高真空泵抽速测试装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN117212121B

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311127210.2

    申请日:2023-09-04

    Abstract: 本发明涉及高真空泵抽速测试装置及其使用方法,包括进气管路、与进气管路相连接的测试管路以及与测试管路相连接的校准管路;进气管路包括依次连接的流量系统和第五阀门;测试管路包括依次连接的第三阀门、第一测试罩、待测高真空泵和第一前级泵,第一测试罩上还连接有第二真空计;校准管路包括依次连接的第四阀门、第二测试罩、标准流导元件、抽气机组,第二测试罩上还连接有第三真空计;第一测试罩通过第一阀门、第二阀门与第二测试罩连接,第一阀门与第二阀门之间连接有第一真空计;第一测试罩与第二测试罩为结构和尺寸均不相同的真空容器。本发明可提高测试精度,减小测量不确定度,降低测试成本,避免校准真空计和给出等效氮气抽速的结果。

    双基准合成电压产生电路

    公开(公告)号:CN117572927A

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202311511498.3

    申请日:2023-11-13

    Abstract: 本发明涉及一种双基准合成电压产生电路,包括:第一基准源电路和第二基准源电路;PWM电路,包括模拟开关和隔离芯片,所述模拟开关分别与所述第二基准源电路的输出端和所述隔离芯片连接;数字控制电路,通过数字控制芯片与所述隔离芯片连接;滤波电路,与所述模拟开关连接;积分反馈电路,与所述滤波模块连接;缓冲放大电路,与所述第二基准源电路和积分反馈电路的输出端连接;保护电路,输入端与所述第一基准源电路和所述缓冲放大电路连接,输出端与所述积分反馈电路连接。本发明采用双基准电压合成思路,减小了对精密电阻及温度的依赖性,减小因温度变化造成基准芯片输出的变化,同时可降低因PWM调制引入的高频噪声。

    一种火工品等效器件及装置

    公开(公告)号:CN111366045B

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202010193619.4

    申请日:2020-03-18

    Abstract: 本申请实施例公开了一种火工品等效器件及装置,火工品等效器件包括电路开关单元和可调恒流源单元,其中:所述电路开关单元,用于根据与所述器件连接的控制器件发送的开关控制信号,连通或断开用于为所述等效器件点火起爆提供电能的点火电源与所述可调恒流源单元之间的等效电气回路;所述可调恒流源单元,用于当所述等效电气回路连通时,根据所述控制器件发送的电流幅值设定值,控制所述等效电气回路中的等效电流值。

    一种微弱电流检测装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115469145A

    公开(公告)日:2022-12-13

    申请号:CN202211093321.1

    申请日:2022-09-08

    Abstract: 本申请提供了一种微弱电流检测装置。该微弱电流检测装置包括:积分电路、微分电路、状态检测电路和放电电路。积分电路的反向输入端流入待测恒定直流电Ix,积分电路对Ix积分,得到第一输出电压V1;微分电路的反向输入端连接积分电路的输出端,微分电路对V1微分,得到第二输出电压V2;状态检测电路的输入端与微分电路的反向输入端连接;放电电路的输出端与积分电路的反向输入端连接,放电电路的输出电流为I放;状态检测电路和放电电路协同保证积分电路工作在线性区。一方面能够通过提升C2与C1的比例,可以降低电阻R1的阻值。并通过放电电路形成负反馈电路,避免了C1过充,提高装备稳定性。

    一种微弱电流检测装置
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN115469145B

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202211093321.1

    申请日:2022-09-08

    Abstract: 本申请提供了一种微弱电流检测装置。该微弱电流检测装置包括:积分电路、微分电路、状态检测电路和放电电路。积分电路的反向输入端流入待测恒定直流电Ix,积分电路对Ix积分,得到第一输出电压V1;微分电路的反向输入端连接积分电路的输出端,微分电路对V1微分,得到第二输出电压V2;状态检测电路的输入端与微分电路的反向输入端连接;放电电路的输出端与积分电路的反向输入端连接,放电电路的输出电流为I放;状态检测电路和放电电路协同保证积分电路工作在线性区。一方面能够通过提升C2与C1的比例,可以降低电阻R1的阻值。并通过放电电路形成负反馈电路,避免了C1过充,提高装备稳定性。

    一种测试装置
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111161524B

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN201911265245.6

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本发明实施例公开了一种测试装置,所述装置包括:现场可编程逻辑门阵列FPGA模块、数字信号处理器DSP模块和精简指令微处理器ARM模块;其中,所述ARM模块,用于设置参数,并将所述参数发送给所述DSP模块;所述FPGA模块,用于接收遥测信号,对所述遥测信号进行信道化处理,并将信道化处理后的信号发送至所述DSP模块;所述DSP模块,用于对所述信道化处理后的信号进行解调处理,并将解调后的信号返回至所述FPGA模块;以及基于所述参数发送遥控信号至所述FPGA模块。

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