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公开(公告)号：CN106584975A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201611105403.8
申请日：2016-12-05
Applicant: 复旦大学
CPC classification number: Y02E10/40 , B32B9/041 , B32B15/20 , B32B17/061 , B32B2250/05 , B32B2307/30 , B32B2307/40 , B32B2551/00 , F24S70/10 , F24S70/12 , F24S70/16
Abstract: 本发明公开了一种红外增强的宽带光热转换薄膜器件，第一层为防反射的保护层，采用透明介质膜；第二层为光吸收层，采用过渡金属膜；第三层为光学振幅和位相匹配层，采用透明介质膜；第四层为光吸收层，采用过渡金属膜；第五层为光学振幅和位相匹配层，采用透明介质膜；第六层为光吸收层，采用过渡金属膜；第七层为光学振幅和位相匹配层，采用透明介质膜；第八层为高反射层，采用完全非透明的高反射金属膜；第一层到第八层厚度的选择依据各膜层的光学常数，在250‑2000nm波长区，满足的高吸收条件为：(R+T)≤5％,AX≥95％,R+T+AX＝1。通过结构参数的最优化计算，能够在250－2000nm波长区，实现光子能量被转换为热能的光吸收率Ax超过95％。
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公开(公告)号：CN100549245C
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200610118916.2
申请日：2006-11-30
Applicant: 复旦大学
CPC classification number: Y02P20/125
Abstract: 本发明属于纳米光电材料技术领域，具体为一种电子束蒸发制备硅纳米晶的方法。传统的硅纳米晶的制备方法包括电化学腐蚀法、离子注入法、溅射法、化学气相沉积法，以及热蒸发法等。本发明采用电子束蒸发生长SiOx/SiO2(1＜x＜2)超晶格多层膜结构，其中SiOx层和SiO2层将分别蒸发SiO粉末源材料和SiO2源材料而得到，然后在高温氮气环境中退火，从而获得SiO2基体中尺寸大小可控、且均匀分布的硅纳米晶。薄膜中硅纳米晶的尺寸大小、尺寸分布和硅纳米晶的密度可以独立控制，而且硅纳米晶在薄膜样品中的位置以及样品的超晶格周期也可以任意设计。本发明所涉及与成熟的Si基光电子集成工艺相兼容，为将来的器件研制打下基础。
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公开(公告)号：CN1664561A
公开(公告)日：2005-09-07
申请号：CN200510024432.7
申请日：2005-03-17
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明是一种新型快速椭圆偏振光测量系统。在传统光度式椭圆偏振光测量仪结构中，需采用机械转动方式控制起偏器或检偏器来进行光偏振态的方位角扫描。由于机械转动的速度有限，大大限制了椭圆偏振光测量的检测速度。本发明采用组合检偏器和二维CCD阵列探测器结构配置的椭圆偏振测试系统来快速获取材料的光学参数。由于采用组合偏振器代替传统的旋转偏振器来获得傅立叶分析所要求的采样点数目，并采用二维CCD阵列探测器来并行探测各偏振态的光信号。在测试过程中，系统无须转动任何机械部件，因此可以使各类材料光学参数的测量速度大幅度提高。
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公开(公告)号：CN114911989B
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202210468082.7
申请日：2022-04-29
Applicant: 复旦大学 , 中山市小兀照明科技有限公司 , 中山复旦联合创新中心
IPC: G06F16/904 , G01J1/42
Abstract: 本申请提供了一种紫外光可视化表征方法、装置及计算机可读存储介质，该方法包括：将光敏材料相应激发光的第一色度与预设参考光的第二色度进行混合，得到混合色度，其中，激发光通过预设紫外光激发光敏材料得到；基于混合色度计算激发光对应的激发光强度；基于混合色度与激发光强度的第一映射关系以及预设的紫外光强度与激发光强度的第二映射关系，确定混合色度与紫外光强度的第三映射关系；对第三映射关系进行可视化表征。通过本申请方案的实施，对紫外光强度进行可视化表征，通过受紫外光激发所发出的色彩即可明确表征紫外光强度，也即实现了紫外光强度的可视化，有效保证了紫外光的使用安全性。
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公开(公告)号：CN114911989A
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202210468082.7
