双金属纳米颗粒催化剂及其制备方法

    公开(公告)号:CN101940952B

    公开(公告)日:2012-09-05

    申请号:CN201010254993.7

    申请日:2010-08-17

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 林阳辉 蒋涛

    Abstract: 本发明属于无机有机杂化材料技术领域,具体为一种双金属纳米颗粒催化剂及其制备方法。本发明利用乙酰丙酮镍、乙酰丙酮铂和乙酰丙酮钯在不同有机溶剂中的不同溶解度,在混合溶剂中制备出催化剂前驱体,或者利用铂、钯金属纳米颗粒生长中的协同作用,最终使双金属纳米颗粒均匀分布在碳纳米管表面,得到两种双金属纳米颗粒催化剂。该复合材料的催化剂在催化有机偶合反应中具有较好的催化性能,该性质在有机合成中具有潜在的应用前景。

    一种改善超低介电常数多孔SiCOH薄膜抗吸湿性能的方法

    公开(公告)号:CN103646913A

    公开(公告)日:2014-03-19

    申请号:CN201310565850.1

    申请日:2013-11-14

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 丁士进 蒋涛 张卫

    CPC classification number: H01L21/76825

    Abstract: 本发明公开了一种改善超低介电常数多孔SiCOH薄膜抗吸湿性能的方法,该方法是将k值为1.6-2.0的超低介电常数多孔SiCOH薄膜,在环境温度下,置于紫外光下进行照射,以提高薄膜的抗吸湿性能,其中,紫外光波长范围为200-400nm,环境温度为50-100℃,照射时间为2-10小时。通过上述处理,薄膜的抗吸湿性能显著改善,而不影响薄膜的其他性能;常温下在湿度为80%的环境中静置12h以上k值仅上升1-5%。本发明所提出的方法,不仅能改善薄膜的疏水性能,还能改善薄膜的力学性能(杨氏模量和硬度)以及漏电性能;操作过程简单、可控性好、成本低。本发明的方法所得到的SiCOH薄膜具有足够低的介电常数(k

    一种多孔低介电常数材料SiCOH薄膜的刻蚀方法

    公开(公告)号:CN103000513A

    公开(公告)日:2013-03-27

    申请号:CN201210554308.1

    申请日:2012-12-19

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于超大规模集成电路制造技术领域,具体为一种多孔低介电常数材料SiCOH薄膜的刻蚀方法。本发明以CF3I和C4F8作为多孔SiCOH薄膜的主要刻蚀气源,并添加O2作为氧化剂,通过调节刻蚀各气源的流量比,实现对多孔低介电常数SiCOH薄膜的高效刻蚀。刻蚀后所获得的薄膜受损伤程度较小、残留杂质浓度很低,并且具有优越的图案保形性能,适用于45nm以下的超大规模集成电路制造工艺。

    一种多孔低介电常数材料SiCOH薄膜的刻蚀方法

    公开(公告)号:CN103000513B

    公开(公告)日:2015-10-28

    申请号:CN201210554308.1

    申请日:2012-12-19

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于超大规模集成电路制造技术领域,具体为一种多孔低介电常数材料SiCOH薄膜的刻蚀方法。本发明以CF3I和C4F8作为多孔SiCOH薄膜的主要刻蚀气源,并添加O2作为氧化剂,通过调节刻蚀各气源的流量比,实现对多孔低介电常数SiCOH薄膜的高效刻蚀。刻蚀后所获得的薄膜受损伤程度较小、残留杂质浓度很低,并且具有优越的图案保形性能,适用于45nm以下的超大规模集成电路制造工艺。

    一种基于BTEM前驱体的超低介电常数薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN104078420A

    公开(公告)日:2014-10-01

    申请号:CN201410337539.6

    申请日:2014-07-16

    Applicant: 复旦大学

    CPC classification number: H01L21/76829 H01L23/5329

    Abstract: 本发明属于超大规模集成电路制造技术领域,具体为一种基于BTEM前驱体的超低介电常数薄膜及其制备方法。本发明以1,2-二(三乙氧基硅基)甲烷为前驱体,通过添加表面活性剂聚环氧乙烷-聚环氧丙烷-聚环氧乙烷三嵌段共聚物、盐酸、乙醇和去离子水,制备溶胶溶液;然后,采用旋涂技术和后退火处理,获得性能良好的超低介电常数薄膜材料,其介电常数值(k)在1.8-2.0之间,0.5MV/cm的电场强度下漏电流密度在10-10-10-9 A/cm2数量级,杨氏模量为8-20GPa,硬度为0.8-1.5GPa。

    一种超低介电常数材料薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN102683275A

    公开(公告)日:2012-09-19

    申请号:CN201210187160.2

    申请日:2012-06-08

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于超大规模集成电路技术领域,具体为一种超低k材料薄膜及其制备方法。本发明以1,2-二(三乙氧基硅基)乙烷(BTEE)为前驱体,通过添加表面活性剂P123、HCl、乙醇和去离子水,制备溶胶溶液。然后,采用旋涂技术和后退火处理,获得超低k材料薄膜。通过控制前驱体、表面活性剂、催化剂和溶剂的比例,以及旋涂成膜条件和后处理条件,获得k值在2.1~2.5之间,在1MV/cm的电场强度下漏电流密度为1.5×10-6~3.4×10-9A/cm2,杨氏模量为21.05~24.15GPa,硬度为2.3~2.69GPa的超低k材料SiCOH薄膜。

    双金属纳米颗粒催化剂及其制备方法

    公开(公告)号:CN101940952A

    公开(公告)日:2011-01-12

    申请号:CN201010254993.7

    申请日:2010-08-17

    Applicant: 复旦大学

    Inventor: 林阳辉 蒋涛

    Abstract: 本发明属于无机有机杂化材料技术领域,具体为一种双金属纳米颗粒催化剂及其制备方法。本发明利用乙酰丙酮镍、乙酰丙酮铂和乙酰丙酮钯在不同有机溶剂中的不同溶解度,在混合溶剂中制备出催化剂前驱体,或者利用铂、钯金属纳米颗粒生长中的协同作用,最终使双金属纳米颗粒均匀分布在碳纳米管表面,得到两种双金属纳米颗粒催化剂。该复合材料的催化剂在催化有机偶合反应中具有较好的催化性能,该性质在有机合成中具有潜在的应用前景。

    一种基于BTEM前驱体的超低介电常数薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN104078420B

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201410337539.6

    申请日:2014-07-16

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明属于超大规模集成电路制造技术领域,具体为一种基于BTEM前驱体的超低介电常数薄膜及其制备方法。本发明以1,2-二(三乙氧基硅基)甲烷为前驱体,通过添加表面活性剂聚环氧乙烷-聚环氧丙烷-聚环氧乙烷三嵌段共聚物、盐酸、乙醇和去离子水,制备溶胶溶液;然后,采用旋涂技术和后退火处理,获得性能良好的超低介电常数薄膜材料,其介电常数值(k)在1.8-2.0之间,0.5 MV/cm的电场强度下漏电流密度在10-10-10-9  A/cm2数量级,杨氏模量为8-20 GPa,硬度为0.8-1.5 GPa。

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