晶片封装体及其形成方法

    公开(公告)号:CN102774805A

    公开(公告)日:2012-11-14

    申请号:CN201210146748.3

    申请日:2012-05-11

    Inventor: 沈信隆 谢俊池

    CPC classification number: H01L2224/13 H01L2924/1461 H01L2924/00

    Abstract: 本发明提供一种晶片封装体及其形成方法,该晶片封装体包括:一第一基底;一第二基底,设置于该第一基底之上,其中该第二基底具有贯穿该第二基底的至少一开口,该至少一开口于该第二基底之中划分出彼此电性绝缘的多个导电区;一承载基底,设置于该第二基底之上;至少一阻挡块体,对应地设置于该第二基底的该至少一开口之上,且大抵完全覆盖该至少一开口;一绝缘层,设置于该承载基底的一表面及一侧壁之上;以及一导电层,设置于该承载基底上的该绝缘层之上,且电性接触所述导电区中的一导电区。本发明可有效缩小多晶片封装结构的体积,且节省制作成本。

    晶片封装体及其形成方法

    公开(公告)号:CN102774805B

    公开(公告)日:2015-10-28

    申请号:CN201210146748.3

    申请日:2012-05-11

    Inventor: 沈信隆 谢俊池

    CPC classification number: H01L2224/13 H01L2924/1461 H01L2924/00

    Abstract: 本发明提供一种晶片封装体及其形成方法,该晶片封装体包括:一第一基底;一第二基底,设置于该第一基底之上,其中该第二基底具有贯穿该第二基底的至少一开口,该至少一开口于该第二基底之中划分出彼此电性绝缘的多个导电区;一承载基底,设置于该第二基底之上;至少一阻挡块体,对应地设置于该第二基底的该至少一开口之上,且大抵完全覆盖该至少一开口;一绝缘层,设置于该承载基底的一表面及一侧壁之上;以及一导电层,设置于该承载基底上的该绝缘层之上,且电性接触所述导电区中的一导电区。本发明可有效缩小多晶片封装结构的体积,且节省制作成本。

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