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公开(公告)号:CN103262225A
公开(公告)日:2013-08-21
申请号:CN201280004168.9
申请日:2012-01-23
Applicant: 先进动力设备技术研究协会 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L21/338 , H01L21/28 , H01L21/306 , H01L21/3065 , H01L21/308 , H01L29/778 , H01L29/78 , H01L29/812
CPC classification number: H01L29/66666 , H01L21/30621 , H01L29/2003 , H01L29/4236 , H01L29/51 , H01L29/66462 , H01L29/66522 , H01L29/7783 , H01L29/7786
Abstract: 提供一种半导体装置的制造方法,其具有:第1牺牲层形成工序,形成与第1半导体层的至少一部分接触、第1半导体层中所包含的杂质的固溶度比第1半导体层高的第1牺牲层;退火工序,对第1牺牲层及第1半导体层进行退火;除去工序,用湿法工艺除去第1牺牲层;形成覆盖第1半导体层的至少一部分的绝缘层的工序,及对第1半导体层的一部分进行蚀刻的工序的至少一个工序;形成与第1半导体层电性地连接的电极层的电极形成工序。
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公开(公告)号:CN102792422A
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN201180011875.6
申请日:2011-03-02
Applicant: 先进动力设备技术研究协会 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L21/28 , H01L29/417 , H01L29/78 , H01L29/786
CPC classification number: H01L21/28575 , H01L21/28264 , H01L29/2003 , H01L29/452 , H01L29/66522
Abstract: 一种半导体晶体管的制造方法,在由GaN系的半导体构成的活性层上形成欧姆电极,该半导体晶体管的制造方法具备:在活性层(3)上形成由钽氮化物构成的第1层(11)、和层叠于第1层(11)上的由Al构成的第2层(12)的工序;通过以520℃以上、600℃以下的温度来对第1以及第2层(11、12)进行热处理,来形成与活性层(3)取得欧姆接触的欧姆电极(9s、9d)的工序。
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公开(公告)号:CN103339733A
公开(公告)日:2013-10-02
申请号:CN201280006501.X
申请日:2012-01-23
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 先进动力设备技术研究协会 , 东京毅力科创株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L21/31 , H01L21/316 , H01L21/336 , H01L21/338 , H01L29/778 , H01L29/786 , H01L29/812
CPC classification number: H01L21/02274 , H01L21/02164 , H01L21/02178 , H01L21/022 , H01L21/0228 , H01L21/0254 , H01L21/28264 , H01L23/564 , H01L29/2003 , H01L29/205 , H01L29/42364 , H01L29/51 , H01L29/513 , H01L29/517 , H01L29/66462 , H01L29/778 , H01L29/7787 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明的半导体器件的制造方法是具有构成半导体层的GaN(氮化镓)的半导体器件的制造方法,其包括栅极绝缘膜形成工序(F),在具有GaN的氮化物层上,使用微波等离子体,形成由SiO2膜和Al2O3膜构成的组之中的至少一种膜,使所形成的膜成为栅极绝缘膜的至少一部分。
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公开(公告)号:CN102792449A
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN201180011856.3
申请日:2011-03-02
Applicant: 先进动力设备技术研究协会 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L29/786 , H01L21/316
CPC classification number: H01L21/28264 , C23C16/403 , C23C16/4488 , H01L21/02178 , H01L21/02277 , H01L29/2003 , H01L29/513 , H01L29/517 , H01L29/78
Abstract: 本发明的半导体晶体管具备:由GaN系的半导体构成的活性层、以及形成于活性层上的栅极绝缘膜。栅极绝缘膜具有:形成于活性层上且包含从由Al2O3、HfO2、ZrO2、La2O3、以及Y2O3构成的群中选出的1种以上的化合物在内的第1绝缘膜、以及形成于第1绝缘膜上且由SiO2构成的第2绝缘膜。
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公开(公告)号:CN103299405A
公开(公告)日:2013-09-11
申请号:CN201280004925.2
申请日:2012-01-23
Applicant: 先进动力设备技术研究协会 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L21/3065 , H01L21/20 , H01L21/306 , H01L21/338 , H01L29/778 , H01L29/78 , H01L29/786 , H01L29/812
