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公开(公告)号：CN118277231A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202211709109.3
申请日：2022-12-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所 , 中国人民解放军96901部队
Abstract: 本发明涉及一种基于ATE的大规模FPGA测试方法，属于FPGA测试技术领域，解决了大规模FPGA测试过程中存在的硬件测试系统速度不够、软件配置方法不成熟的问题。该方法包括：编写适配于待测FPGA的功能模块的配置程序，并固化在配置FLASH中；待测FPGA和配置FLASH上电，待测FPGA从配置FLASH中载入前置BIT流文件，并进行前置配置；ATE选定功能模块，向待测FPGA发送该功能模块的配置指令，控制待测FPGA在主SPI模式下执行：从配置FLASH中载入该功能模块的可执行BIT流文件，并执行该功能模块的配置；ATE向待测FPGA发送该功能模块的测试指令，控制待测FPGA执行该功能模块的测试，并输出测试观测信号；ATE基于采集到的该功能模块的测试观测信号判断该功能模块是否测试通过。
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公开(公告)号：CN118277168A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202211709132.2
申请日：2022-12-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所 , 中国人民解放军96901部队
Abstract: 本发明涉及一种Virtex‑7系列FPGA的配置和测试方法，属于FPGA测试技术领域，解决了现有Virtex‑7系列FPGA测试过程中存在的软件配置方法不成熟的问题。该方法包括：编写适配于待测FPGA的功能模块的配置程序，并将所述配置程序固化在所述待测FPGA的配置FLASH中；所述配置程序包括前置BIT流文件、以及每一功能模块的可执行BIT流文件；待测FPGA和配置FLASH上电，待测FPGA从配置FLASH中载入前置BIT流文件，并进行前置配置；ATE选定功能模块，向待测FPGA发送该功能模块的配置指令及测试指令，控制待测FPGA在主SPI模式下执行该功能模块的配置和测试过程，并输出该功能模块的测试观测信号；ATE基于采集到的测试观测信号判断该功能模块是否测试通过。
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公开(公告)号：CN117993627A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202211317115.4
申请日：2022-10-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06Q10/0631 , G06Q10/0875 , G06F16/23 , G06F16/28 , G06F16/9536 , G06F16/9538
Abstract: 本发明涉及一种智能选型的元器件数据管理系统，属于信息管理技术领域；该系统包括：多元元器件数据库模块、个人数据管理模块和数据智能推荐发布模块；其中，多元元器件数据库模块用于分类存储元器件信息；个人数据管理模块用于采集用户对多元元器件数据库模块中的元器件的评测数据、评论信息和用户对元器件的收藏及搜索记录并进行存储；数据智能推荐发布模块用于接收用户的元器件搜索或选型请求，并根据搜索请求查找得到相应的元器件信息并进行推送；或根据元器件选型请求，通过智能推荐算法得到推荐元器件信息并进行推送；解决了现有技术元器件选型过程中无法结合元器件的属性特征和用户的选用意图，选型结果与用户的预期结果偏差较大的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117992463A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202211317113.5
申请日：2022-10-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F16/23 , G06Q10/0875 , G06Q10/0631 , G06F18/22 , G06F16/9536 , G06F16/9538
Abstract: 本发明涉及一种基于产品需求的BOM更新方法，属于信息管理技术领域；包括以下步骤：基于预先构建的元器件数据库，获取产品的原始元器件BOM中所有元器件的优选等级信息及多个用户对BOM中每个元器件的基于产品需求的评测结果；基于优选等级信息和评测结果，构建待替代元器件集合；基于元器件数据库，通过智能元器件推荐算法，对待替代元器件集合中的元器件进行替代元器件推荐；基于推荐得到的替代元器件及原始BOM中评测结果大于阈值的元器件，得到更新后的BOM；本发明解决了现有技术BOM更新方法的更新效率低，且更新过程依赖于技术人员的技术水平，导致更新后的BOM与预期结果可能不符的问题。
