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公开(公告)号：CN106483552B
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201610963894.3
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明实施例涉及一种基于平台系统的检测方法,包括：将X光机平台设置在系统底板的第一导轨上；将探测器平台设置在第二导轨上；将滤波架设置于X光机平台和探测器平台之间；驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置；并且，驱动探测器平台在第二导轨上运动至工作位置；调节X光机平台的位置，调整滤波架，使X光机的X光出射位置、滤波架上插接的附加滤波片中心和探测器的接收X射线位置在同一直线上；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤波片过滤处理，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；探测器接收过滤后X射线束，光子沉积在探测器晶体中，通过电子学器件生成电信号，得到能谱数据；调节管电压和附加过滤获得不同的辐射质。
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公开(公告)号：CN106483554B
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201610967035.1
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明实施例涉及一种检测系统,包括：屏蔽箱和平台装置；屏蔽箱包括箱体和屏蔽门，箱体和屏蔽门均由屏蔽层构成；平台装置容置于屏蔽箱内，包括系统底板、X光机平台、放射源平台、探测器平台和转动滤波架；系统底板具有第一导轨、第二导轨和第三导轨；X光机平台包括第一移动平台和X光机；第一移动平台滑设在第一导轨上；X光机设置于第一移动平台上；放射源平台包括第二移动平台和放射源固定夹具；第二移动平台滑设在第二导轨上；放射源固定夹具设置于第二移动平台上；探测器平台包括第三移动平台和探测器；第三移动平台滑设在第三导轨上；探测器设置于第三移动平台上，接收X射线束和放射源射线；转动滤波架包括连接部和支撑杆。
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公开(公告)号：CN106546610A
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201610971899.0
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明实施例提供了一种空间分辨率的测试系统，包括：X光机，用于发射CT空间分辨率测试用的X射线；检测标准件，检测标准件具有标准件本体、周期性排布在标准件本体上的测试部和隔离部，所述测试部具有凸起部和凹槽；探测器，X射线通过测试标准件的凸起部和凹槽后被探测器接收，并转化为电信号，将电信号转化为可视化的灰度图像，灰度图像的边缘处具有凹凸特征，随着所述线对的尺寸逐渐减少，所述凹凸特征的尺寸也逐渐减少，当所述凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阈值时，单位长度1MM内的线对数即为对应的空间分辨率。本发明空间分辨率的测试系统，实现了降低加工难度和成本，减少检测时间成本，检测精度更高。
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公开(公告)号：CN106531756B
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201610963911.3
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H01L27/146
Abstract: 本发明实施例提供了一种探测器阳极装置，包括：第一阳极板，第一阳极板具有第一信号阵列；第二阳极板，第二阳极板的面积小于第一阳极板，并且位于第一阳极板内，第二阳极板具有第二信号阵列；第一ASIC芯片，与第一阳极板相连接，当电子打在第一阳极板时，检测第一阳极板产生的第一信号；第二ASIC芯片，与第二阳极板相连接，当电子打在第二阳极板时，检测第二阳极板产生的第二信号；电子学处理器，与第一ASIC芯片和第二ASIC芯片相连接，根据第一信号和第二信号得到电子打在第一阳极板或者第二阳极板的位置。本发明实施例探测器阳极装置，利用两块不同的阳极板，实现了不同精度的电子位置检测。
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公开(公告)号：CN106449347A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610963949.0
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H01J47/02
CPC classification number: H01J47/02
Abstract: 本发明实施例涉及一种电离室装置,包括：石墨电离室和收集杆；石墨电离室包括：石墨腔室，在射入石墨腔室内的辐射射线的照射下,石墨腔室内的空气电离，石墨腔室包括上腔室和下腔室；上腔室和下腔室为半径相同的空心半球，上腔室扣合在下腔室上；下腔室的底部中心设有通孔；收集极，对辐射射线电离后产生的电子进行收集；收集极的一端穿设通孔置于石墨腔室，并与通孔绝缘连接，收集极的一端设置于空心半球的球心；收集杆包括中心导体、绝缘杆和外部连接杆；中心导体与收集极的另一端插接；绝缘杆套接于中心导体外侧；外部连接杆套接于绝缘杆外侧。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106483553A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610964403.7
