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公开(公告)号：CN114397025B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202011128754.7
申请日：2020-10-22
Applicant: 中国兵器工业试验测试研究院 , 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明公开了一种用于外场目标特性校准的标准辐射源，包括：石墨腔、支撑端和温控装置；石墨腔的一端为辐射出口，且所述石墨腔内设置有腔底；支撑端包括固定端和滑动端，所述固定端设置在所述石墨腔外远离所述辐射出口的一端，所述滑动端设置在所述石墨腔外靠近所述辐射出口的一端且可沿所述石墨腔的轴向滑动；温控装置与所述石墨腔配合设置；滑动端的设置，可在石墨腔高温膨胀时消除热膨胀应力，确保石墨腔的性能稳定，提高发射率，保证外场工作时的发射准确性和稳定性。
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公开(公告)号：CN114397025A
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202011128754.7
申请日：2020-10-22
Applicant: 中国兵器工业试验测试研究院 , 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明公开了一种用于外场目标特性校准的标准辐射源，包括：石墨腔、支撑端和温控装置；石墨腔的一端为辐射出口，且所述石墨腔内设置有腔底；支撑端包括固定端和滑动端，所述固定端设置在所述石墨腔外远离所述辐射出口的一端，所述滑动端设置在所述石墨腔外靠近所述辐射出口的一端且可沿所述石墨腔的轴向滑动；温控装置与所述石墨腔配合设置；滑动端的设置，可在石墨腔高温膨胀时消除热膨胀应力，确保石墨腔的性能稳定，提高发射率，保证外场工作时的发射准确性和稳定性。
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公开(公告)号：CN119124364A
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202310693649.5
申请日：2023-06-12
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种超大口径红外相机辐射定标装置温控系统，包括米级面源黑体辐射源、温度采集及控制系统、加热片组、程控电源组、低温电磁阀组、液氮供液系统、嵌入式控制系统；温度采集及控制系统通过温度传感器实时采集辐射面温度传送给控制系统，与设定温度进行比较，采用PID控制，通过两路输出分别控制制冷和加热功率，黑体辐射源液氮管路通过若干个低温线性电磁阀控制米级面源黑体辐射源，实现黑体辐射源区域制冷；程控电源组控制加热片组实现黑体辐射源区域加热；嵌入式控制系统实现数据的输入输出、控制策略的实现和数据的远程传输和通信。该系统能够对黑体的温度进行高精度的控制以及快速测量，提高了米级面源黑体的均匀性和稳定性。
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公开(公告)号：CN114353965B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202011059643.5
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种黑体辐射源及其温度控制方法、温度控制设备，所述黑体辐射源包括黑体腔以及加热模块；所述黑体腔包括：侧壁、腔底以及开口端，所述侧壁的一端位于所述开口端，所述侧壁的另一端与所述腔底连接；其中，所述开口端与所述腔底相向设置；所述加热模块包括：第一加热部以及至少一个第二加热部；其中，所述第一加热部一体成型于所述腔底的内部，至少一个所述第二加热部一体成型于所述侧壁的内部；所述第一加热部以及第二加热部分别用于向所述黑体腔的侧壁以及腔底提供热能以均匀加热所述黑体腔。通过本发明的黑体辐射源可以实现腔体内部温度一致且均匀，能够较精准的对光谱辐射测量仪器进行量值溯源。
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公开(公告)号：CN115493705A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202110672172.3
申请日：2021-06-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/12
Abstract: 本发明提供了一种弥散条件下高温物体表面温度测量装置及方法，装置包括光收集模块、分光模块、n个探测器、反演模型模块、温度获取模块和温度处理模块；光收集模块用于收集被测高温物体辐射的光，并将辐射的光入射至分光模块；分光模块用于将入射光分为n路不同波段的光，并分别投影至对应的探测器；反演模型模块用于获取被测高温物体对应的反演系数；温度获取模块用于获取n个探测器上每个像素点位置对应的辐射亮温，得到n个探测器上每个像素点位置对应的修正后的辐射亮温；温度处理模块用于获取被测高温物体的表面温度。本发明能解决现有测温方法无法满足航空航天热试验和冶金铸造生产等领域对水雾等弥散介质条件下的红外辐射测温需求的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114688990A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202011576170.6
