一种可变光阑孔径反馈装置

    公开(公告)号:CN103412390A

    公开(公告)日:2013-11-27

    申请号:CN201310326651.5

    申请日:2013-07-30

    Abstract: 本发明公开了一种可变光阑孔径反馈装置,在可变光阑支架上依次安装环形变阻器、过渡环、可变光阑、超声电机定子、超声电机转子和固定环组成带孔径反馈功能的可变光阑。该结构采用超声电机驱动过渡环,过渡环改变可变光阑孔径,同时带动环形变阻器阻值改变,环形变阻器的阻值与可变光阑孔径对应,实时反馈可变光阑的孔径大小变化信息。该结构的优点在于利用环形变阻器阻值改变及时反馈可变光阑孔径大小变化信息,结构简单可靠,避免电机掐位不准带入的误差和传统复杂的光学定位结构,同时该结构可以应用于各种手动或电动的可变光阑的实时精确定位。

    一种带真空检测的测试杜瓦

    公开(公告)号:CN103900700A

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201410120683.4

    申请日:2014-03-28

    Abstract: 本发明公开了一种带真空检测的测试杜瓦,由金属材料的杜瓦内筒、杜瓦外筒和杜瓦窗口帽组成的真空密封容器,在杜瓦窗口帽上焊接真空检测阀,真空检测阀耦合真空计,从而实现杜瓦真空检测。该结构杜瓦的优点在于充分利用测试杜瓦的窗口帽和杜瓦不是一体的结构,将常规的窗口帽拆下,更换为带真空检测功能的窗口帽,实现测试杜瓦的真空和真空保持时间测试。该结构杜瓦可以在不改变常规测试杜瓦结构的基础上,实现测试杜瓦真空和真空保持时间的测试,并且安装和拆卸简单方便,特别适合测试杜瓦的真空检测验收。

    一种红外探测器微型杜瓦组件性能测试用排气装置

    公开(公告)号:CN101408461B

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200810203389.4

    申请日:2008-11-26

    Abstract: 本发明公开了一种红外探测器微型杜瓦组件性能测试用排气装置,其结构主要由微型吸附泵、双通二位快速转换真空阀门,过渡管、高气密真空对接接头、红外探测器杜瓦组件组成。本发明是利用低温介质对无电源微型吸附泵内的活性炭进行制冷,低温下的活性炭对红外探测器杜瓦组件进行排气,双通二位快速转换真空阀门可以实现微型吸附泵与多个红外探测器杜瓦组件之间快速高气密的交替连接,来获得红外探测器微型杜瓦组件高真空排气夹封前性能测试的所需要真空度。本发明避免了排气装置对红外探测器杜瓦组件性能测试的电磁干扰,解决了处于低温红外探测器突然暴露空气会导致红外探测器芯片和其相应的光学元件被污染的问题,提高了测试效率。

    航天用红外探测器杜瓦组件高真空保持的结构及实现方法

    公开(公告)号:CN101349593B

    公开(公告)日:2010-06-02

    申请号:CN200810042428.7

    申请日:2008-09-03

    Abstract: 本发明公开了一种航天用红外探测器杜瓦组件高真空保持的结构及实现方法,它适用于红外探测器杜瓦组件的空间应用技术。航天用红外探测器杜瓦组件高真空保持的结构由高气密真空自锁阀、连接管、高气密真空对接接头、排气管和红外探测器杜瓦组件。本发明在高气密真空自锁阀和高气密真空对接接头的密封结构和连接上引入特定的处理方法,来获得了航天用红外探测器杜瓦组件高真空保持的结构。本发明可使得航天用红外探测器杜瓦组件获得无限长的真空寿命,同时本发明对红外探测器制备和封装工艺中降低出气率的工艺环节没有严格要求,这大大降低红外探测器杜瓦组件的制备和封装成本。

