一种动态电阻导通测试仪校准装置

    公开(公告)号:CN115656909A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211398556.1

    申请日:2022-11-09

    Abstract: 本申请提供了一种动态电阻导通测试仪校准装置,用于导电环滑动接触电阻测试,包括:母板;电源板卡;至少一个时变电阻模拟板卡;上位机,其中电源板卡、时变电阻模拟板卡通过连接器与母板互连,时变电阻模拟板卡具有主控芯片,具有N路通道,用于实现独立的N路电阻输出,N大于等于2;电流测量电路用于采集输入电流;上位机将输出电阻设定值发送至时变电阻模拟板卡的主控芯片中,主控芯片根据所述输出电阻值设定值控制时变电阻模拟板卡输出的电压。

    基于TTE网络的多节点模拟测试方法及测试设备

    公开(公告)号:CN119603165A

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202411712522.4

    申请日:2024-11-27

    Abstract: 本发明涉及一种基于TTE网络的多节点模拟测试方法,包括以下步骤:步骤S1、各仿真节点根据模拟需求生成模拟数据表;步骤S2、多个仿真节点通过总线将模拟数据表发送至设备控制器;步骤S3、设备控制器根据模拟数据表和业务规划表,获得业务关键参数,规划每个仿真节点的时间调度方案,获得时间调度表;步骤S4、设备控制器根据时间调度表,生成消息队列;仿真节点根据发送窗口和消息队列向外部发送业务的模拟数据;步骤S5、设备控制器通过总线同步捕获多个仿真节点从外部接收的接收数据。本发明可实现周期型数据模拟和回放数据模拟,实现测试任务的有效且全面的完成。

    一种用于示波器检定的信号源模块及信号产生方法

    公开(公告)号:CN109521385B

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN201811400231.6

    申请日:2018-11-22

    Abstract: 本发明涉及一种用于示波器检定的信号源模块及信号产生方法,包括:包括频率合成器、分段滤波电路、可控增益放大器、调幅电路、数控衰减器、混频电路、固定衰减网络及FPGA控制模块。本专利提出的示波器标准信号源,突破了小型化高精度频率合成技术,在有限空间内实现了双通道高频率准确度,高幅度准确度的信号发生;突破了高精度时标信号产生技术,采用基于FPGA的占空比控制技术及边沿整形技术,时标信号上升沿基本满足指标要求。

    一种测试装置
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111161524B

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN201911265245.6

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本发明实施例公开了一种测试装置,所述装置包括:现场可编程逻辑门阵列FPGA模块、数字信号处理器DSP模块和精简指令微处理器ARM模块;其中,所述ARM模块,用于设置参数,并将所述参数发送给所述DSP模块;所述FPGA模块,用于接收遥测信号,对所述遥测信号进行信道化处理,并将信道化处理后的信号发送至所述DSP模块;所述DSP模块,用于对所述信道化处理后的信号进行解调处理,并将解调后的信号返回至所述FPGA模块;以及基于所述参数发送遥控信号至所述FPGA模块。

    一种用于示波器检定的信号源模块及信号产生方法

    公开(公告)号:CN109521385A

    公开(公告)日:2019-03-26

    申请号:CN201811400231.6

    申请日:2018-11-22

    Abstract: 本发明涉及一种用于示波器检定的信号源模块及信号产生方法,包括:包括频率合成器、分段滤波电路、可控增益放大器、调幅电路、数控衰减器、混频电路、固定衰减网络及FPGA控制模块。本专利提出的示波器标准信号源,突破了小型化高精度频率合成技术,在有限空间内实现了双通道高频率准确度,高幅度准确度的信号发生;突破了高精度时标信号产生技术,采用基于FPGA的占空比控制技术及边沿整形技术,时标信号上升沿基本满足指标要求。

    一种光电零位传感器自动测试系统及其测试方法

    公开(公告)号:CN119915329A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202510106371.6

    申请日:2025-01-23

    Abstract: 本申请提供了一种光电零位传感器自动测试系统及其测试方法。自动测试系统包括:测量单元,包括光电管测量模块、零位精度检测模块、零位宽度检测模块、运行步数测量模块、运行频率测量模块;驱动单元,包括电机驱动控制电路和脉冲发生器;发光二极管电流源,用于通过模数转换器向光电零位传感器的发光二极管提供驱动电流;微控制器,用于控制发光二极管电流源、脉冲发生器、测量单元,同时与步进电机通信;嵌入式计算机,用于控制微控制器,嵌入式计算机用于运行自动测试程序。本申请提供的自动测试系统及其测试方法不需要外接电流源和数字多用表,无需手动记录测试数据,可以实现机构一键式归零及相关参数的一键式自动测试。

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