公开(公告)号：CN115882857A

公开(公告)日：2023-03-31

申请号：CN202111138823.7

申请日：2021-09-27

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 李骥尧 ,  陈覃 ,  张厚政 ,  申晓杰

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有双极性ADC静态参数测试方法存在的硬件结构复杂或软件编程难度大的问题。该方法包括：将待测双极性ADC连接至ATE，并对双极性ADC中的数字输出管脚进行输出高、低电平测试；若输出高、低电平测试通过，则ATE对待测双极性ADC进行测试条件配置；测试条件包括正、负极性测试pattern；正、负极性测试pattern中的测试位数为n‑1，n为双极性ADC的位数；ATE分别基于正、负极性测试pattern对待测双极性ADC进行正、负极性输出采样；正、负极性输出采样均不包括最高位的数字输出管脚；基于正、负极性输出采样结果及测试位数，获取并判断待测双极性ADC静态参数INL是否测试通过。

公开(公告)号：CN118244073A

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN202211665000.4

申请日：2022-12-22

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 陈覃 ,  申晓杰 ,  张厚政 ,  赵波 ,  仇月鑫

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明涉及一种PWM功率放大器动态老炼系统，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有技术中无法对定频高压大功率方波信号进行实时的动态监测的问题。该系统包括上位机、驱动板、老炼板和高温箱；上位机用于控制外接电源对驱动板和老炼板上电，并向驱动板发送老炼参数；还用于接收驱动板发送的老炼信息并存储；驱动板用于根据老炼参数控制PWM功率放大器的动态老炼过程，采集并处理老炼过程中老炼板的老炼信息，并将老炼信息上传至上位机；老炼板用于放置多个被老炼的PWM功率放大器及其外围电路；老炼板置于高温箱中，高温箱用于提供老炼所需的环境温度应力。实现了多只PWM功率放大器的同时动态老炼实时监测进行寿命实验。

公开(公告)号：CN115882856A

公开(公告)日：2023-03-31

申请号：CN202111138813.3

申请日：2021-09-27

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 李骥尧 ,  陈覃 ,  申晓杰 ,  张厚政

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明涉及一种双极性DAC中静态参数DNL的快速测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有双极性DAC静态参数DNL测试方法存在的硬件结构复杂或软件编程难度大的问题。该方法包括：将待测双极性DAC连接至ATE；ATE对待测双极性DAC的模拟输出管脚进行输出电压范围测试，若输出电压范围测试通过，则ATE分别基于正、负极性测试pattern对待测双极性DAC进行正、负极性模拟输出采样；正、负极性测试pattern中的测试位数为n‑1，n为双极性DAC的位数；分别获取正、负极性模拟输出采样结果对应的正、负极性DNL，若正、负极性DNL中的较大值在待测双极性DAC的静态参数DNL判据范围内，则待测双极性DAC静态参数DNL测试通过，否则，测试不通过。

公开(公告)号：CN115882855A

公开(公告)日：2023-03-31

申请号：CN202111137047.9

申请日：2021-09-27

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 李骥尧 ,  陈覃 ,  申晓杰 ,  张厚政

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明涉及一种基于双极性DAC的静态参数INL测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有双极性DAC静态参数INL测试方法存在的硬件结构复杂或软件编程难度大的问题。该方法包括：将待测双极性DAC连接至ATE；DAC的最高位数字输入管脚不经反相器连接至ATE；对DAC分别进行正、负极性的INL测试，包括：ATE向双极性DAC的非最高位数字输入管脚发送数字输入阶梯波，并控制最高位数字输入管脚在正极性测试过程中保持低输入电平、在负极性测试过程中保持高输入电平，同时，在当前极性的INL测试过程中，对DAC的模拟输出管脚输出的电压进行同步采集；根据正、负极性的INL测试的同步采集结果获取INL实测值；若INL实测值在INL判据范围内，则测试通过，否则，测试不通过。

公开(公告)号：CN115865086A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202111137050.0

申请日：2021-09-27

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 李骥尧 ,  陈覃 ,  张厚政 ,  申晓杰

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种基于ATE的双极性ADC静态参数DNL快速测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有双极性ADC静态参数测试方法存在的硬件结构复杂或软件编程难度大的问题。该方法包括：将待测双极性ADC连接至ATE，ATE对待测双极性ADC进行测试条件配置；测试条件包括正、负极性测试pattern；正、负极性测试pattern中的测试位数为n‑1，n为双极性ADC的位数；ATE分别基于正、负极性测试pattern对待测双极性ADC进行正、负极性输出采样；正、负极性输出采样均不包括最高位的数字输出管脚；基于正、负极性输出采样结果及测试位数，获取待测双极性ADC静态参数DNL，并判断所述待测双极性ADC静态参数DNL是否测试通过。