环形金属密封圈加工工具
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101195181A

    公开(公告)日:2008-06-11

    申请号:CN200710172695.1

    申请日:2007-12-21

    Abstract: 本发明公开了一种环形金属密封圈加工工具,其主要由内切刀、外切刀、脱杆、脱柱、脱环和销钉等组成。内切刀和外切刀为同轴两圆柱体。内切刀刀口的外径尺寸决定金属环的内径。外切刀刀口的内径决定金属环的外径。脱环装置由脱杆、脱柱、脱环和销钉等组成。先将要求厚度的金属片平放的一平台上,将切刀结构的刀口朝下放在金属片上,对内切刀上端面作用力,让切刀切穿金属片。然后让切刀离开平台,用力按下脱杆,脱杆推动脱柱,脱柱上的销钉带动脱环,从而把成型的金属环从切刀结构上取下。本发明结构简单,使用方便,针对其他形状的金属密封环,只需要改变刀口形状,加工的密封环能够与各种结构尺寸的填充槽匹配。

    一种光学材料光谱测试用低温杜瓦

    公开(公告)号:CN103852424A

    公开(公告)日:2014-06-11

    申请号:CN201410020844.2

    申请日:2014-01-17

    Abstract: 本发明公开了一种光学材料光谱测试用低温杜瓦,由内外金属圆筒组成的真空密封容器,在过渡冷头上依次安装杜瓦冷头、测试样品、力学缓冲环和磁性压环组成测试样品固定结构。该结构的优点在于充分利用磁性压环与杜瓦冷头之间的磁性力,将测试样品可靠地固定在杜瓦冷头上,同时力学缓冲环可以很好地缓冲杜瓦冷头和磁性压环之间的磁性力,使杜瓦冷头和测试样品形成良好的热学和力学接触,保持测试样品处于低温,该结构安装和拆卸测试样品简单方便,避免测试样品表面污染和损伤,特别适合于水平光路条件下光学材料的低温透射光谱测试。

    一种用于焦平面探测器的低温杜瓦的冷平台的支撑机构

    公开(公告)号:CN101144738A

    公开(公告)日:2008-03-19

    申请号:CN200710047622.X

    申请日:2007-10-31

    Abstract: 本发明公开了一种用于焦平面探测器的低温杜瓦的冷平台的支撑机构,该支撑机构由细长薄壁圆柱形的支撑柱和四根斜拉式二端带金属小球的金属丝组成。支撑柱置于杜瓦的悬臂式外壳内,支撑柱上支撑一通过焊接固定的冷平台,冷平台的四个角处各联结有一根金属丝,金属丝与冷平台的联接为球面副联结,金属丝的另一端向下斜拉式与螺接在引线环侧壁上的活动定柱球面副联结。所说的螺接其螺钉既是活动定柱与引线环的螺接螺钉,又是对斜拉式金属丝加载预紧力的螺钉,螺钉外套有固定预紧力的螺帽。本发明的优点是:该支撑机构克服了传统冷平台支撑结构在力学上弊端,保证探测器始终位于光学系统焦面的允许误差范围内。斜拉金属丝与活动定柱和冷平台采用球面副联结,当受到外界连续冲击扰动时,连接处可以自由活动,不会产生疲劳硬伤而断裂。

    光学材料光谱测试用低温杜瓦

    公开(公告)号:CN203772724U

    公开(公告)日:2014-08-13

    申请号:CN201420028315.2

    申请日:2014-01-17

    Abstract: 本实用新型公开了一种光学材料光谱测试用低温杜瓦,由内外金属圆筒组成的真空密封容器,在过渡冷头上依次安装杜瓦冷头、测试样品、力学缓冲环和磁性压环组成测试样品固定结构。该结构的优点在于充分利用磁性压环与杜瓦冷头之间的磁性力,将测试样品可靠地固定在杜瓦冷头上,同时力学缓冲环可以很好地缓冲杜瓦冷头和磁性压环之间的磁性力,使杜瓦冷头和测试样品形成良好的热学和力学接触,保持测试样品处于低温,该结构安装和拆卸测试样品简单方便,避免测试样品表面污染和损伤,特别适合于水平光路条件下光学材料的低温透射光谱测试。

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