变容器与形成其的方法以及应用此变容器的三维集成电路

    公开(公告)号:CN102280496B

    公开(公告)日:2013-04-10

    申请号:CN201010533990.7

    申请日:2010-11-01

    CPC classification number: H01L27/016 H01L29/93

    Abstract: 本发明揭露一种变容器与形成其的方法以及应用此变容器的三维集成电路。此变容器包含半导体基材、介电层、导电材料与杂质植入区域。半导体基材具有穿过基材表面的开口。介电层是设置于开口中的侧表面上。导电材料是形成介电层上并填充开口,形成可导电的穿透基材介层窗。杂质植入区域是设置于基材中且环绕穿透基材介层窗与介电层。此三维集成电路包含此变容器、电感与主动电路。在形成变容器的方法中,首先提供基材。接着,形成开口于基材的第一表面上。然后,植入杂质于环绕开口的侧壁上。接着,形成介电层于位在开口中的被植入杂质的侧壁上。接着,以导电材料来填充开口。

    变容器与形成其的方法以及应用此变容器的三维集成电路

    公开(公告)号:CN102280496A

    公开(公告)日:2011-12-14

    申请号:CN201010533990.7

    申请日:2010-11-01

    CPC classification number: H01L27/016 H01L29/93

    Abstract: 本发明揭露一种变容器与形成其的方法以及应用此变容器的三维集成电路。此变容器包含半导体基材、介电层、导电材料与杂质植入区域。半导体基材具有穿过基材表面的开口。介电层是设置于开口中的侧表面上。导电材料是形成介电层上并填充开口,形成可导电的穿透基材介层窗。杂质植入区域是设置于基材中且环绕穿透基材介层窗与介电层。此三维集成电路包含此变容器、电感与主动电路。在形成变容器的方法中,首先提供基材。接着,形成开口于基材的第一表面上。然后,植入杂质于环绕开口的侧壁上。接着,形成介电层于位在开口中的被植入杂质的侧壁上。接着,以导电材料来填充开口。

    半导体装置的形成方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112563204A

    公开(公告)日:2021-03-26

    申请号:CN202011026437.4

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 披露了半导体装置与其制造方法。例示性的方法包括:于基板的第一区中形成含第一半导体材料的第一半导体层;于第一半导体层与基板上交错沉积多个第二半导体层与多个第三半导体层,以形成半导体层堆叠,其中第二半导体层包括第二半导体材料,第三半导体层包括第一半导体材料,第二半导体材料与第一半导体材料不同,第二半导体层的一者的下表面接触第一区中的第一半导体层与基板的第二区中的基板;平坦化半导体层堆叠的上表面;以及图案化半导体层堆叠,以于第一区中形成第一半导体结构,以及于第二区中形成第二半导体层结构。

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