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公开(公告)号:CN102792449A
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN201180011856.3
申请日:2011-03-02
Applicant: 先进动力设备技术研究协会 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L29/786 , H01L21/316
CPC classification number: H01L21/28264 , C23C16/403 , C23C16/4488 , H01L21/02178 , H01L21/02277 , H01L29/2003 , H01L29/513 , H01L29/517 , H01L29/78
Abstract: 本发明的半导体晶体管具备:由GaN系的半导体构成的活性层、以及形成于活性层上的栅极绝缘膜。栅极绝缘膜具有:形成于活性层上且包含从由Al2O3、HfO2、ZrO2、La2O3、以及Y2O3构成的群中选出的1种以上的化合物在内的第1绝缘膜、以及形成于第1绝缘膜上且由SiO2构成的第2绝缘膜。
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公开(公告)号:CN102792449B
公开(公告)日:2016-03-09
申请号:CN201180011856.3
申请日:2011-03-02
Applicant: 富士电机株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L29/786 , H01L21/316
CPC classification number: H01L21/28264 , C23C16/403 , C23C16/4488 , H01L21/02178 , H01L21/02277 , H01L29/2003 , H01L29/513 , H01L29/517 , H01L29/78
Abstract: 本发明的半导体晶体管具备:由GaN系的半导体构成的活性层、以及形成于活性层上的栅极绝缘膜。栅极绝缘膜具有:形成于活性层上且包含从由Al2O3、HfO2、ZrO2、La2O3、以及Y2O3构成的群中选出的1种以上的化合物在内的第1绝缘膜、以及形成于第1绝缘膜上且由SiO2构成的第2绝缘膜。
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