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公开(公告)号：CN117664933A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202410132585.6
申请日：2024-01-31
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种激光光谱检测装置、方法、电子设备及存储介质，属于光谱检测技术领域，该装置包括：摆动工作台，摆动工作台用于放置样品；显微镜系统，显微镜系统位于摆动工作台的上方；倾斜角度检测模块，倾斜角度检测模块位于显微镜系统的一侧，用于检测放置在所述摆动工作台上的所述样品的倾斜角度；光谱仪，光谱仪位于显微镜系统与倾斜角度检测模块相对的另一侧；激光器，激光器位于显微镜系统的上方；主控模块，主控模块与摆动工作台、倾斜角度检测模块、光谱仪均通信连接。本发明实现了对表面不平整样品进行分析时，提高光谱分析精度的技术效果。
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公开(公告)号：CN117870881A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311786148.8
申请日：2023-12-22
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供了一种多区域波长标定方法、装置及计算机可读存储介质，多区域波长标定方法包括在光谱仪上根据空间维度划分出预设数量个信号通道；获取光纤信号，并将光纤信号分为预设数量个子信号；将预设数量个子信号一一对应输入至各个信号通道中；分别计算各个子信号在对应信号通道中的像元位置；根据像元位置获取其对应信号通道中的拟合方程。本发明技术方案按照空间维度将光谱仪划分出多个信号通道，同时将光纤信号分为多个子信号，从而可通过单次信号采集处理，实现光谱仪在多个信号通道中的标定，也即根据不同空间维度的波长标定。简化标定操作流程，提高标定的效率，避免曝光波动、光源不稳等影响，有效保证标定的准确度。
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公开(公告)号：CN117869547A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311795777.7
申请日：2023-12-25
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开一种位移缩小装置及驱动系统，涉及精密驱动与传动技术领域，基于差动原理结合柔性铰链的方案，设计对称式差动杠杆组，搭建柔性位移缩小机构，使用带闭环反馈的压电堆叠线性致动器提供位移输入，实现了位移的快速响应和位移输出的稳定性，能够根据使用需求，设计出不同的缩小倍率和位移输出方向，提高了设计的灵活性。
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公开(公告)号：CN119643584B
公开(公告)日：2025-05-20
申请号：CN202510178324.2
申请日：2025-02-18
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N21/95
Abstract: 本发明公开了一种基于布里渊光谱的晶圆检测方法及相关设备，涉及晶圆检测技术领域，其中基于布里渊光谱的晶圆检测方法包括以下步骤：根据布里渊光谱信息获取实测半高宽和实测频移；根据实测半高宽、实测频移、标准半高宽和标准频移计算晶格排列规则度，晶格排列规则度用于表征晶圆对应检测位置点处是否存在晶体缺陷。本申请的基于布里渊光谱的晶圆检测方法能解决现有的晶圆检测技术无法实现对晶圆的晶体缺陷进行无损快速准确检测的问题，能无损、快速且准确地检测晶圆的晶体缺陷。
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公开(公告)号：CN119989067A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510473846.5
申请日：2025-04-16
Applicant: 季华实验室
IPC: G06F18/24 , G06F18/213 , G06F18/214 , G06N3/096 , G06N3/084
Abstract: 本申请公开了一种单分子电导识别方法、装置、设备及计算机可读存储介质，本申请涉及单分子电学测量技术领域，该方法包括：获取源域数据、目标域数据和源域数据的真实电导标签；将源域数据和目标域数据输入至待训练模型，得到源域数据和目标域数据各自的电导特征和预测电导标签；基于各电导特征、各预测电导标签和真实电导标签优化待训练模型，得到新的待训练模型，并返回执行将源域数据和目标域数据输入至待训练模型的步骤，直至待训练模型满足预设的训练终止条件，得到迁移学习模型，以通过迁移学习模型进行单分子电导状态识别。本申请能够提升用于单分子电导状态识别的模型的泛化能力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119963559A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510452247.5
