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公开(公告)号：CN110727584B
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN201910850481.8
申请日：2019-09-10
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 一种处理器硅前验证用的RTL与参考模型实时比较方法，属于中央处理器芯片硅前功能正确性验证技术领域。方法包括步骤S01，当监测到RTL的通用寄存器回写信号时，将RTL回写的值记录于Testbench中的RTL缓冲内；步骤S02，比较Testbench中的RTL缓冲中条目和Testbench中参考模型缓冲中条目，若相等，则返回步骤S01，若不相等，则报错退出。本发明能够支持不同体系结构的处理器运行结果的正确性的实时比较，可在处理器的正确性验证中实现指令级的精确结果比较，提高验证环境构建速度和可靠性，提高处理器验证效率，降低处理器验证的难度和门槛。
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公开(公告)号：CN110727611B
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN201910848710.2
申请日：2019-09-09
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F12/0831 , G06F11/22
Abstract: 本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种带状态监测的可配置一致性验证方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种带状态监测的可配置一致性验证系统，包含片上网络以及片上网络连接的核组，每个所述核组包含核心、存储控制器和访存一致性处理部件；所述核心用于生成与发送激励；所述访存一致性处理部件接收来自所述核心发送来的激励并从所述存储控制器中取得结果返还至所述核心；所述核心还用于对所述结果进行验证；还包含动态监测模块。本发明的目的是提供一种带状态监测的可配置一致性验证方法，不仅能快速灵活的构建Cache一致性验证环境，且能动态实时的监测各个模块的状态。
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公开(公告)号：CN110795897A
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201910841142.3
申请日：2019-09-06
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
Abstract: 本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法，S01、验证环境搭建步骤、S02、激励规则制定步骤、S03、造错模块添加步骤、S04、结果验证步骤。本发明的目的是提供一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法，在测试过程中，充分遍历实现BIST测试中所有可出现的错误类型，保证测试修复逻辑的正确性并提升操作效率。
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公开(公告)号：CN110795299A
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201910861818.5
申请日：2019-09-12
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/263 , G06F7/483 , G06F7/499
Abstract: 本发明涉及计算机设计验证技术领域，具体涉及浮点验证数据空间压缩方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：浮点验证数据空间压缩方法，对以下三个内容进行数据空间的压缩：内容一：根据浮点数据格式进行压缩；内容二：根据舍入功能点特殊值进行压缩；内容三：根据溢出功能点特殊值进行压缩；在所述内容一中，对各种浮点格式特殊值构成的排列组合作为激励内容进行验证。本发明的目的是提供一种有效的压缩验证数据空间的方法，对浮点部件进行高效模拟验证，通过对IEEE-754浮点标准和各种浮点运算算法的深入分析，建立了一套高效的模拟验证环境，在短时间内成功高效完成对浮点部件的验证。
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公开(公告)号：CN115344823A
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN202211017041.2
申请日：2022-08-24
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种并行查找表实现具有饱和特性非线性函数求解的方法，涉及神经网络技术领域，包括将非线性函数分割成若干区间，每个区间内函数值由线性函数表示，其中线性函数系数存放在查找表内，查找表位于局部存储内，获得查找表的表内有符号偏移地址，计算出线性系数并写入查找表内；通过配置描述符实现非线性函数求解精度与求解范围的灵活可配，得到源操作数取值范围以及查找表深度；采用对源操作数范围进行平均分割的方法进行查找表地址转换，进行非线性函数求解。本发明以在兼顾资源消耗和计算速度情况下，进一步提高硬件求解非线性函数的精度，并且可以根据不同精度饱和函数进行求解运算。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113361220A
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202110692450.1
申请日：2021-06-22
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F30/33
Abstract: 本发明公开了一种对集成电路设计自动裁剪的验证环境构建方法及装置，该方法包括提取集成电路中被裁剪模块的顶层文件，分析顶层文件，得到顶层数据信息；基于顶层数据信息，确定被裁剪模块在对应的空顶层模块的处理方式；对顶层文件进行全文检索，基于各处理方式对检索到的匹配内容进行剪裁后输出至空顶层模块中，生成空顶层文件；构建验证环境，将空顶层文件加入至编译列表，并在被裁剪模块的实例化处基于空顶层模块进行模块名替换，完成裁剪。本发明实现了通过对设计进行自动裁剪的方式将包含众多重复或不同模块的芯片裁剪成各种形态的全新验证环境，一定程度上增加验证覆盖面。
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公开(公告)号：CN110727583A
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201910845696.0
申请日：2019-09-09
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法，包含如下步骤：环境构成要素排序步骤：将的环境构成要素分析，根据所述构成要素的可扩展性和通用性进行排序；元素分层步骤：从底到下分成若干元素层，可扩展性和通用性最好的元素放置在最底层；验证组件形成步骤；验证环境框架定义步骤：利用脚本组件库将所述验证组件装填，构成实际运行的验证环境。本发明的目的是提供一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法，即使面对复杂芯片的验证时，依旧可以有针对性的快速构建验证环境，大大提升验证环境的构建效率。
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公开(公告)号：CN113535499B
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202110829386.7
申请日：2021-07-22
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/263 , G06F11/26 , G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种支持多核心共享访问的多类型并存访存流验证方法，该方法包括获取待测访存部件对应存储系统的系统信息，基于系统信息构建待测访存部件对应的验证系统，验证系统包括若干虚拟模型；当检测到多源核心请求指令时，确定发出多源核心请求指令的各测试激励；分别确定各测试激励对应的各虚拟模型，基于各虚拟模型并行处理多源核心请求指令，得到各虚拟响应结果。本发明短时间内实现各虚拟模型的请求发送、解析、响应处理等功能，最终通过比较真实和虚拟响应来判断待测访存部件处理、解析和转发的正确性，通过此验证方法和系统更易发现错误和错误定位，保证了待测访存部件的正确性，流片无错误。
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公开(公告)号：CN115328553A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202211017025.3
申请日：2022-08-24
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F9/38
Abstract: 本发明公开了一种支持非线性函数扩展功能的并行查表方法及装置，涉及人工智能技术领域，包括：将非线性函数分割成若干区间，每个区间内函数值由线性函数表示，其中线性函数系数存放在查找表内，查找表位于局部存储内；进行多格式数据转换，根据函数种类指示符中的数据格式字段，针对输入源操作数的格式，进行展开并移位至预定小数点位置；获取上述数据放置规则，计算出并行查表的表内偏移地址；向量查询基地址和表内偏移地址相加，得到待访问元素的存放地址。本发明可以在普通单端口或双端口存储器上快速实现因变量到表内偏移的转化，并实现向量查表的方法，提升向量计算结构、通用寄存器等资源的利用率，从而优化流水线性能。
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公开(公告)号：CN110727611A
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201910848710.2
申请日：2019-09-09
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F12/0831 , G06F11/22
Abstract: 本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种带状态监测的可配置一致性验证方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种带状态监测的可配置一致性验证系统，包含片上网络以及片上网络连接的核组，每个所述核组包含核心、存储控制器和访存一致性处理部件；所述核心用于生成与发送激励；所述访存一致性处理部件接收来自所述核心发送来的激励并从所述存储控制器中取得结果返还至所述核心；所述核心还用于对所述结果进行验证；还包含动态监测模块。本发明的目的是提供一种带状态监测的可配置一致性验证方法，不仅能快速灵活的构建Cache一致性验证环境，且能动态实时的监测各个模块的状态。
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