公开(公告)日：2021-12-31

申请号：CN202111277411.1

申请日：2021-10-29

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 何杰 ,  李婷 ,  曹天娇 ,  袁昕 ,  张曼 ,  徐晚成 ,  崔双韬 ,  李海松 ,  杨靓

IPC: H04N5/374 ,  H04N5/3745 ,  H04N17/00

Abstract: 本发明公开了一种图像传感器芯片级ADC修调系统，包括修调控制模块和修调预写入模块，修调控制模块连接修调预写入模块，修调控制模块用于输出控制信号给修调预写入模块，修调预写入模块的修调输出连接到ADC模块的控制端，与ADC模块的各待修正模块连接，用于输出修调控制信号，针对系统修调预写入、电容失配修调、功耗修调和误差修调，可有效弥补工艺偏差失配、工艺角偏离等因素引起的性能参数下降和功耗超差、提升ADC的关键动态和静态参数，具有很高的实用性。