申请日：2022-04-29
Applicant: 复旦大学 , 中山市小兀照明科技有限公司 , 中山复旦联合创新中心
IPC: G06F16/904 , G01J1/42
Abstract: 本申请提供了一种紫外光可视化表征方法、装置及计算机可读存储介质，该方法包括：将光敏材料相应激发光的第一色度与预设参考光的第二色度进行混合，得到混合色度，其中，激发光通过预设紫外光激发光敏材料得到；基于混合色度计算激发光对应的激发光强度；基于混合色度与激发光强度的第一映射关系以及预设的紫外光强度与激发光强度的第二映射关系，确定混合色度与紫外光强度的第三映射关系；对第三映射关系进行可视化表征。通过本申请方案的实施，对紫外光强度进行可视化表征，通过受紫外光激发所发出的色彩即可明确表征紫外光强度，也即实现了紫外光强度的可视化，有效保证了紫外光的使用安全性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113720456A
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN202111020539.X
申请日：2021-09-01
Applicant: 复旦大学 , 中山复旦联合创新中心
Abstract: 本发明公开了一种V型投影光路消慧差光栅光谱仪，包括依光的传播方向依次设置于光路上的入射狭缝S1、光栅G、入射球面反射镜M1、聚焦球面反射镜M2和出射狭缝S2，通过将入射狭缝S1和出射狭缝S2分别布设在光栅G两侧，且由入射狭缝S1和入射球面反射镜M1形成的入射同轴光路与光栅G和聚焦球面反射镜M2形成的衍射同轴光路，在衍射面内的投影形成V型结构，在对光栅的方位角进行全波长扫描的光谱区，与光栅扫描方位角无关，不依赖于光栅的扫描旋转角，从而有效克服了慧差缺陷在光谱仪应用中对光谱分辨率的影响，实现了全光谱区的高分辨率检测和分析，具有实际推广应用价值。
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公开(公告)号：CN112903598B
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202110084277.7
申请日：2021-01-21
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种椭偏测量系统中偏振元件方位角的差分光谱定标方法。本发明的原理是对由起偏器出射的两束偏振方向相互垂直的线偏光，经过已知介电函数谱的样品后，其反射椭偏光的椭圆方位角的进行差分光谱分析，准确地获得起偏器方位角的位置。其中通过可旋转检偏器以及光栅光谱仪，对550‑650 nm光谱范围内的200个以上的波长点，完成差分光谱数据的采集，分析确定偏振元件方位角的位置，完成定标过程。本发明通过Si和Au体材料的测试验证；克服了传统定标方法对反射材料光学常数的精确度、探测器光强灵敏度要求较高，稳定性较差等缺点，能快速准确地完成椭偏测量系统中偏振元件方位角的定标。
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公开(公告)号：CN101819151A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN201010153460.X
申请日：2010-04-22
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体公开了一种主动式大气光谱快速获取系统。该系统将脉冲高压加在电离室中的金属针上，将气体样品电离而发光，光经透镜系统聚焦后，通过可调狭缝，被平面镜M1反射到柱形凹面镜M2后成为平行光，再入射到由多光栅组成的复合光栅G上；调节各子光栅的方位角，使各子衍射光谱区落在相同的衍射张角内，再反射至组合式柱面镜M3，在入射面内沿波长分布方向对光谱线进行聚焦，成像在探测器D的受光面上；最后由探测器将探测到的光信号转换为电信号，由数据采集卡送到计算机内进行数据处理，从而快速获得气体样品的发射光谱。
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公开(公告)号：CN111693561B
公开(公告)日：2023-02-10
申请号：CN202010471013.2
申请日：2020-05-28
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明涉及一种纳米材料燃点测量方法及测量系统，所述测量方法包括以下步骤：1)利用变温椭圆偏振光谱仪在单波长和单角度下测量不同温度下纳米材料的P光、S光的复反射率比值ρ，进而获得两个椭偏参数ψ与Δ；2)基于步骤1)获得椭偏参数ψ、Δ随温度的变化谱；3)基于所述变化谱上的突变点确定纳米材料的相变点；4)根据每一所述相变点前后物质的变化情况，判断所述相变点是否为燃点，从而测量获得纳米材料的最终燃点。与现有技术相比，本发明具有无接触、快速、可靠性高等优点。
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