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公开(公告)号：CN116190295B
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202310480227.X
申请日：2023-04-28
Applicant: 季华实验室
IPC: H01L21/68 , H01L21/683 , H01L33/00
Abstract: 本发明涉及半导体加工技术领域，特别涉及一种半导体元器件转移装置及转移方法，在使用转移印章对半导体元器件进行转移时对转移印章的运动精度进行准确测量的目的，进而能够提升转移印章与半导体元器件之间的对准精度，保证了制备的产品的良品率，解决了相关技术中转移印章与临时载板或驱动电路背板对齐后，仅依靠导轨的大行程上下运动无法保证Micro LED芯片的精确拾取或者准确放置到驱动电路背板预定位置，从而导致转移的良率下降，影响后续相关制程的技术问题。
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公开(公告)号：CN116394657A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310663504.0
申请日：2023-06-06
Applicant: 季华实验室
IPC: B41J2/145
Abstract: 本申请属于打印技术领域，公开了一种多分辨率打印方法及装置，所述装置包括安装座，安装座能够绕z轴转动；至少两个喷头，每个喷头包括多个沿x轴方向以第一间隔等间隔排布的喷孔，各喷头沿y轴方向以第二间隔等间隔排布地设置在安装座上，且第二间隔可调；沿y轴方向，从第二个喷头起，各喷头的喷孔依次沿x轴的同一方向相对上一个喷头的喷孔偏移第一偏移距离，第一偏移距离与第一间隔满足关系：Of=No/M，其中Of为第一偏移距离，No为第一间隔，M为喷头的总数；从而能够实现多种分辨率的打印，且分辨率的调节范围大，适用性强。
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公开(公告)号：CN115373433B
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202211306426.0
申请日：2022-10-25
Applicant: 季华实验室(CN)
IPC: G05D3/12
Abstract: 本发明属于自动控制技术领域，公开了一种转台运动补偿方法、装置、设备及存储介质。该方法应用于曲柄滑块式转台，包括：确定初始条件参数，并根据初始条件参数构建转台控制函数；获取旋转组件对应的多个分段旋转角度；分别根据各个分段旋转角度驱动曲柄滑块式转台进行旋转，记录各分段对应的测量旋转角度；根据各分段对应的分段旋转角度和测量旋转角度计算转角偏差；根据转台控制函数将转角偏差转换为直线运动误差；根据直线运动误差对各分段下直线运动模块的直线运动位移进行补偿。通过上述方式，对转角进行校准，补偿直线运动模块的直线运动位移，提升了曲柄滑块式转台转角的控制精度。
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公开(公告)号：CN119832304A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411883147.X
申请日：2024-12-19
Applicant: 季华实验室
IPC: G06V10/764 , G06V10/82 , G06V10/774 , G06V10/25 , G06V10/26 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06T7/00 , G06T7/10
Abstract: 本发明涉及计算机视觉技术领域，具体涉及一种缺陷检测方法、装置及设备，本发明通过获取历史缺陷样本集及扩充集生成第一缺陷样本集，涵盖更多缺陷情况，提升模型对复杂缺陷适应力；其次，利用深度卷积神经网络模型等预处理并生成Micro LED缺陷检测模型，提高检测精度，准确标注分类相似缺陷，保障检测结果可靠；再者，自动化样本集生成与模型优化节省时间精力，模型能够快速准确地助力生产决策；最后，该模型利于提升生产决策质量、推动科技创新，助力解决生产问题，保障工业可持续发展。
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公开(公告)号：CN117969555B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410375031.9
申请日：2024-03-29
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种墨滴打印漏点检测方法、装置、设备及介质，将基板可活动地安装于基台，再使得基板的一侧面形成像素坑阵列，并使得像素坑阵列中包括多个沿预设打印方向依次排列的多个像素坑子阵列，再将打印模块以及视觉检测机构均位于像素坑阵列的上方，通过控制打印模块对多个像素坑子阵列中的目标像素子阵列填充墨滴以进行打印，并控制视觉检测机构采集上一完成打印子阵列的当前图像信息，根据当前图像信息，对上一完成打印子阵列进行漏点检测，在进行墨滴打印的打印过程中即可实现对基板上已完成打印的像素坑中是否存在漏点的情况进行即时检测，实现了对墨滴打印中的像素坑中存在的漏点进行实时检测的功能，节约打印时间，提升打印效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116811447A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202311081736.1
