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发明公开
热循环试验方法、装置、存储介质及电子设备审中-实审

公开(公告)号：CN114236338A

公开(公告)日：2022-03-25

申请号：CN202111539279.7

申请日：2021-12-15

Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司

Inventor： 陆金辉 , 周望君 , 罗海辉 , 宋舸 , 鲁迪旺 , 周亮

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供了一种热循环试验方法、装置、存储介质及电子设备，涉及热循环试验技术领域，所述方法应用于热循环试验系统，该系统包括：待测器件、液槽组件和多个可控温容器；所述方法包括：获取试验温度变化曲线；在该曲线中的每一时刻，执行以下操作，以使待测器件的温度随时间的变化与该曲线一致：获取试验温度变化曲线中当前时刻对应的温度作为当前目标温度；基于当前目标温度和每个可控温容器中的流体的温度，获得每个可控温容器向液槽组件注入流体时的流量比；控制每个可控温容器基于该流量比向液槽组件中注入流体，以使待测器件的温度达到当前目标温度。本发明提供的技术方案，能够更加精确地控制待测器件的温度，以获得更准确的试验结果。

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