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公开(公告)号:CN120044715A
公开(公告)日:2025-05-27
申请号:CN202411888989.4
申请日:2024-12-20
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
Abstract: 光子耦合器可包括第一输入波导、第二输入波导、第一输出波导、第二输出波导、耦合区,其中耦合区中的第一输入波导、第二输入波导、第一输出波导、与第二输出波导中的两者或更多者相关的电磁场彼此重叠、以及电光装置位于耦合区中且包括折射率,且折射率为施加电压的第一函数。耦合区沿着光学传播方向可包括有效耦合长度,且有效耦合长度为耦合区的物理长度与电光装置的折射率的乘积的第二函数。由于渐逝耦合,可调整施加至光子耦合器的电压以控制输入波导与输出波导之间传输的电磁能的混合比例。本公开还涉及到光子耦合器的形成方法以及一种光子装置。
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公开(公告)号:CN120015738A
公开(公告)日:2025-05-16
申请号:CN202510078017.7
申请日:2025-01-17
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L23/538 , H01L21/768 , H10B12/00
Abstract: 在实施例中,半导体器件可以包括中介层。半导体器件也可以包括直接接合至中介层的多个小芯片。器件可以进一步包括直接接合至与多个小芯片相邻的中介层的多个中介层管芯,多个中介层管芯具有衬底通孔。器件可以额外包括位于多个中介层管芯中的至少一个上方并且接合至多个中介层管芯中的至少一个的存储器封装件。本申请的实施例涉及半导体器件及其形成方法。
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公开(公告)号:CN109727966A
公开(公告)日:2019-05-07
申请号:CN201810735769.6
申请日:2018-07-06
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
Abstract: 本发明实施例涉及一种半导体封装及其制作方法。半导体封装包含:互连结构,其具有第一表面及与所述第一表面相对的第二表面;至少一个光学芯片,其在所述互连结构的所述第一表面上方且电耦合到所述互连结构;绝缘层,其接触所述互连结构的所述第二表面;及模塑料,其在所述互连结构的所述第一表面上方。所述绝缘层包含面向所述互连结构的所述第二表面的第三表面及与所述第三表面相对的第四表面。通过所述模塑料覆盖所述光学芯片的至少一边缘。
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公开(公告)号:CN103855458B
公开(公告)日:2016-06-22
申请号:CN201310080407.5
申请日:2013-03-13
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
CPC classification number: H01Q9/0407 , H01L21/568 , H01L24/19 , H01L24/97 , H01L2223/6677 , H01L2224/12105 , H01L2224/8203 , H01L2224/9222 , H01L2924/18162 , H01Q1/38
Abstract: 一种器件包括贴片天线,该贴片天线包括馈线和位于馈线上方的接地板。接地板具有位于其中的孔。低k介电模块位于孔的上方并且与孔对准。贴片位于低k介电模块的上方。本发明还提供了在天线中嵌入低K材料。
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公开(公告)号:CN103855458A
公开(公告)日:2014-06-11
申请号:CN201310080407.5
申请日:2013-03-13
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
CPC classification number: H01Q9/0407 , H01L21/568 , H01L24/19 , H01L24/97 , H01L2223/6677 , H01L2224/12105 , H01L2224/8203 , H01L2224/9222 , H01L2924/18162 , H01Q1/38
Abstract: 一种器件包括贴片天线,该贴片天线包括馈线和位于馈线上方的接地板。接地板具有位于其中的孔。低k介电模块位于孔的上方并且与孔对准。贴片位于低k介电模块的上方。本发明还提供了在天线中嵌入低K材料。
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公开(公告)号:CN220106537U
公开(公告)日:2023-11-28
申请号:CN202321270940.3
申请日:2023-05-24
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
Abstract: 一种半导体结构包括:逻辑管芯;存储器管芯堆叠,藉由第一氧化物结合件结合至逻辑管芯,且包括藉由第一直接结合件结合于一起的第一对存储器管芯;以及第一硅穿孔(TSV),位于逻辑管芯中且延伸穿过第一氧化物结合件且将逻辑管芯电性连接至第一对存储器管芯。
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公开(公告)号:CN220753425U
公开(公告)日:2024-04-09
申请号:CN202321890177.4
申请日:2023-07-18
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L23/538 , H01L25/00
Abstract: 一种封装体结构,包括:一第一芯片结构以及位于第一芯片结构旁侧的一第二芯片结构。封装体结构也包括位于第一芯片结构及第二芯片结构上,并接触第一芯片结构及第二芯片结构的一内连线结构。内连线结构具有多个介电层及多个导电特征部件。导电特征部件的其中一者延伸跨越第一芯片结构的一第一边缘及第二芯片结构的一第二边缘,且电性连接第一芯片结构及第二芯片结构。封装体结构也包括一第三芯片结构,第三芯片结构通过介电质对介电质接合及金属对金属接合直接接合至内连线结构。
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