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公开(公告)号：CN112311471B
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202011054527.4
申请日：2020-09-29
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种等光程差处理方法和装置，其中，所述方法包括：将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接；采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。本发明公开的等光程差处理方法，能够准确地测试出I路光纤与Q路光纤的光程差，在计算出光程差后采用二次熔接工艺对较长的Q路光纤进行处理，使Q路光纤的长度与I路光纤的长度基本相等。
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公开(公告)号：CN107708329B
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201710771986.6
申请日：2017-08-31
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: H05K3/34 , B23K1/00 , B23K101/42
Abstract: 本发明涉及一种一次回流同时实现BGA(球栅阵列)植球和组装的方法，属于元器件装联技术领域。本发明提出的方法可提高焊接接头的可靠性，传统的植球方法器件侧焊点需经历两次回流，回流焊接过程中焊料与器件侧Cu焊盘形成的金属间化合物会增厚；由于金属间化合物的脆性，过厚的金属间化合物层会导致接头性能降低；器件侧一次回流可减少金属间化合物的厚度，从而提高器件侧焊点的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110940260B
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201911341040.1
申请日：2019-12-23
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01B5/28
Abstract: 本发明涉及一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法，属于栅阵列器件平面度检测技术领域。本发明的方法通过对器件焊接端子的高度进行梳理，确定基准测量尺寸，根据对平面度的测量要求确定测量尺寸，通过工装采用叠加的方法进行测量，该测量方法：操作简单易行、测量有效到位、可避免器件引腿受损，并解决了由于器件焊接端子平面度差导致的焊接不良问题。
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公开(公告)号：CN107708329A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201710771986.6
申请日：2017-08-31
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: H05K3/34 , B23K1/00 , B23K101/42
CPC classification number: H05K3/34 , B23K1/00 , B23K1/0008 , B23K1/0016 , B23K2101/42 , H05K3/3494
Abstract: 本发明涉及一种一次回流同时实现BGA(球栅阵列)植球和组装的方法，属于元器件装联技术领域。本发明提出的方法可提高焊接接头的可靠性，传统的植球方法器件侧焊点需经历两次回流，回流焊接过程中焊料与器件侧Cu焊盘形成的金属间化合物会增厚；由于金属间化合物的脆性，过厚的金属间化合物层会导致接头性能降低；器件侧一次回流可减少金属间化合物的厚度，从而提高器件侧焊点的可靠性。
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公开(公告)号：CN119268422A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411202426.5
申请日：2024-08-29
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: F28D15/04
Abstract: 本发明提供了一种基于定向输运的相变热二极管及其实现方法，所述相变热二极管，包括管壁、定向输运毛细结构、沸腾增强毛细结构和液体工质；管壁的内侧为定向输运毛细结构、沸腾增强毛细结构；所述定向输运毛细结构具有定向输运液体工质功能；沸腾增强毛细结构具有增强沸腾作用；管壁内为真空或负压环境，且内部填充相容液体工质；定向输运毛细结构和沸腾增强毛细结构旋压一体成形。本发明能够解决现有相变热二极制备流程繁琐、不适大规模制备、使用范围受限等缺点。
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公开(公告)号：CN112311471A
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN202011054527.4
申请日：2020-09-29
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种等光程差处理方法和装置，其中，所述方法包括：将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接；采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。本发明公开的等光程差处理方法，能够准确地测试出I路光纤与Q路光纤的光程差，在计算出光程差后采用二次熔接工艺对较长的Q路光纤进行处理，使Q路光纤的长度与I路光纤的长度基本相等。
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公开(公告)号：CN110940260A
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201911341040.1
申请日：2019-12-23
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01B5/28
Abstract: 本发明涉及一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法，属于栅阵列器件平面度检测技术领域。本发明的方法通过对器件焊接端子的高度进行梳理，确定基准测量尺寸，根据对平面度的测量要求确定测量尺寸，通过工装采用叠加的方法进行测量，该测量方法：操作简单易行、测量有效到位、可避免器件引腿受损，并解决了由于器件焊接端子平面度差导致的焊接不良问题。
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