一种基于MC/DC覆盖准则的最小测试用例集生成方法和系统

    公开(公告)号:CN117234956A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202311520206.2

    申请日:2023-11-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于MC/DC覆盖准则的最小测试用例集生成方法和系统。根据条件逻辑表达式,绘制逻辑操作符的SCADE模型图;根据SCADE模型图,画出至少一条从输入到输出的完整的路径;激活任一条未被激活的路径,确定路径分析顺序,按照路径分析顺序,先对未被激活路径的条件赋值,再对激活路径的条件分别赋值1和0,得到两条测试用例;激活每一条未被激活的路径,分别得到对应的测试用例;删除重复的测试用例,得到测试用例集。能够仅用一套算法便可完成多种耦合条件下的最小测试用例集的设计,可100%覆盖逻辑表达式的MC/DC准则覆盖率要求,覆盖率高,算法理解简单,具有较强的操作性,能够提高软件测试效率。

    一种基于MC/DC覆盖准则的最小测试用例集生成方法和系统

    公开(公告)号:CN117234956B

    公开(公告)日:2024-01-19

    申请号:CN202311520206.2

    申请日:2023-11-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于MC/DC覆盖准则的最小测试用例集生成方法和系统。根据条件逻辑表达式,绘制逻辑操作符的SCADE模型图;根据SCADE模型图,画出至少一条从输入到输出的完整的路径;激活任一条未被激活的路径,确定路径分析顺序,按照路径分析顺序,先对未被激活路径的条件赋值,再对激活路径的条件分别赋值1和0,得到两条测试用例;激活每一条未被激活的路径,分别得到对应的测试用例;删除重复的测试用例,得到测试用例集。能够仅用一套算法便可完成多种耦合条件下的最小测试用例集的设计,可100%覆盖逻辑表达式的MC/DC准则覆盖率要求,覆盖率高,算法理解简单,具有较强的操作性,能够提高软件测试效率。

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