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公开(公告)号：CN118276959A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202211710660.X
申请日：2022-12-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所 , 中国人民解放军96901部队
IPC: G06F9/445
Abstract: 本发明涉及一种Virtex‑7系列FPGA的测试系统，属于FPGA测试技术领域，解决了现有FPGA测试系统无法适用于超大规模FPGA的问题。该测试系统包括：配置FLASH，用于固化存储适配于待测FPGA的功能模块的配置程序；配置程序包括前置BIT流文件、以及每一功能模块的可执行BIT流文件；上电后，待测FPGA从配置FLASH中载入前置BIT流文件并进行前置配置；ATE测试系统，包括：指令存储模块，用于存储每一功能模块的配置指令和测试指令；配置和测试控制模块，用于向待测FPGA发送各功能模块的配置指令和测试指令，以便待测FPGA载入相应功能模块的可执行BIT流文件、并执行相应配置和测试过程，测试结束后输出测试观测信号；测试判断模块，用于基于测试观测信号判断该功能模块是否测试通过。
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公开(公告)号：CN118275871A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202211709123.3
申请日：2022-12-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所 , 中国人民解放军96901部队
IPC: G01R31/317
Abstract: 本发明涉及一种Virtex‑7系列FPGA中关键功能模块的测试方法，属于FPGA测试技术领域，解决了现有Virtex‑7系列FPGA测试过程测试过程复杂、测试周期长的问题。该测试方法包括：ATE向待测FPGA发送一个功能模块的配置指令，控制待测FPGA在主SPI模式下载入该功能模块的可执行BIT流文件，并执行该功能模块的配置；在所述CLB功能模块和BRAM功能模块的可执行BIT流文件中进行级联配置；在所述DSP功能模块和PLL功能模块的可执行BIT流文件中进行片选配置；ATE向待测FPGA发送该功能模块的测试指令，控制待测FPGA执行该功能模块的测试，并输出该功能模块的测试观测信号；ATE基于采集到的该功能模块的测试观测信号判断该功能模块是否测试通过。
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公开(公告)号：CN117992464A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202211317611.X
申请日：2022-10-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F16/23 , G06Q10/0875 , G06Q10/0631 , G06F18/22 , G06F16/9536 , G06F16/9538
Abstract: 本发明涉及一种基于用户需求的物料清单更新方法，属于信息管理技术领域；该方法包括以下步骤：获取多个用户对元器件数据库中所有元器件的评测数据；根据相似度算法得到与目标用户需求相似的a个用户，并获取需求相似的用户对所有元器件的评测结果，得到相似用户评测矩阵；基于相似用户评测矩阵，选择评测结果低于预设阈值的元器件，构建待替代元器件集合；基于相似用户评测矩阵，通过智能推荐算法，对待替代元器件集合中的元器件进行替代元器件推荐；基于推荐得到的替代元器件，得到更新后的物料清单；本发明解决了现有的物料清单更新方法的更新效率低，且更新过程依赖于技术人员的技术水平，导致更新后的物料清单与用户需求不符的问题。
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公开(公告)号：CN117972223A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202211317612.4
申请日：2022-10-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F16/9536 , G06F16/9538
Abstract: 本发明涉及一种元器件智能推荐方法，属于信息管理技术领域；包括以下步骤：提供元器件数据库，获取目标用户的需求元器件的属性特征清单；遍历元器件数据库，得到与需求元器件相同分类信息的元器件集合T；利用相似系数算法计算需求元器件与元器件集合T中每个元器件的综合相似度值，得到第一元器件推荐列表；获取多个用户对元器件的评测数据，建立评测矩阵；基于评测矩阵，得到第二元器件推荐列表；基于第一元器件推荐列表和第二元器件推荐列表计算得到元器件融合推荐结果，得到基于目标用户的元器件推荐列表；解决了现有技术中元器件智能推荐方法无法结合元器件的属性特征和用户的选用意图，推荐结果不准确的问题。
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