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公开(公告)号：CN117825767A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202410252945.6
申请日：2024-03-06
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及电学检测技术领域，特别公开一种单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法，其中，所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构；所述宏动机构设于所述基座，所述微动机构设于所述宏动机构；所述微动机构安装有探针和单分子器件中二者之一，所述宏动机构安装有所述探针和所述单分子器件中二者之另一；所述宏动机构和所述微动机构运动，并带动所述探针和所述单分子器件相互靠近，以使所述探针与所述单分子器件接触导通。本发明技术方案无需设置高精度仪器和极端实验环境也能实现单分子器件探针进针的动作，进而降低单分子器件的电学检测难度。
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公开(公告)号：CN119989067A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510473846.5
申请日：2025-04-16
Applicant: 季华实验室
IPC: G06F18/24 , G06F18/213 , G06F18/214 , G06N3/096 , G06N3/084
Abstract: 本申请公开了一种单分子电导识别方法、装置、设备及计算机可读存储介质，本申请涉及单分子电学测量技术领域，该方法包括：获取源域数据、目标域数据和源域数据的真实电导标签；将源域数据和目标域数据输入至待训练模型，得到源域数据和目标域数据各自的电导特征和预测电导标签；基于各电导特征、各预测电导标签和真实电导标签优化待训练模型，得到新的待训练模型，并返回执行将源域数据和目标域数据输入至待训练模型的步骤，直至待训练模型满足预设的训练终止条件，得到迁移学习模型，以通过迁移学习模型进行单分子电导状态识别。本申请能够提升用于单分子电导状态识别的模型的泛化能力。
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公开(公告)号：CN119483335A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202510022525.3
申请日：2025-01-07
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种压电惯性位移系统，涉及运动平台技术领域，所述压电惯性位移系统包括底座、对称预紧结构、传动件及传递台；所述对称预紧结构包括压电执行元件、弹性件及至少一个摩擦元件，所述压电执行元件与所述底座连接，所述弹性件与所述压电执行元件远离所述底座的一端连接，所述摩擦元件与所述弹性件连接；所述传动件滑动连接于所述底座，并与所述摩擦元件背向所述弹性件的一端相邻设置；所述传递台与所述传动件连接；所述压电执行元件用于驱动所述弹性件带动所述摩擦元件靠近或远离所述传动件，以控制所述传递台进行惯性运动。本发明提供的技术方案简化压电惯性位移系统的结构，降低加工难度，从而降低压电惯性位移系统的生产成本。
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公开(公告)号：CN117871474A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311740973.4
申请日：2023-12-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供一种检测设备及检测方法，检测设备包括样品台、激光入射模块、成像模块、光谱检测模块和探针检测模块，样品台用于放置样品；激光入射模块用于发出入射光线射向样品；成像模块用于获取样品的图像信息；光谱检测模块接收入射光线入射至样品后返回的信号，以根据信号获取样品的光谱；探针检测模块，探针检测模块包括不导电探针和检测子模块，不导电探针检测过程中与样品保持预设距离范围设置，检测子模块用于接收探针的变化信号以获取样品的表面形貌。该检测设备能够克服接触性检测中探针损伤，提高检测效率及降低检测成本；且能够在获取样品表面形貌的同时采集当前点的光谱信息，实现“图谱合一”的更高精度检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117869547A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311795777.7
申请日：2023-12-25
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开一种位移缩小装置及驱动系统，涉及精密驱动与传动技术领域，基于差动原理结合柔性铰链的方案，设计对称式差动杠杆组，搭建柔性位移缩小机构，使用带闭环反馈的压电堆叠线性致动器提供位移输入，实现了位移的快速响应和位移输出的稳定性，能够根据使用需求，设计出不同的缩小倍率和位移输出方向，提高了设计的灵活性。
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公开(公告)号：CN119681475A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411924703.3
申请日：2024-12-25
Applicant: 季华实验室
IPC: B23K26/70 , B23K26/0622 , B23K26/064 , B23K26/082 , G01B11/02
Abstract: 本申请公开了一种激光修复监测装置、方法、存储介质及程序产品，涉及激光修复技术领域，装置包括：工控系统；脉冲激光器，脉冲激光器与工控系统通信连接，工控系统控制脉冲激光器发出修复激光；激光修复光路，修复激光经过激光修复光路会聚至样品，对样品进行修复；检测模块，检测模块与工控系统通信连接，检测模块发出的检测光线经过激光修复光路到达样品的修复位置，从修复位置经过激光修复光路反射回检测模块中；检测模块中包括探测器，探测器实时探测反射的检测光线。本申请能够实现激光修复过程的实时监测，提高激光修复效果。
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公开(公告)号：CN119395001A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202510000423.1
申请日：2025-01-02
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种光纤探头、光纤LIBS远程探测系统及方法，涉及激光探测技术领域，光纤探头包括：外壳，以及沿激光入射方向依次设置在外壳内的准直镜、聚焦镜和二次曲面反射腔；二次曲面反射腔包括上端面和下端面，下端面与样品接触，上端面与聚焦镜接触；下端面的中心为聚焦镜的焦点，且聚焦镜的焦点与二次曲面反射腔的第一焦点重合；在光谱激发阶段，激光入射后经准直镜准直，由聚焦镜聚焦在样品表面，激发产生等离子体，二次曲面反射腔对等离子体产生空间约束；在光谱收集阶段，等离子体产生的辐射光直接被聚焦镜会聚收集，或经过二次曲面反射腔被反射至聚焦镜会聚收集。本申请提高了光纤LIBS探测的灵敏度，且实现了自动聚焦。
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公开(公告)号：CN118937723A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411200198.8
申请日：2024-08-29
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种原子力探针固定装置及控制方法、原子力显微镜、介质，涉及显微技术领域，包括：探针支撑座；探针，探针安装在探针支撑座的前端凹槽内；压力传感器，压力传感器安装在探针支撑座的尾部沟槽内；压紧簧片，压紧簧片位于探针下方，将探针夹紧；探针旋转支座，探针支撑座固定在探针旋转支座的下方；旋转电机，旋转电机与探针旋转支座之间连接，旋转电机的转动使得探针旋转支座的倾角发生变化。本申请实现了拓展原子力显微镜适用的样品种类的技术效果。
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公开(公告)号：CN117825767B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410252945.6
申请日：2024-03-06
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及电学检测技术领域，特别公开一种单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法，其中，所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构；所述宏动机构设于所述基座，所述微动机构设于所述宏动机构；所述微动机构安装有探针和单分子器件中二者之一，所述宏动机构安装有所述探针和所述单分子器件中二者之另一；所述宏动机构和所述微动机构运动，并带动所述探针和所述单分子器件相互靠近，以使所述探针与所述单分子器件接触导通。本发明技术方案无需设置高精度仪器和极端实验环境也能实现单分子器件探针进针的动作，进而降低单分子器件的电学检测难度。
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