半导体发光器件及其制造方法、以及晶片及其制造方法

    公开(公告)号:CN102194934B

    公开(公告)日:2013-11-13

    申请号:CN201010275570.3

    申请日:2010-09-08

    CPC classification number: H01L33/06 H01L33/007 H01L33/32

    Abstract: 本发明涉及半导体发光器件、晶片、用于制造半导体发光器件的方法和用于制造晶片的方法。根据一个实施例,一种半导体发光器件包括第一层、第二层以及发光部。第一层包含n型GaN和n型AlGaN中的至少一种。第二层包含p型AlGaN。发光部具有单量子阱结构。单量子阱结构包括第一势垒层、第二势垒层以及阱层。第一势垒层被设置在第一层与第二层之间并包含Alx1Ga1-x1-y1Iny1N(0<x1,0≤y1,x1+y1<1)。第二势垒层被设置在第一势垒层与第二层之间并包含Alx2Ga1-x2-y2Iny2N(0<x2,0≤y2,x2+y2<1)。阱层被设置在第一势垒层与第二势垒层之间,包含Alx0Ga1-x0-y0Iny0N(0≤x0,0<y0,x0+y0<1,y1<y0,y2<y0)并被配置为发射近紫外光。

    半导体发光器件及其制造方法、以及晶片及其制造方法

    公开(公告)号:CN102194934A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201010275570.3

    申请日:2010-09-08

    CPC classification number: H01L33/06 H01L33/007 H01L33/32

    Abstract: 本发明涉及半导体发光器件、晶片、用于制造半导体发光器件的方法和用于制造晶片的方法。根据一个实施例,一种半导体发光器件包括第一层、第二层以及发光部。第一层包含n型GaN和n型AlGaN中的至少一种。第二层包含p型AlGaN。发光部具有单量子阱结构。单量子阱结构包括第一势垒层、第二势垒层以及阱层。第一势垒层被设置在第一层与第二层之间并包含Alx1Ga1-x1-y1Iny1N(0<x1,0≤y1,x1+y1<1)。第二势垒层被设置在第一势垒层与第二层之间并包含Alx2Ga1-x2-y2Iny2N(0<x2,0≤y2,x2+y2<1)。阱层被设置在第一势垒层与第二势垒层之间,包含Alx0Ga1-x0-y0Iny0N(0≤x0,0<y0,x0+y0<1,y1<y0,y2<y0)并被配置为发射近紫外光。

    半导体发光元件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105990487A

    公开(公告)日:2016-10-05

    申请号:CN201610140819.7

    申请日:2016-03-11

    CPC classification number: H01L33/382 H01L33/405 H01L33/44 H01L33/38 H01L33/20

    Abstract: 本发明的实施方式提供一种生产性高的半导体发光元件。根据实施方式,提供一种半导体发光元件,包含衬底、第1~第3半导体层、第1、第2电极、金属层。衬底具有第1区域及具备从第1区域突出的凸部的第2区域。第1半导体层为第1导电型。第1半导体层与衬底在第1方向相隔。第2半导体层为第2导电型。第2半导体层设置在第1半导体层与衬底之间。第3半导体层设置在第1半导体层与第2半导体层之间。第1电极设置在第1半导体层与衬底之间且与第1半导体层电连接。第2电极设置在第2半导体层与衬底之间且与第2半导体层电连接。金属层设置在第1电极与第2区域之间以及第2电极与第1区域之间。金属层具有与衬底的凸部嵌合的凹部。

    半导体发光元件
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105957940A

    公开(公告)日:2016-09-21

    申请号:CN201610015618.4

    申请日:2016-01-11

    CPC classification number: H01L33/38 H01L33/0079 H01L33/44 H01L33/02

    Abstract: 半导体发光元件包含基体、第1~3半导体层、第1导电层及第1、2绝缘层。第1半导体层包含第1导电型区域。第2半导体层设置在第1半导体层与基体之间,且为第2导电型。第3半导体层设置在第1半导体层与第2半导体层之间。第1导电层设置在第2半导体层的一部分与基体之间。第1导电层与第2半导体层电连接。第1绝缘层设置在第2半导体层的另一部分与基体之间以及第1导电层与基体之间。第2绝缘层设置在第1绝缘层与基体之间。第1绝缘层的第1厚度比第1绝缘层的第2厚度薄。第2绝缘层的第3厚度与第2绝缘层的第4厚度的差的第2绝对值小于第1厚度与第2厚度的差的第1绝对值。

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