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公开(公告)号：CN117993627A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202211317115.4
申请日：2022-10-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06Q10/0631 , G06Q10/0875 , G06F16/23 , G06F16/28 , G06F16/9536 , G06F16/9538
Abstract: 本发明涉及一种智能选型的元器件数据管理系统，属于信息管理技术领域；该系统包括：多元元器件数据库模块、个人数据管理模块和数据智能推荐发布模块；其中，多元元器件数据库模块用于分类存储元器件信息；个人数据管理模块用于采集用户对多元元器件数据库模块中的元器件的评测数据、评论信息和用户对元器件的收藏及搜索记录并进行存储；数据智能推荐发布模块用于接收用户的元器件搜索或选型请求，并根据搜索请求查找得到相应的元器件信息并进行推送；或根据元器件选型请求，通过智能推荐算法得到推荐元器件信息并进行推送；解决了现有技术元器件选型过程中无法结合元器件的属性特征和用户的选用意图，选型结果与用户的预期结果偏差较大的问题。
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公开(公告)号：CN111858544B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN201910353371.0
申请日：2019-04-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F16/21 , G06F16/2458 , G06F16/25 , G06F16/27 , G06F21/62
Abstract: 本发明提供了一种元器件信息管理系统，包括信息库、数据发布模块、数据维护模块、个人数据管理模块、数据分析模块、选用管理模块、质量控制模块、选用预警模块和流程管理模块，该系统集成丰富的支撑数据库，通过数据管理软件，制定元器件数据统一、规范化管理流程，形成规范化、结构化的数据。
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公开(公告)号：CN115882857A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202111138823.7
申请日：2021-09-27
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明公开了一种基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有双极性ADC静态参数测试方法存在的硬件结构复杂或软件编程难度大的问题。该方法包括：将待测双极性ADC连接至ATE，并对双极性ADC中的数字输出管脚进行输出高、低电平测试；若输出高、低电平测试通过，则ATE对待测双极性ADC进行测试条件配置；测试条件包括正、负极性测试pattern；正、负极性测试pattern中的测试位数为n‑1，n为双极性ADC的位数；ATE分别基于正、负极性测试pattern对待测双极性ADC进行正、负极性输出采样；正、负极性输出采样均不包括最高位的数字输出管脚；基于正、负极性输出采样结果及测试位数，获取并判断待测双极性ADC静态参数INL是否测试通过。
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公开(公告)号：CN112285524B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN201910669311.X
申请日：2019-07-24
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提出一种混合集成电路老炼试验工装及方法，包括老炼板、承载板、器件固定结构和测试结构，老炼板和承载板平行固定，两者之间存在一定空隙，器件固定结构和测试结构安装在承载板上，测试结构对称分布在器件固定结构两侧，器件固定结构固定待测器件。本发明采用了特殊的测试结构，金属弹簧探针与器件管脚柔性接触，在保证与器件管脚的有效接触的同时，避免了对管脚的伤害。
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公开(公告)号：CN114389082B
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202011115658.9
申请日：2020-10-19
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: H01R13/405 , H01R13/6591 , H01R24/40
Abstract: 本发明公开一种同轴探针连接器，与同轴探针连接器连接器进行屏蔽连接的结构体外部使用金属外壳封装，并具有金属插针，同轴探针连接器包括同轴连接器(1)、内层导体、绝缘子(3)以及外层导体，内层导体与金属插针电接触，绝缘子(3)为内层导体与金属插针提供绝缘功能，外层导体与同轴连接器(1)裸露的金属外导体固定连接，形成同轴接口。本发明可为金属封装的电子元器件的圆柱体金属插针式引出端提供屏蔽。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114389082A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202011115658.9
申请日：2020-10-19
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: H01R13/405 , H01R13/6591 , H01R24/40
Abstract: 本发明公开一种同轴探针连接器，与同轴探针连接器连接器进行屏蔽连接的结构体外部使用金属外壳封装，并具有金属插针，同轴探针连接器包括同轴连接器(1)、内层导体、绝缘子(3)以及外层导体，内层导体与金属插针电接触，绝缘子(3)为内层导体与金属插针提供绝缘功能，外层导体与同轴连接器(1)裸露的金属外导体固定连接，形成同轴接口。本发明可为金属封装的电子元器件的圆柱体金属插针式引出端提供屏蔽。
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公开(公告)号：CN112285524A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN201910669311.X
申请日：2019-07-24
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提出一种混合集成电路老炼试验工装及方法，包括老炼板、承载板、器件固定结构和测试结构，老炼板和承载板平行固定，两者之间存在一定空隙，器件固定结构和测试结构安装在承载板上，测试结构对称分布在器件固定结构两侧，器件固定结构固定待测器件。本发明采用了特殊的测试结构，金属弹簧探针与器件管脚柔性接触，在保证与器件管脚的有效接触的同时，避免了对管脚的伤害。
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公开(公告)号：CN112285523B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN201910669294.X
申请日：2019-07-24
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提出一种混合集成电路检测系统及方法，包括资源盒和检测夹具，所述的检测夹具包括PCB板、承载板、信号输入接口、检测探针结构和推动结构，资源盒与检测夹具之间通过信号输入接口进行电信号传递，PCB板和承载板平行固定，两者之间存在一定空隙，检测探针结构和推动结构安装在承载板上。本发明采用了特殊的检测夹具，金属弹簧探针与器件管脚柔性接触，在保证与器件管脚的有效接触的同时，避免了对管脚的伤害。
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公开(公告)号：CN117992464A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202211317611.X
申请日：2022-10-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F16/23 , G06Q10/0875 , G06Q10/0631 , G06F18/22 , G06F16/9536 , G06F16/9538
Abstract: 本发明涉及一种基于用户需求的物料清单更新方法，属于信息管理技术领域；该方法包括以下步骤：获取多个用户对元器件数据库中所有元器件的评测数据；根据相似度算法得到与目标用户需求相似的a个用户，并获取需求相似的用户对所有元器件的评测结果，得到相似用户评测矩阵；基于相似用户评测矩阵，选择评测结果低于预设阈值的元器件，构建待替代元器件集合；基于相似用户评测矩阵，通过智能推荐算法，对待替代元器件集合中的元器件进行替代元器件推荐；基于推荐得到的替代元器件，得到更新后的物料清单；本发明解决了现有的物料清单更新方法的更新效率低，且更新过程依赖于技术人员的技术水平，导致更新后的物料清单与用户需求不符的问题。
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公开(公告)号：CN117972223A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202211317612.4
申请日：2022-10-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F16/9536 , G06F16/9538
Abstract: 本发明涉及一种元器件智能推荐方法，属于信息管理技术领域；包括以下步骤：提供元器件数据库，获取目标用户的需求元器件的属性特征清单；遍历元器件数据库，得到与需求元器件相同分类信息的元器件集合T；利用相似系数算法计算需求元器件与元器件集合T中每个元器件的综合相似度值，得到第一元器件推荐列表；获取多个用户对元器件的评测数据，建立评测矩阵；基于评测矩阵，得到第二元器件推荐列表；基于第一元器件推荐列表和第二元器件推荐列表计算得到元器件融合推荐结果，得到基于目标用户的元器件推荐列表；解决了现有技术中元器件智能推荐方法无法结合元器件的属性特征和用户的选用意图，推荐结果不准确的问题。
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