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公开(公告)号：CN110579877B
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN201910896881.2
申请日：2019-09-23
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种共轭校正检验非球面镜的光学系统及理论。检测设备中发光点发出的光线经校正透镜成像于待检非球面镜的共轭物点；待检非球面镜将共轭物点成像于共轭像点；共轭像点作为自准校正透镜的物点，光线经自准校正透镜自准原路返回。校正透镜和自准校正透镜生成球差可校正待检非球面镜在两个共轭点生成球差。共轭前后点与前区、中区、后区三个区间是相关的，大大提高了像差校正能力；自准面位于自准校正透镜上，光线两次通过待检非球面镜；自准校正透镜位于共轭前点前，校正扁球面能力强；校正透镜与自准校正透镜光路连接，校正能力更强。共轭校正检验可实现大口径、大相对孔径甚至超大口径、超大相对孔径的非球面镜检验。
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公开(公告)号：CN115541190A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211225585.8
申请日：2022-10-09
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种双位校正非球面检验。待检非球面有两个不消球差互为物像关系的前共轭点和后共轭点，检测原理为由有限远或无限远发出的光线，经校正透镜会聚到待检非球面的一个前共轭物点或后共轭物点，再经待检非球面反射会聚到另一个后共轭像点或前共轭像点，后经内自准校正透镜自准原路返回。前后双位校正非球面检验中的非球面球差分别由前共轭点和后共轭点承担，由校正透镜和内自准校正透镜进行校正补偿。前后共轭点将光轴分成相关的三个区间，补偿透镜布局灵活，且光线两次通过待检非球面，像差校正能力更显著。双位校正非球面检验可实现大口径、大相对孔径甚至超大口径、超大相对孔径的的非球面检验。
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公开(公告)号：CN112496353A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN202011292509.X
申请日：2020-11-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: B23B1/00
Abstract: 本发明公开一种金刚石车削自由曲面粗车工艺方法，将自由曲面分解为回转对称面形和非回转对称两部分，针对回转对称部分，利用非球面拟合方法或者包络线拟合曲线等方法采用传统车削加工技术完成，切削速度快，走刀速度快，加工时间短；针对非回转对称部分，则仍采用慢刀伺服或者快刀伺服车削技术进行粗加工。该工艺方法一方面可以减少五轴加工自由曲面铣削工序，减少工序步骤，一次装夹即可完成粗加工和精加工，另一方面将部分自由曲面车削工序转化成传统车削工序，总体上提高了整个工艺的加工效率。
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公开(公告)号：CN111458111A
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN202010446277.2
申请日：2020-05-25
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种用于检验超大口径凹非球面反射镜的光学系统。检验光学系统由激光干涉仪和自准校正透镜组组成。自准校正透镜组位于待检凹非球面反射镜的共轭后点前。激光干涉仪出射的光线经过自准校正透镜的折射成像在待检凹非球面反射镜的共轭后点。经待检反射镜反射后光线成像在待检凹非球面的共轭前点。反射光线经过自准校正透镜组折射，在远离待检凹非球面反射镜的表面自准反射，按原路返回干涉仪。本发明的优点在于：该光学系统可以实现超大口径以及超大相对孔径凹非球面反射镜的高精度检验。同时，光学系统的光路长度较短，自准校正透镜组的口径较小，便于加工及装调。
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公开(公告)号：CN104330871A
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：CN201410546872.8
申请日：2014-10-16
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种短波红外望远镜头。本发明的望远镜头构成为，从物体侧起顺次配置的如下光学元件：具有正光焦度的第一透镜群；具有负光焦度的第二透镜群；具有正光焦度的第三透镜群。第二透镜群由单体的透镜元件构成。而且，在调焦时所述第二透镜群沿着光轴移动，所述第一透镜群和第三透镜群相对于成像面被固定。本发明能够提供一种小型，轻量，大口径，高分辨率，并具有优异的成像性能的内对焦方式的短波红外超望远镜头。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109946043B
