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公开(公告)号:CN107144755A
公开(公告)日:2017-09-08
申请号:CN201710507786.X
申请日:2017-06-28
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种基于光斑的电荷耦合器件电荷转移效率通用测试方法,该方法涉及装置是由静电试验平台、积分球光源、卤钨灯光源、会聚球面镜、样品测试板、电荷耦合器件样品、导轨、三维样品调整台、暗箱、光学准直套筒和计算机组成,将电荷耦合器件样品正对积分球光源出光口,首先进行暗场测试,计算出A、B、C三个通道暗场所有像素位置的灰度值的平均值;再进行亮场测试,计算出三个通道亮场所有像素位置的灰度值的平均值;通过计算得到B、C通道相对于A通道的增益系数;计算暗场条件下样品从三个通道输出的所有像素位置灰度值的平均值;打开卤钨灯光源进行亮场测试,计算样品连同光斑中心在内的25个像元的信号灰度值之和,最后求解出水平转移效率和垂直转移效率。本发明具有通用性,操作简单,结果准确。
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公开(公告)号:CN113568028A
公开(公告)日:2021-10-29
申请号:CN202110842992.2
申请日:2021-07-26
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明提供一种星用辐射剂量传感器的老炼筛选方法,该方法首先对辐射剂量传感器受试样品进行输出转移特性曲线测试,筛选出初值合格的辐射剂量传感器受试样品;其次,对初测合格的受试样品分别是在施加低电场应力同时进行高温应力、高低温循环应力和室温应力三组老炼试验;每组应力试验后,对受试样品的输出转移特性曲线或输出信号进行测试;最后,依据辐射剂量传感器的响应灵敏度,计算出允许的剂量响应参数漂移误差范围,以此判定每组应力试验后受试样品是否通过测试,测试合格的受试样品继续下一组的应力试验,三组应力试验都通过的样品判定为合格;本发明提供的一种对星用辐射剂量传感器进行老炼筛选的方法,在航天领域有广阔的应用前景。
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公开(公告)号:CN108537809A
公开(公告)日:2018-09-14
申请号:CN201810336271.2
申请日:2018-04-16
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于递归算法的图像传感器单粒子效应瞬态亮斑识别方法。该方法通过对图像传感器单粒子效应试验中采集的二维图像建立像素灰度值的二维数组,设置灰度值阈值并在灰度值的二维数组中识别图像背景,将图像背景和瞬态亮斑按灰度值阈值进行二值化,并建立二值化的二维数组;在二值化后的二维数组中逐行查找瞬态亮斑中的亮像素,以首个亮像素为基础,采用递归算法查找瞬态亮斑覆盖的所有像素,准确获得瞬态亮斑覆盖的像素数量。该方法相比于现有的图像传感器单粒子效应瞬态亮斑分析方法,提出了快速准确识别瞬态亮斑数量和瞬态亮斑覆盖像素数量的新方法,可增加提取图像传感器单粒子效应规律特征参数的能力,其推广应用具有重要的应用价值。本发明使用方便,识别结果准确。
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公开(公告)号:CN107273694A
公开(公告)日:2017-10-20
申请号:CN201710507965.3
申请日:2017-06-28
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明涉及一种基于宇宙射线的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法,该方法通过对同一天在轨暗场测试采集到的十幅图进行统计,得到十幅图中宇宙射线轨迹总数,然后统计每条宇宙射线轨迹在图像上经过的列数,找出每条宇宙射线轨迹中灰度值最大的像素,以该像素为中心像素,其上下左右各个方向上的像素灰度值逐渐降低,寻找各方向上像素的灰度值介于图像背景灰度值的1.5倍和中心像素灰度值之间的所有像素即为宇宙射线信号源覆盖的像素。通过计算宇宙射线轨迹上所有像素的平均灰度值、宇宙射线上方信号源像素的灰度值总和以及宇宙射线下方信号源像素的灰度值总和,计算出总的电荷转移损失率,以此求出基于该条宇宙射线的电荷耦合器件的单次电荷转移效率。本发明实时性强,方法简单,计算结果准确。
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公开(公告)号:CN106932174A
公开(公告)日:2017-07-07
申请号:CN201710130429.6
申请日:2017-03-07
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及一种用于焦平面成像器件绝对光谱响应的通用快速测量方法,该方法通过整幅图像输出来计算相对光谱响应,结合校准过的参考探测器,实现焦平面成像器件绝对光谱响应的测量;并以光阑对照射到参考探测器及焦平面成像器件上的光斑进行约束,使测量结果不受光斑形状、对称性、均匀性的影响。该方法相比于现有测量方法,解决了单色光均匀化后光强小、测量适用性差等问题,避免了焦平面局部缺陷对测量结果的影响,并且对测量设备的要求较低。作为一种焦平面绝对光谱响应测量的通用方法,可大大降低测量成本、显著缩短测量时间,其推广应用具有重要的经济效益与应用价值。
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