CPC classification number: H01L21/30604 , H01L21/02057 , H01L21/0237 , H01L21/02458 , H01L21/02507 , H01L21/02521 , H01L21/0254 , H01L21/02664 , H01L21/302 , H01L21/30621 , H01L29/2003 , H01L29/4236 , H01L29/51 , H01L29/66462 , H01L29/66522 , H01L29/7783 , H01L29/7827
Abstract: 提供一种用于制造氮化镓系半导体装置的半导体装置的制造方法,所述制造方法包括以下工序:第1半导体层形成工序,形成由氮化镓系半导体形成的第1半导体层;以及凹进部形成工序,使用溴系气体通过微波等离子工艺对第1半导体层的一部分进行干式蚀刻,从而形成凹进部。
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公开(公告)号:CN102760633B
公开(公告)日:2015-09-02
申请号:CN201210243672.6
申请日:2009-06-03
Applicant: 东京毅力科创株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01J37/32
CPC classification number: H01J37/3244 , H01J37/32192 , H01J37/32449
Abstract: 本发明提供一种等离子体处理装置及等离子体处理方法,能够增大主气体流路与多个支气体流路的气体流导之比。等离子体处理装置(100),其激发气体来对被处理体进行等离子体处理,并具备:处理容器(100);供给预期的气体的气体供给源(905);分流从气体供给源(905)供给的气体的主气体流路(330);与主气体流路(330)的下游侧连接的多个支气体流路(螺钉325);设置于多个支气体流路上用于缩窄支气体流路的多个节流部(细管335);以及在每个支气体流路上设置的1个或2个以上的气体释放孔(345),其用于将经过多个支气体流路上所设置的多个节流部后的气体释放到处理容器(100)的内部。
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公开(公告)号:CN103282701B
公开(公告)日:2015-06-17
申请号:CN201280004505.4
申请日:2012-01-12
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 日本华尔卡工业株式会社
IPC: F16J15/08
CPC classification number: F16J15/08 , F16J15/027 , F16J15/0881 , F16J15/0893
Abstract: 提供一种能以比现有技术小的紧固力发挥出与现有技术相比同等以上的较高密封性的金属垫片。其是由形成有周向的开口且截面呈大致C字状的环状的外环和嵌装于该外环内侧的环状的内环构成,并通过在安装于构件间的状态下沿上下方向被按压来对构件间进行密封的环状的金属垫片,内环的截面形成为多边形,包括:与外环的内侧面的上侧抵接的上侧角部;与外环的内侧面的下侧抵接的下侧角部;以位于上侧角部与下侧角部之间的方式形成于内环的内周侧的内周侧角部;以及以位于上侧角部与下侧角部之间的方式形成于内环的外周侧的外周侧角部,在上侧角部与内周侧角部及外周侧角部之间、下侧角部与内周侧角部及外周侧角部之间分别形成有内角比180°大的弯曲部。
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公开(公告)号:CN102239566B
公开(公告)日:2014-07-16
申请号:CN200980148633.4
申请日:2009-11-27
Applicant: 国立大学法人东北大学
Inventor: 大见忠弘
IPC: H01L31/0224 , H01L31/028 , H01L31/0368 , H01L31/0376 , H01L31/0392 , H01L31/075
CPC classification number: H01L31/022466 , H01L31/022483 , H01L31/028 , H01L31/03682 , H01L31/03762 , H01L31/03921 , H01L31/046 , H01L31/052 , H01L31/075 , Y02E10/546 , Y02E10/547 , Y02E10/548
Abstract: 本发明涉及光电转换元件及太阳能电池,具备由非晶质硅形成的nip结构,利用使n+型a-Si层接触由n+型ZnO层形成的透明电极的结构,提高能量转换效率。由此,能够将对地球资源的影响抑制在最小限,能够实现大面积、大功率的光电转换元件及太阳能电池模块。
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公开(公告)号:CN103456836A
公开(公告)日:2013-12-18
申请号:CN201310351564.5
申请日:2009-02-10
Applicant: 国立大学法人东北大学
IPC: H01L31/18
CPC classification number: H01L31/048 , H01L31/02167 , Y02B10/12 , Y02E10/50
Abstract: 本发明提供一种太阳能电池的制造方法,其特征在于,准备具有导电性表面的基材;对该导电性表面实施物理清洗,接着依次实施与超声波清洗合并进行的碱清洗、与超声波清洗合并进行的纯净水清洗以及与超声波清洗合并进行的臭氧水清洗,由此清洗该导电性表面;随后在该清洗过的导电性表面上直接设置n型、i型、p型结构的半导体薄膜;接着,在p型结构的半导体薄膜的外表面设置透明电极之后,利用氮化物系的水分扩散防止膜覆盖所述半导体薄膜的光入射侧和侧面。
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公开(公告)号:CN101641458B
公开(公告)日:2013-07-24
申请号:CN200880009416.2
申请日:2008-03-28
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 东京毅力科创株式会社
IPC: C23C14/35
Abstract: 在旋转磁铁溅射装置中,为了减少因靶的消耗而引起靶表面发生变化,导致成膜率经时变化的情况,对靶的消耗变位量进行测定,根据测定结果,调整旋转磁铁组与靶之间的距离,从而长时间实现均匀的成膜率。作为测定靶的消耗变位量的机构,可以使用超声波传感器,也可以使用激光发送接收装置。
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