一种微球旋转夹持装置
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108362257A

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201810470517.5

    申请日:2018-05-17

    Abstract: 本发明公开了一种微球旋转夹持装置,主要解决现有原子力显微镜测量范围小,满足不了微球的全表面测量的技术问题。本发明技术方案为:一种微球旋转夹持装置,由X轴旋转夹持端、Y轴旋转夹持端、X向微移动平台及Y向微移动平台组成;所述的X轴旋转夹持端与Y轴旋转夹持端分别通过螺钉固定于Y向微移动平台、X向微移动平台。本发明可以实现微球的夹持,并可以将微球按一定的规律旋转一定的角度进行测量,以扩大原子力显微镜在微球表面的测量范围。

    一种应用于仪器的防护外罩

    公开(公告)号:CN105387882A

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:CN201510759877.3

    申请日:2015-11-10

    CPC classification number: G01D11/26

    Abstract: 本发明公开了一种应用于仪器的防护外罩,包括:一罩体,设于支撑所述仪器的隔振平台外围且与该隔振平台刚性连接;和一半圆弧形顶罩,可开合地罩盖在所述罩体的顶部;其中,所述半圆弧形顶罩具有一弧形后盖和一弧形翻转前盖,并且,该弧形后盖的左侧壁和该弧形翻转前盖的左侧壁于所述圆弧形顶罩的弧心位置铰接,该弧形后盖的右侧壁和该弧形翻转前盖的右侧壁于所述弧心位置铰接。当弧形翻转前盖向后翻转开启时,可扩大仪器的计量测试视野和作业空间,便于仪器的拆装和维修保养。当弧形翻转前盖向前翻转关闭时,罩体、半圆弧形顶罩、以及隔振平台合围形成容纳仪器的封闭空间,能够为仪器提供优良的实验环境。

    一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110726378A

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201911100142.4

    申请日:2019-11-12

    Abstract: 本发明涉及一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置及方法,在利用本发明的一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置对样品表面参数进行测量时,开启激光光源并对X轴四象限光电探测器、Y轴四象限光电探测器、Z轴四象限光电探测器进行校正之后,将测端球沿被测样品的表面接触扫描;测端球通过测针以及中心连接部带动四棱锥反射镜产生位置变化,从而使得四棱锥反射镜的三个反射面反射至X轴四象限光电探测器、Y轴四象限光电探测器、Z轴四象限光电探测器上的光斑产生偏移量;根据光斑所产生的偏移量可以得出测端球与样品表面接触点的X轴方向、Y轴方向、Z轴方向的坐标参数。

    一种微球旋转夹持装置
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108362257B

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN201810470517.5

    申请日:2018-05-17

    Abstract: 本发明公开了一种微球旋转夹持装置,主要解决现有原子力显微镜测量范围小,满足不了微球的全表面测量的技术问题。本发明技术方案为:一种微球旋转夹持装置,由X轴旋转夹持端、Y轴旋转夹持端、X向微移动平台及Y向微移动平台组成;所述的X轴旋转夹持端与Y轴旋转夹持端分别通过螺钉固定于Y向微移动平台、X向微移动平台。本发明可以实现微球的夹持,并可以将微球按一定的规律旋转一定的角度进行测量,以扩大原子力显微镜在微球表面的测量范围。

    一种角度可调的高精度载物台装置

    公开(公告)号:CN112782839A

    公开(公告)日:2021-05-11

    申请号:CN202110201102.X

    申请日:2021-02-23

    Abstract: 本发明涉及的一种角度可调的高精度载物台装置,在本发明的一种角度可调的高精度载物台装置中,底座与载物台之间通过固定支承柱及两个活动支承柱三点支承,通过两个驱动机构分别驱动两个滑动杆使得滑动杆前端的斜坡面将两个顶珠顶起不同高度,从而使得载物台的位姿得以调节,由于滚珠及顶珠均与运动零件滚动摩擦,所以摩擦力小,不会发生窜动,使得载物台的位姿调整顺畅平稳。由此可见,本发明的一种角度可调的高精度载物台装置能够方便地调整载物台的位姿,结构简单,运动平稳顺畅。

    一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110726378B

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN201911100142.4

    申请日:2019-11-12

    Abstract: 本发明涉及一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置及方法,在利用本发明的一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置对样品表面参数进行测量时,开启激光光源并对X轴四象限光电探测器、Y轴四象限光电探测器、Z轴四象限光电探测器进行校正之后,将测端球沿被测样品的表面接触扫描;测端球通过测针以及中心连接部带动四棱锥反射镜产生位置变化,从而使得四棱锥反射镜的三个反射面反射至X轴四象限光电探测器、Y轴四象限光电探测器、Z轴四象限光电探测器上的光斑产生偏移量;根据光斑所产生的偏移量可以得出测端球与样品表面接触点的X轴方向、Y轴方向、Z轴方向的坐标参数。

    用于测量内孔圆柱度的装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN110160464B

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN201910490623.4

    申请日:2019-06-06

    Abstract: 本发明涉及一种用于测量内孔圆柱度的装置及其使用方法,利用本发明的一种用于测量内孔圆柱度的装置对被测工件的被测内孔进行检测时,通过第一检测杆、第二检测杆和第三检测杆在不同测量截面检测得出测量值并计算出被测内孔在测量截面上的圆度误差,并根据每个测量截面处第一检测杆、第二检测杆、第三检测杆以及倾角传感器的测量值计算得出被测内孔中心线的直线度误差,根据所得出的各测量截面上的圆度误差及被测内孔中心线的直线度误差就能够计算得出被测内孔的圆柱度误差。由此可见,本发明的一种用于测量内孔圆柱度的装置及其使用方法能够方便地对工件的内孔参数进行检测。

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