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公开(公告)号:CN106547015B
公开(公告)日:2018-10-19
申请号:CN201610964364.0
申请日:2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种探测器,包括:阴极板,用于入射X射线;多孔板,X射线打在工作气体上发生电离,阳离子在电场作用下向阴极板运动,电子在电场作用下向多孔板运动;阳极板,经过雪崩放大后的电子打在阳极板上;阳极板包括:第一阳极板,具有第一信号阵列;第二阳极板,具有第二信号阵列;第一ASIC芯片,当电子打在第一阳极板时,检测第一阳极板产生的第一信号;第二ASIC芯片,当电子打在第二阳极板时,检测第二阳极板产生的第二信号;电子学处理器,根据第一信号和第二信号得到电子打在第一阳极板或者第二阳极板的位置。本发明探测器利用两块不同的阳极板,实现不同精度的电子位置检测。
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公开(公告)号:CN119935678A
公开(公告)日:2025-05-06
申请号:CN202510100906.9
申请日:2025-01-22
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种用于释光测年仪校准的标准石英样品制备方法,涉及释光测年技术领域,包括以下步骤:准备石英玻璃前壁、石英玻璃后壁和环形垫;将环形垫置于石英玻璃前壁、石英玻璃后壁之间,其中心孔内放置石英样品,得到完成装载的装载器具;采用铝箔包裹装载器具,将装载器具放置于专用支架之上,并置于参考辐射场的测量点处;对测量点处的空气比释动能率进行测量;计算从空气比释动能到石英吸收剂量的转换系数;计算石英样品的吸收剂量;利用释光测年仪采用单因素方差分析方法,评估石英样品的均匀性;采用辐照后不同时间取出并分别测读的方式,评估石英吸收剂量的稳定性。本发明能够使标准石英样品的装载更为方便,所得剂量更加准确。
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公开(公告)号:CN109539997A
公开(公告)日:2019-03-29
申请号:CN201811423996.1
申请日:2018-11-27
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01B11/02
Abstract: 本申请提供一种基于图像识别的二维微位移测量系统及检测方法,标定模片安装于被测物体上,通过拍摄装置采集的标定模片的图像,并传输至处理器,处理器对采集到的图像进行图像处理,获取标定模片上的至少一个标记的中心点坐标像素。同时,移动被测物体,再次获取移动后的每个标记的中心点坐标像素,并计算出被测物体移动前后的中心点坐标像素变化量,则可以获得被测物体移动的位移量大小以及位移量方向角度。因此,通过获得被测物体移动前后的中心点坐标像素变化量,即可获知被测物体移动的位移量大小以及方向,使得微位移测量系统结构简单、便携性好,避免了零点漂移、线性度失真不稳定易受电磁干扰等问题,测量精度更高。
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公开(公告)号:CN106483554B
公开(公告)日:2018-10-19
申请号:CN201610967035.1
申请日:2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明实施例涉及一种检测系统,包括:屏蔽箱和平台装置;屏蔽箱包括箱体和屏蔽门,箱体和屏蔽门均由屏蔽层构成;平台装置容置于屏蔽箱内,包括系统底板、X光机平台、放射源平台、探测器平台和转动滤波架;系统底板具有第一导轨、第二导轨和第三导轨;X光机平台包括第一移动平台和X光机;第一移动平台滑设在第一导轨上;X光机设置于第一移动平台上;放射源平台包括第二移动平台和放射源固定夹具;第二移动平台滑设在第二导轨上;放射源固定夹具设置于第二移动平台上;探测器平台包括第三移动平台和探测器;第三移动平台滑设在第三导轨上;探测器设置于第三移动平台上,接收X射线束和放射源射线;转动滤波架包括连接部和支撑杆。
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公开(公告)号:CN106531756B
公开(公告)日:2018-05-18
申请号:CN201610963911.3
申请日:2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H01L27/146
Abstract: 本发明实施例提供了一种探测器阳极装置,包括:第一阳极板,第一阳极板具有第一信号阵列;第二阳极板,第二阳极板的面积小于第一阳极板,并且位于第一阳极板内,第二阳极板具有第二信号阵列;第一ASIC芯片,与第一阳极板相连接,当电子打在第一阳极板时,检测第一阳极板产生的第一信号;第二ASIC芯片,与第二阳极板相连接,当电子打在第二阳极板时,检测第二阳极板产生的第二信号;电子学处理器,与第一ASIC芯片和第二ASIC芯片相连接,根据第一信号和第二信号得到电子打在第一阳极板或者第二阳极板的位置。本发明实施例探测器阳极装置,利用两块不同的阳极板,实现了不同精度的电子位置检测。
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公开(公告)号:CN109883328A
