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公开(公告)号：CN105928688A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610242396.X
申请日：2016-04-19
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量装置,包括光源模块、参考光模块和测试光模块，光源模块为测试系统提供光源，参考光模块由凹面准直镜、标准参考光栅、凹面聚焦镜和线阵CCD探测器组成，用于测量参考光束的光谱参数；测试光模块由凹面准直镜、待测光栅、凹面聚焦镜和线阵CCD探测器组成，用于测量测试光束的光谱参数。本发明提高了光栅衍射效率光谱的测试速度，可以实现超快速的光栅衍射效率光谱的测量，可以应用于原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量环境中；在测量过程中，仪器的所有机械结构保持静止，测试系统因而具有较高的机械稳定性。
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公开(公告)号：CN105928688B
公开(公告)日：2018-06-19
申请号：CN201610242396.X
申请日：2016-04-19
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量装置,包括光源模块、参考光模块和测试光模块，光源模块为测试系统提供光源，参考光模块由凹面准直镜、标准参考光栅、凹面聚焦镜和线阵CCD探测器组成，用于测量参考光束的光谱参数；测试光模块由凹面准直镜、待测光栅、凹面聚焦镜和线阵CCD探测器组成，用于测量测试光束的光谱参数。本发明提高了光栅衍射效率光谱的测试速度，可以实现超快速的光栅衍射效率光谱的测量，可以应用于原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量环境中；在测量过程中，仪器的所有机械结构保持静止，测试系统因而具有较高的机械稳定性。
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公开(公告)号：CN106596058B
公开(公告)日：2018-11-20
申请号：CN201611039171.0
申请日：2016-11-21
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种用于平面光栅的光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法，测量装置主要包括激光光源、单色器、光阑、偏振片、分束镜、待测光栅、光电探测器、正弦机械结构和电子学控制等部分。本发明的优点是：(1)显著提高了光栅衍射效率光谱的测量速度，可以实现光栅衍射效率光谱的快速测量，如应用于观测光栅衍射效率光谱特性在温度、湿度以及激光辐照损伤等环境因素下的动态变化过程；(2)在测量过程中，仪器的机械构件始终保持匀速运动状态，测试系统因而具有较高的机械稳定性；(3)测量仪器具有较高的工作效率。
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公开(公告)号：CN106596058A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201611039171.0
申请日：2016-11-21
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种用于平面光栅的光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法，测量装置主要包括激光光源、单色器、光阑、偏振片、分束镜、待测光栅、光电探测器、正弦机械结构和电子学控制等部分。本发明的优点是：(1)显著提高了光栅衍射效率光谱的测量速度，可以实现光栅衍射效率光谱的快速测量，如应用于观测光栅衍射效率光谱特性在温度、湿度以及激光辐照损伤等环境因素下的动态变化过程；(2)在测量过程中，仪器的机械构件始终保持匀速运动状态，测试系统因而具有较高的机械稳定性；(3)测量仪器具有较高的工作效率。
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