申请日：2025-04-10
Applicant: 季华实验室
IPC: G06T7/00 , G06N3/0464 , G06N3/0495 , G06N3/08 , G06T7/13 , G06V10/10 , G06V10/20 , G06V10/25 , G06V10/26 , G06V10/764 , H01F41/02
Abstract: 本发明涉及图像处理领域，本发明公开了一种缺陷检测和评级方法、装置、设备及存储介质，缺陷检测和评级方法包括：对电感进行图像采集，以得到基础图像；构建语义分割网络，并利用语义分割网络对基础图像进行区域提取，以得到线圈轮廓区域；对线圈轮廓区域进行图像处理和区域筛选，以得到特征区域；提取磁芯中心坐标，并计算特征区域的边缘点与磁芯中心坐标的距离，以得到磁芯距离数据；构建缺陷等级量化神经网络，并利用缺陷等级量化神经网络对磁芯距离数据进行评级，以得到评级结果；本发明综合运用多样化的图像处理技术和神经网络，全面优化了缺陷检测的流程和精度，显著提高了检测的准确性和效率。
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公开(公告)号：CN119483335A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202510022525.3
申请日：2025-01-07
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种压电惯性位移系统，涉及运动平台技术领域，所述压电惯性位移系统包括底座、对称预紧结构、传动件及传递台；所述对称预紧结构包括压电执行元件、弹性件及至少一个摩擦元件，所述压电执行元件与所述底座连接，所述弹性件与所述压电执行元件远离所述底座的一端连接，所述摩擦元件与所述弹性件连接；所述传动件滑动连接于所述底座，并与所述摩擦元件背向所述弹性件的一端相邻设置；所述传递台与所述传动件连接；所述压电执行元件用于驱动所述弹性件带动所述摩擦元件靠近或远离所述传动件，以控制所述传递台进行惯性运动。本发明提供的技术方案简化压电惯性位移系统的结构，降低加工难度，从而降低压电惯性位移系统的生产成本。
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公开(公告)号：CN117664933B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410132585.6
申请日：2024-01-31
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种激光光谱检测装置、方法、电子设备及存储介质，属于光谱检测技术领域，该装置包括：摆动工作台，摆动工作台用于放置样品；显微镜系统，显微镜系统位于摆动工作台的上方；倾斜角度检测模块，倾斜角度检测模块位于显微镜系统的一侧，用于检测放置在所述摆动工作台上的所述样品的倾斜角度；光谱仪，光谱仪位于显微镜系统与倾斜角度检测模块相对的另一侧；激光器，激光器位于显微镜系统的上方；主控模块，主控模块与摆动工作台、倾斜角度检测模块、光谱仪均通信连接。本发明实现了对表面不平整样品进行分析时，提高光谱分析精度的技术效果。
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公开(公告)号：CN117871474A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311740973.4
申请日：2023-12-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供一种检测设备及检测方法，检测设备包括样品台、激光入射模块、成像模块、光谱检测模块和探针检测模块，样品台用于放置样品；激光入射模块用于发出入射光线射向样品；成像模块用于获取样品的图像信息；光谱检测模块接收入射光线入射至样品后返回的信号，以根据信号获取样品的光谱；探针检测模块，探针检测模块包括不导电探针和检测子模块，不导电探针检测过程中与样品保持预设距离范围设置，检测子模块用于接收探针的变化信号以获取样品的表面形貌。该检测设备能够克服接触性检测中探针损伤，提高检测效率及降低检测成本；且能够在获取样品表面形貌的同时采集当前点的光谱信息，实现“图谱合一”的更高精度检测。
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公开(公告)号：CN117146780A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202311425149.X
申请日：2023-10-31
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种成像方法、终端设备及介质，该方法包括：获取所述成像系统采集的可见光图像、短波红外图像、可见光偏振度图像以及短波红外偏振度图像中的一个或者多个，作为待检测图像；在所述待检测图像为多个时，将多个所述待检测图像进行图像融合，得到成像结果，否则，将所述待检测图像作为成像结果。本发明能够实现高质量的多模态成像。
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