公开(公告)日:2019-06-14
申请号:CN201910285405.7
申请日:2019-04-10
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本申请提供一种管道内壁测量系统。当激光跟踪仪光路无法直接到达的所述被测弯曲管道的内壁区域时,激光跟踪仪发出第一束激光并通过被测弯曲管道的一端端口进入。此时,第一束激光射到反射结构,改变第一束激光的光路方向。同时,回射压紧机构在无法直接到达管道内壁区域的位置,使得经反射结构反射后的第一束激光射到回射压紧机构的第一回射结构上,第一束激光经第一回射结构回射形成第二束激光,第二束激光沿第一束激光的光路返回至激光跟踪仪。激光跟踪仪接收第二束激光并通过激光跟踪仪装置测算第一回射结构的空间位置信息,从而获得激光跟踪仪光路无法直接到达管道内壁区域的内壁信息。
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公开(公告)号:CN109883328B
公开(公告)日:2021-03-19
申请号:CN201910285405.7
申请日:2019-04-10
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本申请提供一种管道内壁测量系统。当激光跟踪仪光路无法直接到达的所述被测弯曲管道的内壁区域时,激光跟踪仪发出第一束激光并通过被测弯曲管道的一端端口进入。此时,第一束激光射到反射结构,改变第一束激光的光路方向。同时,回射压紧机构在无法直接到达管道内壁区域的位置,使得经反射结构反射后的第一束激光射到回射压紧机构的第一回射结构上,第一束激光经第一回射结构回射形成第二束激光,第二束激光沿第一束激光的光路返回至激光跟踪仪。激光跟踪仪接收第二束激光并通过激光跟踪仪装置测算第一回射结构的空间位置信息,从而获得激光跟踪仪光路无法直接到达管道内壁区域的内壁信息。
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公开(公告)号:CN109539997B
公开(公告)日:2021-03-19
申请号:CN201811423996.1
申请日:2018-11-27
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01B11/02
Abstract: 本申请提供一种基于图像识别的二维微位移测量系统及检测方法,标定模片安装于被测物体上,通过拍摄装置采集的标定模片的图像,并传输至处理器,处理器对采集到的图像进行图像处理,获取标定模片上的至少一个标记的中心点坐标像素。同时,移动被测物体,再次获取移动后的每个标记的中心点坐标像素,并计算出被测物体移动前后的中心点坐标像素变化量,则可以获得被测物体移动的位移量大小以及位移量方向角度。因此,通过获得被测物体移动前后的中心点坐标像素变化量,即可获知被测物体移动的位移量大小以及方向,使得微位移测量系统结构简单、便携性好,避免了零点漂移、线性度失真不稳定易受电磁干扰等问题,测量精度更高。
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公开(公告)号:CN106547015A
公开(公告)日:2017-03-29
申请号:CN201610964364.0
申请日:2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
CPC classification number: G01T1/29 , H01J47/001
Abstract: 本发明公开了一种探测器,包括:阴极板,用于入射X射线;多孔板,X射线打在工作气体上发生电离,阳离子在电场作用下向阴极板运动,电子在电场作用下向多孔板运动;阳极板,经过雪崩放大后的电子打在阳极板上;阳极板包括:第一阳极板,具有第一信号阵列;第二阳极板,具有第二信号阵列;第一ASIC芯片,当电子打在第一阳极板时,检测第一阳极板产生的第一信号;第二ASIC芯片,当电子打在第二阳极板时,检测第二阳极板产生的第二信号;电子学处理器,根据第一信号和第二信号得到电子打在第一阳极板或者第二阳极板的位置。本发明探测器利用两块不同的阳极板,实现不同精度的电子位置检测。
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公开(公告)号:CN106531756A
公开(公告)日:2017-03-22
申请号:CN201610963911.3
申请日:2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/14601 , H01L27/14634 , H01L27/14641
Abstract: 本发明实施例提供了一种探测器阳极装置,包括:第一阳极板,第一阳极板具有第一信号阵列;第二阳极板,第二阳极板的面积小于第一阳极板,并且位于第一阳极板内,第二阳极板具有第二信号阵列;第一ASIC芯片,与第一阳极板相连接,当电子打在第一阳极板时,检测第一阳极板产生的第一信号;第二ASIC芯片,与第二阳极板相连接,当电子打在第二阳极板时,检测第二阳极板产生的第二信号;电子学处理器,与第一ASIC芯片和第二ASIC芯片相连接,根据第一信号和第二信号得到电子打在第一阳极板或者第二阳极板的位置。本发明实施例探测器阳极装置,利用两块不同的阳极板,实现了不同精度的电子位置检测。
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