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发明公开
模数转换芯片的可靠性测试方法、系统、设备和存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN118316450A

公开(公告)日：2024-07-09

申请号：CN202410585532.X

申请日：2024-05-13

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 黄伟冠 , 李家辉 , 苏锦冰

IPC: H03M1/10 , H03M1/12

Abstract: 本申请涉及一种模数转换芯片的可靠性测试方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质。所述方法包括：通过可靠性试验装置调节测试空间的环境参数，为模数转换芯片提供N个不同的测试环境；在每个测试环境下，通过信号发生器向模数转换芯片发送模拟量；读取模数转换芯片针对模拟量输出的数字信号流；根据数字信号流分析模数转换芯片的关键参数；根据N个测试环境下模数转换芯片的关键参数进行分析，得到模数转换芯片的可靠性测试结果。采用本方法能够模拟模数转换芯片的多种运行环境，对模数转换芯片在多种测试环境下的可靠性进行测试，提升模数转换芯片的测试效率。能够识别模数转换芯片的潜在风险，为提升模数转换芯片可靠性提供数据支持。

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