公开(公告)号：CN110940260A

公开(公告)日：2020-03-31

申请号：CN201911341040.1

申请日：2019-12-23

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 刘忠丽 ,  姜莉琴 ,  梁亚萍 ,  田雍容 ,  李炳东 ,  赵静 ,  曹征 ,  李强 ,  杨怡欣 ,  刘旺 ,  郭瑞霞

IPC: G01B5/28

Abstract: 本发明涉及一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法，属于栅阵列器件平面度检测技术领域。本发明的方法通过对器件焊接端子的高度进行梳理，确定基准测量尺寸，根据对平面度的测量要求确定测量尺寸，通过工装采用叠加的方法进行测量，该测量方法：操作简单易行、测量有效到位、可避免器件引腿受损，并解决了由于器件焊接端子平面度差导致的焊接不良问题。

公开(公告)号：CN110940260B

公开(公告)日：2021-04-13

申请号：CN201911341040.1

申请日：2019-12-23

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 刘忠丽 ,  姜莉琴 ,  梁亚萍 ,  田雍容 ,  李炳东 ,  赵静 ,  曹征 ,  李强 ,  杨怡欣 ,  刘旺 ,  郭瑞霞

IPC: G01B5/28

Abstract: 本发明涉及一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法，属于栅阵列器件平面度检测技术领域。本发明的方法通过对器件焊接端子的高度进行梳理，确定基准测量尺寸，根据对平面度的测量要求确定测量尺寸，通过工装采用叠加的方法进行测量，该测量方法：操作简单易行、测量有效到位、可避免器件引腿受损，并解决了由于器件焊接端子平面度差导致的焊接不良问题。