一种双像元同时输出高响应率线阵CMOS图像传感器和方法

    公开(公告)号:CN115567787A

    公开(公告)日:2023-01-03

    申请号:CN202211167289.7

    申请日:2022-09-23

    Abstract: 本发明公布了一种双像元同时输出高响应率线阵CMOS图像传感器和方法,包括第一像元阵列和第二像元阵列;第一像元阵列的像元面积大于第二像元阵列的像元面积;第一像元阵列和第二像元阵列连接可编程增益放大器,可编程增益放大器连接列缓冲驱动电路的一端,列缓冲驱动电路的另一端连接多级高速控制开关的一端,多级高速控制开关的另一端连接模拟列逻辑控制电路的一端,模拟列逻辑控制电路的另一端分别连接单斜式列级并行ADC和芯片级pipeline ADC;单斜式列级并行ADC连接数字列逻辑;芯片级pipeline ADC和数字列逻辑均连接多通道高速LVDS接口模块。可简单有效的提升线阵CIS的响应率,且具有其它线阵CIS不具备的双成像功能。

    一种低功耗CMOS图像传感器结构及其实现方法

    公开(公告)号:CN114885108A

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN202210550326.6

    申请日:2022-05-20

    Abstract: 本发明公开了一种低功耗CMOS图像传感器结构及其实现方法,包括像元阵列、采样放大单元、比较单元、DAC码值产生器、DAC斜坡产生器、寄存处理单元和输出电路单元;对像元阵列的模拟信号采样放大后得到输入信号,将其传输至比较单元一输入端,DAC码值产生器的数字码值传输至DAC斜坡产生器,将斜坡信号传输至比较单元另一输入端,斜坡信号大于输入信号时,比较单元产生翻转信号,寄存处理单元存储此时的数字码值,对其进行处理后,将结果输出。码值产生器兼具数码产生和计数功能,避免传统计数器在A/D转换时产生大量翻转和计数,有效降低图像传感器整体功耗和由于高功耗而产生的热量聚集现象,提升了温度敏感型图像传感器性能。

    一种通用型低功耗片上负压产生电路

    公开(公告)号:CN120016824A

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202510227092.5

    申请日:2025-02-27

    Abstract: 本发明属于模拟集成电路设计技术领域,具体涉及一种通用型低功耗片上负压产生电路,本发明主要包括包括负压电荷泵产生模块、环形振荡器、第一电容、第二电容和低通滤波器;不需要基准电压、反馈网络、非交叠时钟及复杂的振荡电路,通过反相器互联产生振荡输出,输出频率不影响负压电荷泵输出值;通过多路选通二极管阵列,将幅值介于二极管阈值电压和‑vdd之间的周期信号转化为较为稳定的负压信号;然后通过低通滤波,给运算放大器提供一个稳定的负压地。

    一种触发型CMOS图像传感器及其实现方法

    公开(公告)号:CN119946459A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202510004210.6

    申请日:2025-01-02

    Abstract: 本发明涉及图像传感器技术领域,具体涉及一种触发型CMOS图像传感器及其实现方法;所述控制电路包括用于输出光电信号的输出电路和用于输入光电信号的读出电路,所述输出电路包括复位管S4、传输管S5、输出管S6、源跟随管S10、比较单元、开关S8、开关S7以及光电信号存储电容;本发明采用像素级光电信号存储和比较方式,确定后一次图像与前一次图像在单个像素的上变化情况,对变化信号进行量化并标识位置信息,极大的缩短了量化和处理时间,大幅降低了功耗和提升了帧频,对目标检测、跟踪、边境监测等事件发现应用场景具有重要的意义。

    一种用于CMOS图像传感器芯片级ADC的双位移位校正系统

    公开(公告)号:CN113992871B

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202111277400.3

    申请日:2021-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种用于CMOS图像传感器芯片级ADC的双位移位校正系统,包括依次连接的SH电路、多级串联的编码器电路和flash ADC电路,SH电路用于电荷分享或者电容翻转结构实现,每级编码器电路输出4位数字码,含两位校正码;根据电容的电荷守恒原理,采用电荷分享采样技术,实现了双位移位校正功能,每级4bit输出,两位校正算法,级间闭环增益只有4倍,采用非交叠时钟控制,前级采样,后级放大输出,流水线工作,降低了级间闭环增益,降低了后级量化范围,提升了校正区间,对于ADC的整体性能提升具有显著效果。采用多级串联的编码器电路,可有效降低系统功耗、提升量化输入摆幅并极大提升SFDR等关键动态参数,具有很高的实用性。

