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公开(公告)号：CN104246906B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201380018344.9
申请日：2013-12-12
Applicant: 株式会社理学
IPC: G21K1/06
CPC classification number: G21K1/00 , G01N23/083 , G21K1/06
Abstract: X射线光学部件装置具有：X射线光学部件单元18、36；电动机控制部67、68；以及连接器25。连接器25具有：在彼此卡合的状态下与电动机57电连接的电动机用管脚P13、24、34、43、42、33和电动机用端子T13、24、34、43、42、33；以及能够彼此卡合并且感测连接器25的拆卸的信号管脚P23和信号端子T23。管脚侧连接器25a和端子侧连接器25b能够拆卸。在从端子侧连接器25b拆卸管脚侧连接器25a时，信号管脚P23从信号端子T23脱离的时间点比电动机用管脚从电动机用端子脱离的时间点早。在对内置有用于调整X射线光学部件的位置的电动机的X射线光学部件单元进行更换时，防止设置在该单元内的X射线光学部件的位置违背意图地移动。
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公开(公告)号：CN116182753A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202211448875.9
申请日：2022-11-18
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01B15/00
Abstract: 提供一种校正量确定装置、方法、记录介质以及夹具。校正量确定装置(300)具备：衍射数据存储部(310)，其存储衍射数据，衍射数据是对作为各向同性且无应变的晶体颗粒的集合体的标准试样照射X射线而得到的，包括相对于试样旋转角和试样表面高度的照射X射线的衍射角度的组合；对应关系决定部(320)，其基于衍射数据来决定第1对应关系；以及校正量确定部(330)，其通过第1函数来确定相对于希望的试样旋转角和衍射角度的试样表面高度的校正量。
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公开(公告)号：CN111735828A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN202010190202.2
申请日：2020-03-18
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/00 , G01N23/201 , G01N23/207
Abstract: 本发明提供一种以简单的结构实现小型并能够进行微小部测定的X射线分析装置。一种X射线分析装置具备：测角仪，其具有沿着第一方向延伸的入射侧臂、固定部和接收侧臂；X射线源部，其配置在所述入射侧臂上，用于产生沿着与所述第一方向交叉的第二方向延伸的X射线源；支撑台，其配置在所述固定部上，用于支撑样品；平行狭缝，其配置在所述固定部上，用于限制由所述X射线源部所产生的X射线源沿着所述第二方向的线宽；以及检测器，其配置在所述接收侧臂上，用于检测由所述样品所产生的散乱X射线。
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公开(公告)号：CN107764847A
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201710699213.1
申请日：2017-08-16
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20 , G01N23/207
Abstract: 本发明公开了X射线衍射装置。对计数器臂(52)搭载板状的X射线遮挡部件(60)，与X射线检测器(40)一起转动。X射线遮挡部件(60)相对从试样(S)衍射来的向X射线检测器(40)入射的衍射X射线，配置于其高角度侧。另外，通过X射线遮挡部件(60)的前端缘(60a)，规定衍射X射线可通过的高角度侧的边界，并且相对连接试样(S)的表面中的X射线照射区域的中心和该前端缘(60a)的直线倾斜地配置表面部分(60b)，用该表面部分(60b)遮挡要从衍射X射线的高角度侧入射到X射线检测器(40)的散射X射线。
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公开(公告)号：CN113049615B
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202011565438.6
申请日：2020-12-25
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/201
Abstract: 本发明提供一种通过抑制对系统大小的制约的方法来计算理论散射强度散射测量分析方法、散射测量装置、及信息存储介质。所述散射测量分析方法包括从多粒子系散射体的结构模型取得理论散射强度的理论散射强度取得步骤，在所述理论散射强度取得步骤中，通过第1计算、第2计算中与距离r对应的至少一者取得多个散射体中散射体m和与该散射体m距离r的散射体n的组合对所述理论散射强度的贡献，所述第1计算根据各自的散射因子fm(q)、fn*(q)及中心间距离rmn计算散射体m和散射体n的贡献，所述第2计算由第1代表值代替所述散射体n的散射因子fn*(q)并且由固定值代替距离r处存在的散射体数量的概率密度函数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117043588A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202180096233.4