申请日：2020-12-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供了一种基于光场相机的多参数三维测量装置、系统及方法，所述装置包括：脉冲激光组件、滤光组件、光场相机以及处理单元；其中，所述脉冲激光组件发出脉冲光束以对待测目标进行周期性的照明，且所述待测目标能够在脉冲激光组件发出脉冲光束时，根据脉冲光束形成反射光；滤光组件用于根据脉冲光束对反射光进行滤光，以及对待测目标的自发光进行滤光；光场相机基于滤光后的反射光以及自发光采集待测目标的图像以分别获得速度光场图像以及温度光场图像；处理单元用于根据所述速度光场图像获取待测目标的速度，以及根据温度光场图像获取待测目标的温度。上述装置既可以获取温度，也可以获取速度，适用于发动机试车试验中开展多参数测量工作。
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公开(公告)号：CN109827675A
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201711178011.9
申请日：2017-11-23
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01K11/00
Abstract: 本发明提供了一种温度传感装置，该温度传感装置包括传感头底座、传感头主体部、模拟黑体腔、高温光学系统、耐高温光纤、光纤固定结构、固定顶丝、传光光纤和信号处理系统，模拟黑体腔设置在传感头底座内，高温光学系统用于收集模拟黑体腔发出的光辐射信号，耐高温光纤用于接收高温光学系统收集的光辐射信号，光纤固定结构用于固定耐高温光纤，固定顶丝用于限制光纤固定结构沿传感头主体部的轴向方向的移动，传光光纤与耐高温光纤连接，信号处理系统用于将传光光纤输出的光辐射信号转换为待测物体的温度。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中温度传感装置的测温范围受限且动态响应、干扰屏蔽、使用寿命和恶劣环境适应性差的技术问题。
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公开(公告)号：CN109751955A
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201711054716.X
申请日：2017-11-01
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明提供了一种非接触式物体位移测量装置及使用其的测量方法，该非接触物体位移测量装置包括：标准量块，标准量块用于提供高温环境下的标准长度，高温环境为温度值大于或等于500℃的温度环境；光学系统和相机，光学系统用于将目标物体和标准量块成像在相机的探测器上，相机用于采集目标物体和标准量块的图像并将采集到的目标物体和标准量块的图像输出至图像处理与控制单元；图像处理与控制单元，图像处理与控制单元用于根据标准量块提供的标准长度和目标物体的图像计算获取目标物体在高温环境下的形变位移量。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中在进行高温物体位移测量时标定复杂的技术问题。
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公开(公告)号：CN107655833A
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201710853728.2
申请日：2017-09-20
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种低导热率非导体材料高温半球发射率测量方法与系统。该方法利用材料常温、高温、法向、半球发射率的关系，通过测量常温半球发射率、常温法向发射率及高温法向发射率，导出材料高温半球发射率。测量系统包括常温半球发射率测量装置、常温法向发射率测量装置及高温法向发射率测量装置。本发明通过间接测量的方式，得出高温半球发射率，实现了低导热率非导体材料高温半球发射率测量途径，测量过程科学，结果准确可靠。
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公开(公告)号：CN107014494A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201710141240.7
申请日：2017-03-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/00
CPC classification number: G01J5/00 , G01J2005/0048
Abstract: 本发明涉及红外辐射测量与校准技术领域，尤其涉及一种能够在真空低温条件下应用的高精度面源黑体辐射源装置，主要包括：黑体辐射源主体模块、真空舱、舱内控制电缆、穿墙航插、舱外控制电缆、制冷铜辫和控制器模块，所述黑体辐射源主体模块放置在所述真空舱内，所述黑体辐射源主体模块通过制冷铜辫与所述真空舱的内壁相连接，所述黑体辐射源主体模块依次通过所述舱内控制电缆、穿墙航插、舱外控制电缆与所述控制器模块相连。本发明的有益效果为：有效解决了现有技术无法同时满足有效发射率、温度均匀性、温度范围宽的问题，为红外探测设备的标定和测试以及建立真空环境下低温目标性能测试系统提供了应用基础。
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