半导体集成电路器件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1741190A

    公开(公告)日:2006-03-01

    申请号:CN200510087600.7

    申请日:2005-07-28

    CPC classification number: G11C11/412

    Abstract: 本发明提供一种减小了漏电流的具有SRAM的半导体集成电路器件。在包括多个存储单元的SRAM中,提供衬底偏置切换电路,其中每个存储单元由存储器和选择MOSFET构成,在所述存储器中,两个反相器电路的输入端和输出端交叉连接,所述选择MOSFET设置在存储器和互补位线之间,并且其栅极连接到字线。在正常操作中,衬底偏置切换电路将电源电压提供给其中形成存储单元的P沟道MOSFET的N型阱,并将电路的地电位提供给其中形成N沟道MOSFET的P型阱。在备用状态下,衬底偏置切换电路将比电源电压低并且通过它使N型阱和P沟道MOSFET的源极之间的PN结不被正向偏置的预定电压提供给N型阱,并且将比地电位高并通过其使P型阱和N沟道MOSFET的源极之间的PN结不被正向偏置的预定电压提供给P型阱。

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