    一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器

    公开(公告)号:CN112992863B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN202110222735.9

    申请日:2021-02-26

    Abstract: 本发明提供了一种覆盖可见光波段和红外波段的光电探测器,包括光电探测器本体,所述光电探测器本体包括靠近光线由顶至底设置的第一晶圆、第二晶圆和第三晶圆;所述第一晶圆、第二晶圆和第三晶圆依次叠加设置;所述第一晶圆上装配有若干个可见光像元和读出电路;所述第二晶圆上装配有若干个红外读出电路;所述第三晶圆上装配有若干个红外像元阵列;第一晶圆与第二晶圆硅片键合设置,所述第三晶圆通过第一晶圆与第二晶圆硅片键合后互联设置,实现可见光波段图像和红外波段图像的探测,该光电探测器结构简单,操作方便,便于在复杂的光照条件下进行成像,满足星体追踪,目标识别,深空探测等多领域的应用需求。

    一种埋层沟道背照式抗辐照像元加固结构和制备方法

    公开(公告)号:CN114937677A

    公开(公告)日:2022-08-23

    申请号:CN202210688398.7

    申请日:2022-06-17

    Abstract: 本发明公开了一种埋层沟道背照式抗辐照像元加固结构和制备方法,包括外延层;外延层上刻蚀形成STI槽,外延层上进行阱注入形成STI阱注入区与传输管阱注入区,STI槽设置在STI阱注入区中;外延层上通过离子注入分别依次形成P埋层注入区、N埋层沟道注入区和传输管阈值调整注入区;P埋层注入区与传输管阱注入区相连接;外延层的下表面淀积有栅氧化层和多晶硅栅极;外延层通过自对准注入工艺分别形成N型PD注入区、N型FD注入区和P型钳位层注入区;FD注入区的下表面淀积有FD欧姆接触金属形成欧姆接触;外延层的下表面外侧淀积有钝化层。使实际的光电子传输沟道与栅氧化层/半导体界面分离,提升像元的抗辐照能力。

    一种超大面阵红外图像传感器的成像均匀度的校准装置及方法

    公开(公告)号:CN115842965A

    公开(公告)日:2023-03-24

    申请号:CN202211230357.X

    申请日:2022-09-30

    Abstract: 本发明公开了一种超大面阵红外图像传感器的成像均匀度的校准装置及方法,属于红外图像传感器成像领域。本发明通过优化Gpol信号的传输方向,补偿地电平的浮地效应,通过二者的逆向传输,实现Gpol信号和地电平电压变化趋势一致的目标;另一方面,通过差异监测机制,检测Gpol信号和地电平的电压差异,通过配置Gpol信号的对地漏电二极管级联数目,调整Gpol信号从中间到两侧的压降程度,达到Gpol信号和地电平电压变化趋势相同且幅值一致的目标,保证Gpol信号与地电平之间的压差恒定,实现高均匀成像。本发明有效解决了传统图像传感器由于大面阵浮地效应而引起的Gpol信号和地电平压差异不恒定问题。

    一种CMOS图像传感器的双模式精细增益配置装置及方法

    公开(公告)号:CN114051107A

    公开(公告)日:2022-02-15

    申请号:CN202111264687.6

    申请日:2021-10-28

    Abstract: 本发明提供一种CMOS图像传感器的双模式精细增益配置装置及方法,可变采样电容阵列输入侧连接采样信号,输出侧连接反馈运算阵列,实现多种倍数的增益补偿,配合可变反馈电容和恒定反馈电容,能够显示1以下倍数的增益补偿,解决了现有增益配置的步进粗和仅支持正向配置的缺陷,实现精细步进增益和正负增益双向调整,根据实际情况增加可变采样电容阵列中开关电容的数量进而能够实现更高倍数的增益补偿,提高了通用性和精度;本方法,满足高质量成像对光线微弱变化的增益校准需求,提出增益校准算法流程,根据图像输出实际灰度值,通过对比本发明中真值表,确定增益校准配置和校准方法,步骤简单,可快速选择需要得可变采样电容阵列,实现增益补偿。

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