一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统

    公开(公告)号:CN114353968B

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202011059644.X

    申请日:2020-09-30

    Abstract: 本发明提供了一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统,所述方法包括:将具有第一发射率的第一材料涂覆于所述被测对象的第一表面,并将具有第二发射率的第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面;所述被测对象还具有第三表面;对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像;分别接收所述第一表面的第一辐射亮度,所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度;根据所述第一辐射亮度,第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准。上述方法适合于内部狭小空间范围内的被测对象的实际温度进行准确测量,最终可以实时监测被测对象的真实温度。

    消杂光材料组合物及制备方法

    公开(公告)号:CN113663894A

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN202110851190.8

    申请日:2021-07-27

    Abstract: 本发明公开了一种消杂光材料组合物,包括基材、底涂层和面涂层;底涂层涂覆于基材表面,厚度为1~500μm;面涂层涂覆于所述底涂层上面,厚度为1~500μm,且所述面涂层包含粒径为100 nm~30μm的碳基消杂光材料颗粒,孔隙率高于95%。本发明的一种消杂光材料组合物,通过选择不同的底涂层材料,可以实现对任意基底的高黏附,适用性较强;面涂层是具有非常高孔隙率的碳基消杂光材料颗粒,具有优异的吸光能力和红外发射率;而且本发明所制备的消杂光材料工艺简单,适合大规模生产。所得涂层在可见光光吸收率大于99%,中波红外发射率大于0.99,长波红外发射率大于0.98。

    一种材料辐射特性的测量方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN120027920A

    公开(公告)日:2025-05-23

    申请号:CN202311562234.0

    申请日:2023-11-22

    Abstract: 本发明涉及一种材料辐射特性的测量方法,解决了现有技术中在较高温度下材料辐射特性测量精度低的问题。包括如下步骤:将被测材料置于温控装置中,被测材料的中心正对温控装置的辐射口,并设置到设定温度;所述被测材料为结构材料或窗口材料;调整被测材料、标准黑体与傅立叶光谱辐射计位置,使得被测材料和标准黑体发出的辐射信号能够分别被所述傅立叶光谱辐射计接收并测量得到光谱辐射量值;基于被测材料和标准黑体发出的光谱辐射量值,使用处理器计算得到材料的辐射特性;包括:结构材料的法向光谱发射率、窗口材料的辐射透射率和基于所述辐射透射率计算的窗口材料的法向光谱发射率。实现了高温下材料辐射特性的精确测量。

    一种弥散条件下高温物体表面温度测量装置及方法

    公开(公告)号:CN115493705B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202110672172.3

    申请日:2021-06-17

    Abstract: 本发明提供了一种弥散条件下高温物体表面温度测量装置及方法,装置包括光收集模块、分光模块、n个探测器、反演模型模块、温度获取模块和温度处理模块;光收集模块用于收集被测高温物体辐射的光,并将辐射的光入射至分光模块;分光模块用于将入射光分为n路不同波段的光,并分别投影至对应的探测器;反演模型模块用于获取被测高温物体对应的反演系数;温度获取模块用于获取n个探测器上每个像素点位置对应的辐射亮温,得到n个探测器上每个像素点位置对应的修正后的辐射亮温;温度处理模块用于获取被测高温物体的表面温度。本发明能解决现有测温方法无法满足航空航天热试验和冶金铸造生产等领域对水雾等弥散介质条件下的红外辐射测温需求的问题。

    一种基于光场相机的多参数三维测量装置、系统及方法

    公开(公告)号:CN114688990B

    公开(公告)日:2023-11-03

    申请号:CN202011576170.6

    申请日:2020-12-28

    Abstract: 本发明提供了一种基于光场相机的多参数三维测量装置、系统及方法,所述装置包括:脉冲激光组件、滤光组件、光场相机以及处理单元;其中,所述脉冲激光组件发出脉冲光束以对待测目标进行周期性的照明,且所述待测目标能够在脉冲激光组件发出脉冲光束时,根据脉冲光束形成反射光;滤光组件用于根据脉冲光束对反射光进行滤光,以及对待测目标的自发光进行滤光;光场相机基于滤光后的反射光以及自发光采集待测目标的图像以分别获得速度光场图像以及温度光场图像;处理单元用于根据所述速度光场图像获取待测目标的速度,以及根据温度光场图像获取待测目标的温度。上述装置既可以获取温度,也可以获取速度,适用于发动机试车试验中开展多参数测量工作。

    一种结构材料及窗口材料发射率和透射率的测量装置

    公开(公告)号:CN120027912A

    公开(公告)日:2025-05-23

    申请号:CN202311566595.2

    申请日:2023-11-22

    Abstract: 本发明涉及一种结构材料及窗口材料发射率和透射率的测量装置,装置包括:公共组件、结构材料测量组件和窗口材料测量组件;所述公共组件包括温控装置、傅立叶光谱辐射计和标准黑体;标准黑体用于发射标准光谱辐射;温控装置用于控制被测材料的温度;被测材料为结构材料时,通过所述公共组件和结构材料测量组件测量所述结构材料的光谱辐射量值,得到结构材料的法向光谱发射率;被测材料为窗口材料时,通过所述公共组件和窗口材料测量组件测量所述窗口材料的光谱辐射量值,得到窗口材料的法向光谱发射率和光谱透射率。实现了使用一组硬件设备即可测量结构材料和窗口材料的辐射特性。

    一种稳态辐射温度的间接测试方法

    公开(公告)号:CN113465755B

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202010241713.2

    申请日:2020-03-31

    Abstract: 本发明提供了一种稳态辐射温度的间接测试方法,包括监测待测物非辐射部位的接触温度Tc;监测待测物的环境温度Ta;监测待测物辐射面的辐射温度Tr;建立接触温度Tc、环境温度Ta与辐射温度Tr之间的初始数学模型;获取多个试验温度下稳态后的多组接触温度测量值、环境温度测量值和辐射温度测量值;基于获取的多组接触温度测量值、环境温度测量值和辐射温度测量值对初始数学模型进行实验标定,得到接触温度Tc、环境温度Ta与辐射温度Tr之间的最终数学模型;基于任一时刻的接触温度测量值、环境温度测量值和最终数学模型得到对应时刻的辐射温度计算值。本发明能够解决现有技术中无法通过单点或多点接触测温结果精确推演辐射面的辐射温度的技术问题。

Patent Agency Ranking