一种视频质量调整方法、装置及设备

    公开(公告)号:CN118803344A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202310817925.4

    申请日:2023-07-05

    Abstract: 本发明提供视频质量调整方法、装置及设备,所述方法包括:获取多个用户观看第一测试视频和第二测试视频过程中的生理参数和主观评价值,主观评价值包括第一评分和第二评分,第一评分为用户对第一测试视频的评分,第一测试视频包括具有第一质量的第一子视频和具有第二质量的第二子视频,第二评分为用户对第二测试视频的评分,第二测试视频包括具有第二质量的第一子视频和第二子视频,第一质量高于第二质量;基于生理参数和主观评价值确定目标主观评价值,目标主观评价值基于多个用户中具备相同生理参数的用户的主观评价值确定;根据目标主观评价值对目标视频的质量进行调整。降低了数据的传输压力,同时具有较高的视频质量,以兼顾用户的观感体验。

    单颗粒电极
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN116565160B

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202310296863.7

    申请日:2023-03-23

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种单颗粒电极,包括:微电极,包括金属探针以及绝缘层,所述绝缘层包覆于所述金属探针的外壁,并使所述金属探针的尖端露出;活性颗粒,与所述尖端电连接。采用金属探针作为微电极的基体,绝缘层包覆在金属探针的外壁后,金属探针的尖端直接裸露出绝缘层,无需进行打磨与切割即可,这样,微电极的尖端可以直接连接活性颗粒,进而可以直接使用活性颗粒进行电化学实验,避免对探针进行切割与打磨,提高单颗粒电极的制备效率,降低制作成本,便于制备成型。

    单颗粒微电极原位测试装置及其制作方法

    公开(公告)号:CN118010599A

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202410203179.4

    申请日:2024-02-23

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本申请涉及一种单颗粒微电极原位测试装置及其制作方法,装置主体的内部具有反应腔室,装置主体开设有微电极装配通道、对电极装配通道、观测窗口组件装配通道和移液组件装配通道,微电极装配通道、对电极装配通道、观测窗口组件装配通道和移液组件装配通道均与反应腔室相连通,微电极夹具密封设置在微电极装配通道内,微电极夹具用于连接单颗粒微电极,集流体组件密封设置在对电极装配通道内,集流体组件用于连接对电极元件,可替换观测窗口密封设置在观测窗口组件装配通道,电解液转移组件与移液组件装配通道密封连通。单颗粒微电极原位测试装置中因为构建出可替换观测窗口以及观测窗口组件装配通道,进而可兼容多种光学测试方法。

    基于激光的单颗粒微电极制备方法

    公开(公告)号:CN116553475A

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202310292432.3

    申请日:2023-03-23

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于激光的单颗粒微电极制备方法,控制探针的尖端和颗粒体相互靠近,在探针的尖端和颗粒体之间施加连接材料,向连接材料投射激光,利用激光将连接材料融化,利用连接材料将探针的尖端和颗粒体导电连接。上述基于激光的单颗粒微电极制备方法中,利用激光融化连接材料的过程中,并不需要真空环境,连接材料融化至冷却凝固的过程也不需要真空环境,摒弃了借助于FIB/SEM系统的真空环境,在探针上沉积金属后完成单颗粒微电极的制备方案,不需要在每制备出一个单颗粒微电极后都需要更换探针,再次对FIB/SEM系统的操作室重新抽真空的步骤,从制备原理的根本上解决了单颗粒微电极制备过程耗时长的技术问题。

    绝对重力测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN107121708B

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN201710388867.2

    申请日:2017-05-25

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种绝对重力测量系统及测量方法,所述绝对重力测量包括:自由落体装置、激光干涉测量装置、隔振平台。所述自由落体装置包括壳体、设置在所述壳体内的真空仓、以及与所述真空仓传动连接的动力装置。所述动力装置用于控制所述真空仓在竖直方向的运动。所述落体设置于所述真空仓内。所述真空仓底部设置有真空仓观察窗用于观测所述落体的自由落体运动。所述绝对重力测量系统进一步包括设置在所述壳体内的真空仓位移测量装置。所述真空仓位移测量装置包括设置于所述壳体内部的光栅尺,以及固定安装在所述真空仓外壳的读数头。所述绝对重力测量系统进一步包括空气折射率测量装置,用于测量所述壳体内部的空气折射率。

    微电极及单颗粒电极
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116519759A

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202310295227.2

    申请日:2023-03-23

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种微电极及单颗粒电极。该微电极包括:金属探针,包括探针主体以及针尖,所述针尖设置于所述探针主体的一端,所述针尖呈锥形设置,并朝向远离所述探针主体的一端形成尖端;绝缘层,设置于所述金属探针,并包覆部分所述针尖与所述探针主体,使所述针尖的端部露出;其中,所述绝缘层采用提拉涂膜法包覆于所述金属探针的外壁。采用金属探针作为基体,并采用提拉涂膜法将绝缘层包覆金属探针,使得金属探针的针尖的端部露出绝缘层,无需进行打磨即可作为微电极使用,简化制备过程,避免出现打磨导致的断裂问题,降低制备难度,缩短制备时间。同时,还无需利用聚焦离子束扫描电镜进行切割,降低制作成本,便于微电极的制备。

    微电极及单颗粒电极
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116435457A

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202310296977.1

    申请日:2023-03-23

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种微电极及单颗粒电极。该微电极包括:金属探针,包括探针主体以及针尖,所述针尖设置于所述探针主体的一端,所述针尖呈锥形设置,并朝向远离所述探针主体的一端形成尖端;绝缘层,设置于所述金属探针,并包覆部分所述针尖与所述探针主体,使所述针尖的端部露出;其中,所述绝缘层采用加热拉伸法或喷涂法包覆于所述金属探针的外壁。采用金属探针作为基体,并采用喷涂法或加热拉伸法将绝缘层包覆金属探针,使得金属探针的针尖的端部露出绝缘层,无需进行打磨即可作为微电极使用,避免出现打磨导致的断裂问题,降低制备难度,缩短制备时间。同时,无需利用聚焦离子束扫描电镜进行切割,降低制作成本,便于微电极的制备。

    反应器耗材以及单颗粒微电极测试系统

    公开(公告)号:CN116297770A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310292133.X

    申请日:2023-03-23

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种反应器耗材,耗材反应瓶具有反应内腔,反应内腔用于容纳电解液,耗材反应瓶开设有连通反应内腔的第一装配孔和第二装配孔,第一电极插接装配在第一装配孔内,第一电极相对于第一装配孔密封,第一电极的前端朝向耗材反应瓶的反应内腔,第一电极的前端用于装配单颗粒微电极,单颗粒微电极置于耗材反应瓶的反应内腔中,第二电极接装配在第二装配孔内,第二电极相对于第二装配孔密封,第二电极的前端朝向耗材反应瓶的反应内腔,第二电极的前端用于装配锂金属元件,锂金属元件置于耗材反应瓶的反应内腔中。反应器耗材由于在组装后就在反应器耗材的反应内腔中构建了惰性气体环境,既能够降低操作的繁琐程度,还能够降低测试的成本。

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