公开(公告)号：CN106796298B

公开(公告)日：2020-01-21

申请号：CN201580045810.1

申请日：2015-07-10

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 作村拓人 ,  中江保一 ,  辻优司 ,  梶芳功系兆 ,  田口武庆 ,  松下一之

IPC: G01T1/17

Abstract: 本发明提供一种能够省去对校正表格进行重新设定的劳力和时间，使用户能立刻在期望的条件下测定X射线强度数据的数据处理装置、求取各像素的特性的方法、以及数据处理的方法及程序。对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正的数据处理装置(100)具备：存储特定的检测器的各像素的特性的特性存储部(130)；将作为利用特定的检测器进行测定时的条件来输入的测定条件以及表示各像素的特性的值应用于表示各像素处的计数值的近似表达式，使用近似表达式的计算结果来生成针对特定的检测器的校正表格的校正表格生成部(120)；和使用所生成的校正表格，对由特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正的校正部(160)。

公开(公告)号：CN1598554A

公开(公告)日：2005-03-23

申请号：CN200410074860.6

申请日：2004-08-30

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 田口武庆 ,  田岛武雄

IPC: G01N23/20

CPC classification number: G01N23/207

Abstract: 本发明公开了一种X光分析设备，其中X光源所发射的X光被施加到样品并且二维CCD传感器检测样品所衍射的X光。X光分析设备具有2θ旋转驱动器和程序。2θ旋转驱动器移动二维CCD传感器。执行上述程序以便控制CCD传感器的动作。2θ旋转驱动器绕着遍布样品表面的ω轴而旋转CCD传感器。所述程序将CCD传感器中的电荷转移与2θ旋转驱动器所驱动的CCD传感器的动作同步。所以，用于相同衍射角度的数据项能够在二维CCD传感器的象素中积聚。这实现了高速高灵敏度检测被衍射的X光。

公开(公告)号：CN106796298A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201580045810.1

申请日：2015-07-10

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 作村拓人 ,  中江保一 ,  辻优司 ,  梶芳功系兆 ,  田口武庆 ,  松下一之

IPC: G01T1/17

Abstract: 本发明提供一种能够省去对校正表格进行重新设定的劳力和时间，使用户能立刻在期望的条件下测定X射线强度数据的数据处理装置、求取各像素的特性的方法、以及数据处理的方法及程序。对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正的数据处理装置(100)具备：存储特定的检测器的各像素的特性的特性存储部(130)；将作为利用特定的检测器进行测定时的条件来输入的测定条件以及表示各像素的特性的值应用于表示各像素处的计数值的近似表达式，使用近似表达式的计算结果来生成针对特定的检测器的校正表格的校正表格生成部(120)；和使用所生成的校正表格，对由特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正的校正部(160)。

公开(公告)号：CN1598554B

公开(公告)日：2011-08-10

申请号：CN200410074860.6

申请日：2004-08-30

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 田口武庆 ,  田岛武雄

IPC: G01N23/207 ,  G01T1/24

CPC classification number: G01N23/207

Abstract: 本发明公开了一种X光分析设备，其中X光源所发射的X光被施加到样品并且二维CCD传感器检测样品所衍射的X光。X光分析设备具有2θ旋转驱动器和程序。2θ旋转驱动器移动二维CCD传感器。执行上述程序以便控制CCD传感器的动作。2θ旋转驱动器绕着遍布样品表面的ω轴而旋转CCD传感器。所述程序将CCD传感器中的电荷转移与2θ旋转驱动器所驱动的CCD传感器的动作同步。所以，用于相同衍射角度的数据项能够在二维CCD传感器的象素中积聚。这实现了高速高灵敏度检测被衍射的X光。