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公开(公告)号：CN112711058B
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202011128545.2
申请日：2020-10-20
Applicant: 株式会社理学
Abstract: 本发明提供处理装置、系统、X射线测定方法以及记录介质，对用现有的方法不能覆盖的高的计数率也能削减计数遗漏的影响。具备：存储部(220)，其通过光子计数型的半导体检测器对入射X射线的脉冲信号进行计数，并存储读出的输出值；和算出部(230)，其基于读出输出值来算出计数值，算出部(230)使用相对于针对曝光的脉冲检测率的增加而脉冲信号的表观的时间常数单调减少的模型。在这样的模型中，不管多高的计数率都能得到对应的表观的时间常数。其结果，对用现有的方法不能覆盖的高的计数率也能削减计数遗漏的影响。
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公开(公告)号：CN118534518A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410191225.3
申请日：2024-02-21
Applicant: 株式会社理学
Abstract: 本发明提供一种放射线检测器、放射线测定装置以及放射线检测器的设定方法，能够抑制在计数器切换时由多个计数器对单个脉冲重复进行检测的双重计数，取得高准确度的数据。一种能够通过连续曝光检测放射线的放射线检测器(100)，具备：传感器(110)，其在检测出放射线的粒子时产生脉冲；多个计数器(140a、140b)，其设置成能对脉冲进行计数；设定保持电路(150)，其保持将多个计数器(140a、140b)都设为关断的关断时间的设定；以及控制电路(160)，其相对于触发信号，在设定的关断时间后切换对脉冲进行计数的计数器。
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公开(公告)号：CN118534519A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410199131.0
申请日：2024-02-22
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01T1/18 , G01T1/17 , G01N23/207 , G01T1/02 , G01T1/24 , G01N23/04 , G01T1/00 , G01N23/00 , G01T7/00
Abstract: 本发明提供一种放射线检测器、触发信号生成器以及放射线分析系统，通过生成不依赖于曝光或读出的信号的触发输出信号，能够以高精度且高效率使外部电路与放射线检测同步。具备：传感器(110)，在通过曝光检测出放射线的粒子时产生脉冲；计数器(140)，其设置成能按每帧对脉冲进行计数；读出电路(150)，其读出由计数器(140)进行的计数值；控制电路(160)，其通过信号来控制曝光和读出；以及触发信号生成电路(170)，其在将设定有高或低的区间的1个或一连串的预定个数的帧表示为1个单位的帧时，生成确定所述设定的高和低的区间的触发输出信号。
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公开(公告)号：CN112711058A
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN202011128545.2
申请日：2020-10-20
Applicant: 株式会社理学
Abstract: 本发明提供处理装置、系统、X射线测定方法以及记录介质，对用现有的方法不能覆盖的高的计数率也能削减计数遗漏的影响。具备：存储部(220)，其通过光子计数型的半导体检测器对入射X射线的脉冲信号进行计数，并存储读出的输出值；和算出部(230)，其基于读出输出值来算出计数值，算出部(230)使用相对于针对曝光的脉冲检测率的增加而脉冲信号的表观的时间常数单调减少的模型。在这样的模型中，不管多高的计数率都能得到对应的表观的时间常数。其结果，对用现有的方法不能覆盖的高的计数率也能削减计数遗漏的影响。
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