一种AZO透明栅极薄膜晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN108649074A

    公开(公告)日:2018-10-12

    申请号:CN201810354086.6

    申请日:2018-04-19

    Abstract: 本发明属于显示器件领域,公开了一种AZO透明栅极薄膜晶体管及其制备方法。将基底清洗,烘干预处理后通过脉冲激光沉积制备AZO栅极;在AZO栅极上使用射频磁控溅射沉积制备Al2O3栅极绝缘层;在栅极绝缘层上使用脉冲直流磁控溅射沉积IGZO半导体层;使用射频磁控溅射在半导体层上沉积Al2O3半导体修饰层;在300~350℃的温度下,对器件进行热退火处理;使用直流溅射沉积Al源漏电极,得到AZO透明栅极薄膜晶体管。本发明通过激光脉冲沉积制备AZO栅极,在降低薄膜电阻率的同时且兼有优良的透明度,极大地提高了TFT的器件性能。

    一种基于少层氧化亚锡的场效应晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN109524469A

    公开(公告)日:2019-03-26

    申请号:CN201811219278.2

    申请日:2018-10-19

    Abstract: 本发明属于晶体管技术领域,公开了一种基于少层氧化亚锡的场效应晶体管及其制备方法。将尺寸大于200μm的大尺寸氧化亚锡晶体均匀洒在胶带上,通过胶带反复撕揭的机械剥离法剥离少层氧化亚锡晶体,然后转移到干净的硅片衬体上;在硅片衬体上旋涂一层电子束光刻胶,然后通过电子束光刻的方法得到源、漏电极图形,通过电子束蒸镀源、漏电极,得到基于少层氧化亚锡的场效应晶体管。本发明将少层氧化亚锡作为半导体有源层应用于场效应晶体管,并采用电子束光刻技术制备源、漏电极,具有操作可控性强,实验精度高的优点,有源层与源、漏电极之间的接触会很致密,可以有效改善场效应晶体管的性能。

    一种少层单晶氧化亚锡及其制备方法与应用

    公开(公告)号:CN109402735A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201811062169.4

    申请日:2018-09-12

    Abstract: 本发明属于场效应晶体管技术领域,具体涉及一种少层单晶氧化亚锡及其制备方法与应用。所述少层单晶氧化亚锡的制备方法包括以下步骤:以晶粒尺寸大于100μm的三维单晶氧化亚锡为原料,将其均匀洒在胶带的一部分上;将胶带中洒有所述三维单晶氧化亚锡的部分与空白部分对折挤压,然后撕开,重复所述对折挤压和撕开操作直至得到所述少层单晶氧化亚锡。所述少层单晶氧化亚锡可用于制备场效应晶体管。本发明采用的方法实验操作简单,所需的药品以及实验仪器都是普通常见的,不需要作特殊处理。并且所制得的少层单晶SnO不易受到污染,形状规则,可以有效改善场效应晶体管的性能。

    一种热蒸发制备二氧化锡晶体的方法

    公开(公告)号:CN109553126B

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN201910002046.X

    申请日:2019-01-02

    Abstract: 本发明属于半导体材料领域,公开了一种热蒸发制备二氧化锡晶体的方法。以SnO作为源材料,放置于管式炉中心加热区,将洗净的表面掺二氧化硅的硅片作为衬体,放置在距源材料12~20cm处;将管式炉内抽真空,然后通入Ar气;加热管式炉中心加热区温度为600~1200℃进行热蒸发沉积,在衬体上得到二氧化锡晶体。本发明的制备方法简单,所需的药品以及实验仪器都是普通常见的,不需要作特殊处理。并且所制得的方形二氧化锡晶体不易受到污染,形状规则。

    一种基于少层氧化亚锡的场效应晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN109524469B

    公开(公告)日:2021-07-20

    申请号:CN201811219278.2

    申请日:2018-10-19

    Abstract: 本发明属于晶体管技术领域,公开了一种基于少层氧化亚锡的场效应晶体管及其制备方法。将尺寸大于200μm的大尺寸氧化亚锡晶体均匀洒在胶带上,通过胶带反复撕揭的机械剥离法剥离少层氧化亚锡晶体,然后转移到干净的硅片衬体上;在硅片衬体上旋涂一层电子束光刻胶,然后通过电子束光刻的方法得到源、漏电极图形,通过电子束蒸镀源、漏电极,得到基于少层氧化亚锡的场效应晶体管。本发明将少层氧化亚锡作为半导体有源层应用于场效应晶体管,并采用电子束光刻技术制备源、漏电极,具有操作可控性强,实验精度高的优点,有源层与源、漏电极之间的接触会很致密,可以有效改善场效应晶体管的性能。

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