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公开(公告)号:CN110940260A
公开(公告)日:2020-03-31
申请号:CN201911341040.1
申请日:2019-12-23
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01B5/28
Abstract: 本发明涉及一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法,属于栅阵列器件平面度检测技术领域。本发明的方法通过对器件焊接端子的高度进行梳理,确定基准测量尺寸,根据对平面度的测量要求确定测量尺寸,通过工装采用叠加的方法进行测量,该测量方法:操作简单易行、测量有效到位、可避免器件引腿受损,并解决了由于器件焊接端子平面度差导致的焊接不良问题。
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公开(公告)号:CN120047952A
公开(公告)日:2025-05-27
申请号:CN202411923717.3
申请日:2024-12-25
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G06V30/14 , G06V30/162 , G06V30/18 , G06V30/19 , G06V10/82
Abstract: 本发明公开了一种实现PCB字符自动比对的工艺方法,包括依次进行的图像预处理、基于编号位置的图像配准、文本检测、文本识别、字符提取和对比分析;图线预处理包括:将冗余区域进行剪裁,同时将采集到的PCB实物图像进行二值化处理得到扫描图;基于编号位置的图像配准:采用深度学习算法提取PCB板中的字符作为特征点对原理图和扫描图进行配准;引入多分类和注意力机制对网络进行改进,对配准后的原理图和扫描图进行文本检测、文本识别和字符提取;对比分析,将原理图和扫描图的字符提取结果进行汇总,对错误类型进行判别。大量减少了人工的工作量,能够准确高效的对PCB上的字符进行检测,并且可检测错印、漏印、印偏、多印等错误。
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公开(公告)号:CN110940260B
公开(公告)日:2021-04-13
申请号:CN201911341040.1
申请日:2019-12-23
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01B5/28
Abstract: 本发明涉及一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法,属于栅阵列器件平面度检测技术领域。本发明的方法通过对器件焊接端子的高度进行梳理,确定基准测量尺寸,根据对平面度的测量要求确定测量尺寸,通过工装采用叠加的方法进行测量,该测量方法:操作简单易行、测量有效到位、可避免器件引腿受损,并解决了由于器件焊接端子平面度差导致的焊接不良问题。
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