申请日：2021-12-10
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20008
Abstract: 具备：一对支撑部(110、120)，其空开载置试样的空间配置；框架(130)，其由一对支撑部(110、120)支撑；照射部(150)，其能移动地连接到框架(130)，照射放射线；以及检测部(170)，其能移动地连接到框架(130)，检测被试样(S1)散射的放射线，照射部(150)和检测部(170)能相对于框架(130)在同一平面内移动。由此，使用在一对支撑部(110、120)之间形成的空间，能够以宽广的范围的衍射角测定大的试样(S1)。因此，易于测定低角度侧的衍射。另外，由于能使各部在同一平面内移动，因此，各部的配置是容易的。
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公开(公告)号：CN110223797B
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN201910150250.6
申请日：2019-02-28
Applicant: 株式会社理学
Abstract: 本发明提供一种X射线产生装置和X射线分析装置，其能够利用简单的结构来实现电子束尺寸小的聚焦X射线电子束。X射线产生装置具备：线状X射线源；多层膜镜；以及并排反射镜，其以2片凹面镜共用接合线的方式彼此接合，所述X射线产生装置的特征在于，多层膜镜的反射面的截面具有抛物线形状，并且该抛物线形状的焦点位于线状X射线源，并排反射镜的2片凹面镜的反射面的截面各自具有抛物线形状，并且该抛物线形状的焦点分别位于多层膜镜的相反侧，在俯视观察下，所述并排反射镜的接合线的延长线贯穿多层膜镜以及线状X射线源。
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公开(公告)号：CN115436406A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202210578178.9
申请日：2022-05-24
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/2055 , G06Q50/04
Abstract: 本发明提供定量分析装置、方法以及程序和制造管理系统，易于对制造工序的管理的应用，能得到高精度且准确的定量值。具备：WPPF部(320)，通过对解析对象的X射线衍射线形进行全图拟合来决定理论衍射强度的参数；标度因子取得部(325)，其取得所决定的参数当中的被检成分的标度因子；校正曲线存储部(350)，其存储表示对标准样品取得的被检成分的标度因子与标准样品中的被检成分的含有率的相关的校正曲线；和变换部(370)，其使用所存储的校正曲线来将针对分析对象样品取得的被检成分的标度因子变换为分析对象样品中的被检成分的含有率。
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公开(公告)号：CN113049615A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202011565438.6
申请日：2020-12-25
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/201
Abstract: 本发明提供一种通过抑制对系统大小的制约的方法来计算理论散射强度散射测量分析方法、散射测量装置、及信息存储介质。所述散射测量分析方法包括从多粒子系散射体的结构模型取得理论散射强度的理论散射强度取得步骤，在所述理论散射强度取得步骤中，通过第1计算、第2计算中与距离r对应的至少一者取得多个散射体中散射体m和与该散射体m距离r的散射体n的组合对所述理论散射强度的贡献，所述第1计算根据各自的散射因子fm(q)、fn*(q)及中心间距离rmn计算散射体m和散射体n的贡献，所述第2计算由第1代表值代替所述散射体n的散射因子fn*(q)并且由固定值代替距离r处存在的散射体数量的概率密度函数。
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公开(公告)号：CN106461579B
公开(公告)日：2019-05-07
申请号：CN201580019383.X
申请日：2015-01-14
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
Abstract: 针对从试样(S)衍射来的聚光X射线(2)，根据布拉格条件用单色仪(60)仅使特定波长的X射线反射，进而通过受光狭缝(30)，利用X射线检测器(20)进行检测。单色仪(60)做成装卸自如，配置于使来自试样(S)的聚光X射线(2)直接地收敛时的聚光点(2a)与该试样(S)之间。此时，单色仪(60)尽可能接近上述聚光点(2a)。另外，单色仪(60)由内部的栅格面间隔从一端到另一端连续地变化的多层膜反射镜构成。
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