申请日：2023-08-25
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请涉及视觉定位技术领域，公开了一种基板纠偏和定位方法及相关设备，该基板纠偏和定位方法：通过获取基板偏转的基准角度以及目标位置，在基板实际纠偏和定位中，获取实时的基板偏转的实际角度和基板的实际位置，根据基准角度和实际角度的角度偏差控制转台对基板进行纠偏，根据目标位置和实际位置的位置偏差控制工作台对基板进行定位，解决了由于现有对多相机无共同视野进行标定的方法成本较高，标定过程复杂，计算繁琐的基板纠偏问题，通过本申请设置的基板纠偏和定位方法，不但可以满足基板纠偏微米级精度，而且相较于利用三维立体坐标系标定更加简单和高效。
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公开(公告)号：CN114792344B
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210723777.5
申请日：2022-06-24
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于标定领域，提供一种多相机位置标定方法、装置、系统及存储介质。包括以下步骤：移动具有多个特征点区域的标定板，使得多个相机的多个视野范围内分别具有多个特征点区域中的一个特征点区域；采集多个相机对应视野范围内的图像；获取多个图像，得到每个图像中特征点的像素坐标，建立多个图像坐标系；以标定板的平面建立世界坐标系，计算多个图像坐标系与世界坐标系的关系，得到世界坐标系下多个特征点的对应关系；根据世界坐标系下多个特征点的对应关系与标定板上特征点的位置关系，计算得到多个相机之间的位姿关系。本申请多相机位置标定方法、装置、系统及存储介质能够在多相机无共同视野的情况下进行标定，标定过程简单，计算容易。
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公开(公告)号：CN114792344A
公开(公告)日：2022-07-26
申请号：CN202210723777.5
申请日：2022-06-24
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于标定领域，提供一种多相机位置标定方法、装置、系统及存储介质。包括以下步骤：移动具有多个特征点区域的标定板，使得多个相机的多个视野范围内分别具有多个特征点区域中的一个特征点区域；采集多个相机对应视野范围内的图像；获取多个图像，得到每个图像中特征点的像素坐标，建立多个图像坐标系；以标定板的平面建立世界坐标系，计算多个图像坐标系与世界坐标系的关系，得到世界坐标系下多个特征点的对应关系；根据世界坐标系下多个特征点的对应关系与标定板上特征点的位置关系，计算得到多个相机之间的位姿关系。本申请多相机位置标定方法、装置、系统及存储介质能够在多相机无共同视野的情况下进行标定，标定过程简单，计算容易。
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公开(公告)号：CN117969555A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410375031.9
申请日：2024-03-29
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种墨滴打印漏点检测方法、装置、设备及介质，将基板可活动地安装于基台，再使得基板的一侧面形成像素坑阵列，并使得像素坑阵列中包括多个沿预设打印方向依次排列的多个像素坑子阵列，再将打印模块以及视觉检测机构均位于像素坑阵列的上方，通过控制打印模块对多个像素坑子阵列中的目标像素子阵列填充墨滴以进行打印，并控制视觉检测机构采集上一完成打印子阵列的当前图像信息，根据当前图像信息，对上一完成打印子阵列进行漏点检测，在进行墨滴打印的打印过程中即可实现对基板上已完成打印的像素坑中是否存在漏点的情况进行即时检测，实现了对墨滴打印中的像素坑中存在的漏点进行实时检测的功能，节约打印时间，提升打印效率。
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公开(公告)号：CN116394657B
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310663504.0
申请日：2023-06-06
Applicant: 季华实验室
IPC: B41J2/145
Abstract: 本申请属于打印技术领域，公开了一种多分辨率打印方法及装置，所述装置包括安装座，安装座能够绕z轴转动；至少两个喷头，每个喷头包括多个沿x轴方向以第一间隔等间隔排布的喷孔，各喷头沿y轴方向以第二间隔等间隔排布地设置在安装座上，且第二间隔可调；沿y轴方向，从第二个喷头起，各喷头的喷孔依次沿x轴的同一方向相对上一个喷头的喷孔偏移第一偏移距离，第一偏移距离与第一间隔满足关系：Of=No/M，其中Of为第一偏移距离，No为第一间隔，M为喷头的总数；从而能够实现多种分辨率的打印，且分辨率的调节范围大，适用性强。
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