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN201910178518.7
申请日：2019-03-11
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种折反透镜组合校正的超大凸双曲面检验光学系统。检验光学系统由激光干涉仪、折反透镜组、待检凸双曲面反射镜、球面反射镜组成，球面反射镜的球心与待检凸双曲面反射镜的后焦点重合，构成自准光学系统，激光干涉仪发出的发散光线经折反透镜组后，到达球面反射镜上，球面反射镜将光线反射至待检凸双曲面反射镜上，经过待检凸双曲面的反射，光线沿法线方向再次入射到球面反射镜上，并自准反射，按原路返回干涉仪，折反透镜组用于校正球面反射镜引入的球差。该光学系统用于实现口径600mm及以上的超大口径凸双曲面反射镜的高精度检验，具有检验精度高、所需球面反射镜口径小和光路简单等优点。
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公开(公告)号：CN109253864B
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN201811176449.8
申请日：2018-10-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种用于检验超大口径凸双曲面反射镜的光学系统。系统中球面反射镜的球心位于待检凸双曲面反射镜的后焦点上，激光干涉仪发出的发散光线，从待检凸双曲面反射镜的中心孔入射，经过补偿透镜组的折射，入射到球面反射镜上；从球面反射镜反射的光线，再经过待检反射镜的反射，沿法线方向再次入射到球面反射镜上，并自准反射，按原路返回干涉仪。本发明的光学系统可以实现口径600mm及以上的超大口径凸双曲面反射镜的高精度检验，在保证检验精度的同时，可以减小辅助面的口径以及系统的长度。
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公开(公告)号：CN116347065A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310332422.8
申请日：2023-03-31
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明公开了一种空间相机光电系统综合测试平台，包括平行光管，光源和靶标组件，水平和竖直两维平移台，方位和俯仰两维转台。被测空间相机安装在方位俯仰两维转台上，平行光管安装在水平竖直两维平移台上，平移台和转台的每个运动轴带有位移测量装置。调节转台的方位俯仰角度和平移台竖直水平位置的组合，使被测空间相机当前视场的通光孔径与平行光管的通光孔径对准。光源和靶标组件安装在平行光管焦面上，经过平行光管的扩束准直产生测试波前，输入被测空间相机的光电系统。本发明通过被测空间相机的转角和平行光管的位置之间的定量化解耦调节，降低了测试工装和设备的复杂度，在此平台上可实现空间相机光电系统各项参数的装调测试。
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公开(公告)号：CN109946044A
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201910178524.2
申请日：2019-03-11
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种折反透镜组检验超大口径凸抛物面反射镜的光学系统。检验光学系统主要由干涉仪、折反透镜组、亨德尔球面反射镜及待检凸抛物面反射镜组成。折反透镜组由一个单透镜和一个折反透镜组成。首先利用折反透镜校正球面反射镜产生的球差，再利用单透镜形成自准检验光路同时提高球差校正效果。该光学系统可以实现超大口径凸抛物面反射镜的高精度检验。本发明可以在保证系统检验高精度的同时，减小所需球面反射镜以及折反透镜组的口径，缩短检测光路的长度，降低了加工以及检测过程中装调的难度，节约了成本。
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公开(公告)号：CN107131846A
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201710388101.4
申请日：2017-05-27
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01B11/2441 , G01B9/02058
Abstract: 本发明公开了一种用于超大口径凸扁球面检测的光学系统。该检测光学系统包括平面干涉仪、折反射式球面弯月透镜，其中折反射式球面弯月透镜的折射部分用于补偿待检凸扁球面镜的三级像差、反射部分反射待检凸扁球面镜的出射光线形成自准光路。本发明所述的检测光学系统针对超大口径的凸扁球面镜检测，在保证检测精度的同时降低了补偿器的加工装配难度、减少了误差因素的来源并降低了补偿系统的成本。本发明具有测量口径大、检测光路简单的特点。
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