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公开(公告)号:CN114397025B
公开(公告)日:2024-06-07
申请号:CN202011128754.7
申请日:2020-10-22
Applicant: 中国兵器工业试验测试研究院 , 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明公开了一种用于外场目标特性校准的标准辐射源,包括:石墨腔、支撑端和温控装置;石墨腔的一端为辐射出口,且所述石墨腔内设置有腔底;支撑端包括固定端和滑动端,所述固定端设置在所述石墨腔外远离所述辐射出口的一端,所述滑动端设置在所述石墨腔外靠近所述辐射出口的一端且可沿所述石墨腔的轴向滑动;温控装置与所述石墨腔配合设置;滑动端的设置,可在石墨腔高温膨胀时消除热膨胀应力,确保石墨腔的性能稳定,提高发射率,保证外场工作时的发射准确性和稳定性。
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公开(公告)号:CN114397025A
公开(公告)日:2022-04-26
申请号:CN202011128754.7
申请日:2020-10-22
Applicant: 中国兵器工业试验测试研究院 , 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明公开了一种用于外场目标特性校准的标准辐射源,包括:石墨腔、支撑端和温控装置;石墨腔的一端为辐射出口,且所述石墨腔内设置有腔底;支撑端包括固定端和滑动端,所述固定端设置在所述石墨腔外远离所述辐射出口的一端,所述滑动端设置在所述石墨腔外靠近所述辐射出口的一端且可沿所述石墨腔的轴向滑动;温控装置与所述石墨腔配合设置;滑动端的设置,可在石墨腔高温膨胀时消除热膨胀应力,确保石墨腔的性能稳定,提高发射率,保证外场工作时的发射准确性和稳定性。
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公开(公告)号:CN114383738A
公开(公告)日:2022-04-22
申请号:CN202011128753.2
申请日:2020-10-22
Applicant: 中国兵器工业试验测试研究院 , 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明公开了一种用于外场目标特性校准的装置及光学系统,装置包括:光学调制器件、主离轴光学元件以及至少一个次光学元件;光学调制器件用于将标准红外辐射源发出的红外光进行调制;至少一个次光学元件用于将调制后的红外光进行折转;主离轴光学元件用于将折转后的红外光反射形成平行红外光;该系统能够实现光学目标的模拟,各个光学元件的设计能够确保高低温环境下的低变形量,适用的温度范围宽,适用于外场校准,确保良好像质的要求,校准准确性高,支撑结构的设计,能够保证各部分的结构和位置关系在环境温度变化时低变形量,保证面型精度,整体结构轻型化设计,减小系统体积与重量。
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