平行面检测系统和方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114264254B

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202111546615.0

    申请日:2021-12-16

    Abstract: 本发明实施例提供平行面检测系统和方法,所述系统包括:第一平面,设置有第一检测区和第一反射镜,第二平面,设置有第二检测区和第二反射镜,面激光器,设置于第一平面和第二平面之间,分别向第一平面和第二平面发出第一激光和第二激光,第一激光和第二激光在一条直线上,当第一激光在第一检测区的位置与第二反射镜反射的光束在第一平面的位置重合,且第二激光在第二检测区的位置与第一反射镜反射的光束在第二平面的位置重合时,判定第一平面与第二平面平行且中心对准。本发明提高了平行面检测的结果准确度和一致性。

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