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明实施例涉及一种平台系统的校准方法,包括：X光机平台安装于平台系统的系统底板的第一导轨上；探测器平台安装于系统底板的第二导轨上；控制第一电机驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置；并且，控制第二电机驱动探测器平台在第二导轨上运动至工作位置；开启X光机平台上的激光校准器；调节X光机平台的升降装置，使激光射向探测器平台的激光接收器；调节X光机平台的俯仰台和旋转台，使激光与激光接收器的中心对准；旋转转动滤波架，使激光校准器发射的激光射向转动滤波架；调节支撑杆的高度，并旋转支撑杆的角度，使X射线束中心射在转动滤波架的预定位置，从而使X射线束中心、过滤片中心和探测器中心在同一直线上。
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公开(公告)号：CN106483549A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610967027.7
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T1/185
Abstract: 本发明实施例涉及一种基于电离室系统的检测方法,包括：将X光机设置于X光机平台上；将附加滤过片插接于滤过装置上；调节滤过装置，使附加滤过片中心与X光机的X光出射位置在同一水平位置；驱动第一底座在第一导轨上运动至工作位置；并且驱动第二底座在第二导轨上运动至工作位置；调节升降装置和升降装置上的旋转台，使设置于旋转台上的电离室装置的接收射线位置与附加滤过片中心、X光机的X光出射位置在同一条直线上；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤过片后，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；过滤后的X射线束使电离室装置内的空气发生电离，产生电离电流；静电计对电离电流进行检测，得到电离电流值。
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公开(公告)号：CN106405627A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610967034.7
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
CPC classification number: G01T7/005
Abstract: 本发明实施例涉及一种平台系统，包括：系统底板，具有第一导轨、第二导轨和第三导轨；X光机平台，包括第一移动平台和X光机，第一移动平台滑设在第一导轨上，X光机设置于第一移动平台上；放射源平台，包括第二移动平台和放射源固定夹具，第二移动平台滑设在第二导轨上，放射源固定夹具设置于第二移动平台上；探测器平台，包括第三移动平台和探测器，第三移动平台滑设在第三导轨上，探测器设置于第三移动平台上；转动滤波架，包括连接部和支撑杆，连接部设置于系统底板上并位于第一导轨和第二导轨之间，支撑杆的一端与连接部的另一端相接，并垂直于系统底板设置；支撑杆的另一端具有过滤片固定器。
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公开(公告)号：CN106483553B
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201610964403.7
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明实施例涉及一种平台系统的校准方法,包括：X光机平台安装于平台系统的系统底板的第一导轨上；探测器平台安装于系统底板的第二导轨上；控制第一电机驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置；并且，控制第二电机驱动探测器平台在第二导轨上运动至工作位置；开启X光机平台上的激光校准器；调节X光机平台的升降装置，使激光射向探测器平台的激光接收器；调节X光机平台的俯仰台和旋转台，使激光与激光接收器的中心对准；旋转转动滤波架，使激光校准器发射的激光射向转动滤波架；调节支撑杆的高度，并旋转支撑杆的角度，使X射线束中心射在转动滤波架的预定位置，从而使X射线束中心、过滤片中心和探测器中心在同一直线上。
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公开(公告)号：CN106483549B
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201610967027.7
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T1/185
Abstract: 本发明实施例涉及一种基于电离室系统的检测方法,包括：将X光机设置于X光机平台上；将附加滤过片插接于滤过装置上；调节滤过装置，使附加滤过片中心与X光机的X光出射位置在同一水平位置；驱动第一底座在第一导轨上运动至工作位置；并且驱动第二底座在第二导轨上运动至工作位置；调节升降装置和升降装置上的旋转台，使设置于旋转台上的电离室装置的接收射线位置与附加滤过片中心、X光机的X光出射位置在同一条直线上；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤过片后，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；过滤后的X射线束使电离室装置内的空气发生电离，产生电离电流；静电计对电离电流进行检测，得到电离电流值。
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