    一种光学材料光谱测试用低温杜瓦

    公开(公告)号:CN103852424B

    公开(公告)日:2016-05-18

    申请号:CN201410020844.2

    申请日:2014-01-17

    Abstract: 本发明公开了一种光学材料光谱测试用低温杜瓦,由内外金属圆筒组成的真空密封容器,在过渡冷头上依次安装杜瓦冷头、测试样品、力学缓冲环和磁性压环组成测试样品固定结构。该结构的优点在于充分利用磁性压环与杜瓦冷头之间的磁性力,将测试样品可靠地固定在杜瓦冷头上,同时力学缓冲环可以很好地缓冲杜瓦冷头和磁性压环之间的磁性力,使杜瓦冷头和测试样品形成良好的热学和力学接触,保持测试样品处于低温,该结构安装和拆卸测试样品简单方便,避免测试样品表面污染和损伤,特别适合于水平光路条件下光学材料的低温透射光谱测试。

    氮气气氛中保持光学测试样品处于低温状态的装置

    公开(公告)号:CN103344413A

    公开(公告)日:2013-10-09

    申请号:CN201310251562.9

    申请日:2013-06-21

    Abstract: 本发明公开了一种在氮气气氛中保持光学测试样品处于低温状态的装置,该装置包括箱体、上盖板、金属环、冷头、加热片、测温元件。箱体的上部通过螺纹与上盖板连接,在箱体的右侧安装气体输入管接头和气体输出管接头。金属环嵌在冷头上部的凹槽中。冷头锡焊在箱体圆柱形空腔的底部中间,在冷头侧面安装液氮导进管和液氮导出管。加热片和测温元件用低温胶粘在冷头的侧面,其导线从箱体正面引出。测试时,样品由金属环固定在冷头上,通过液氮导进管输入液氮,使样品处于低温状态。加热片及测温元件控制样品处于某一恒定的温度。本装置的优点是通过向箱体侧面的气体输入管通入氮气使箱体内形成氮气保护的气氛,是一种保持光学测试样品处于低温状态的装置。

    一种红外探测器微型杜瓦组件性能测试用排气装置

    公开(公告)号:CN101408461A

    公开(公告)日:2009-04-15

    申请号:CN200810203389.4

    申请日:2008-11-26

    Abstract: 本发明公开了一种红外探测器微型杜瓦组件性能测试用排气装置,其结构主要由微型吸附泵、双通二位快速转换真空阀门,过渡管、高气密真空对接接头、红外探测器杜瓦组件组成。本发明是利用低温介质对无电源微型吸附泵内的活性炭进行制冷,低温下的活性炭对红外探测器杜瓦组件进行排气,双通二位快速转换真空阀门可以实现微型吸附泵与多个红外探测器杜瓦组件之间快速高气密的交替连接,来获得红外探测器微型杜瓦组件高真空排气夹封前性能测试的所需要真空度。本发明避免了排气装置对红外探测器杜瓦组件性能测试的电磁干扰,解决了处于低温红外探测器突然暴露空气会导致红外探测器芯片和其相应的光学元件被污染的问题,提高了测试效率。

    航天用红外探测器杜瓦组件高真空保持的结构及实现方法

    公开(公告)号:CN101349593A

    公开(公告)日:2009-01-21

    申请号:CN200810042428.7

    申请日:2008-09-03

    Abstract: 本发明公开了一种航天用红外探测器杜瓦组件高真空保持的结构及实现方法,它适用于红外探测器杜瓦组件的空间应用技术。航天用红外探测器杜瓦组件高真空保持的结构由高气密真空自锁阀、连接管、高气密真空对接接头、排气管和红外探测器杜瓦组件。本发明在高气密真空自锁阀和高气密真空对接接头的密封结构和连接上引入特定的处理方法,来获得了航天用红外探测器杜瓦组件高真空保持的结构。本发明可使得航天用红外探测器杜瓦组件获得无限长的真空寿命,同时本发明对红外探测器制备和封装工艺中降低出气率的工艺环节没有严格要求,这大大降低红外探测器杜瓦组件的制备和封装成本。

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