-
公开(公告)号：CN110017900B
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201810017158.8
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种高低温红外成像系统检测装置，高低温红外成像系统检测装置包括平台支撑组件、目标黑体组件、背景黑体组件、靶标组件、高低温光学组件、第一消热差机构和第二消热差机构，目标黑体组件、背景黑体组件和靶标组件均可拆卸地设置在平台支撑组件上，目标黑体组件所产生的目标红外辐射和背景黑体组件所产生的背景红外辐射均通过靶标组件进入高低温光学组件以形成带有背景的红外目标，第一消热差机构用于保证靶标组件和次镜单元之间的距离不变，第二消热差机构用于保证次镜单元和主镜单元之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外成像系统检测装置无法实现深空背景、复杂背景、宽温范围下的目标仿真测试的技术问题。
-
公开(公告)号：CN110501023A
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201810464935.3
申请日：2018-05-16
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明提供了一种用于星敏感器的量子效率标定装置，该装置包括：激光器、光阑、起偏器、半波片、非线性晶体、待标定星敏感器、标准星敏感器、第一滤光片、第二滤光片、杂光陷阱、符合计数模块和数据处理及分析模块，非线性晶体在偏振状态调整后的激光的作用下产生纠缠光子对，纠缠光子对的一个光子经过第一滤光片进入待标定星敏感器，纠缠光子对的另一个光子经过第二滤光片进入标准星敏感器，符合计数模块用于对待标定星敏感器和标准星敏感器进行符合计数，数据处理及分析模块用于根据符合计数结果完成待标定星敏感器的量子效率标定。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中星敏感器在极弱星光照度条件下的量子效率无法标定的技术问题。
-
公开(公告)号：CN109751955A
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201711054716.X
申请日：2017-11-01
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明提供了一种非接触式物体位移测量装置及使用其的测量方法，该非接触物体位移测量装置包括：标准量块，标准量块用于提供高温环境下的标准长度，高温环境为温度值大于或等于500℃的温度环境；光学系统和相机，光学系统用于将目标物体和标准量块成像在相机的探测器上，相机用于采集目标物体和标准量块的图像并将采集到的目标物体和标准量块的图像输出至图像处理与控制单元；图像处理与控制单元，图像处理与控制单元用于根据标准量块提供的标准长度和目标物体的图像计算获取目标物体在高温环境下的形变位移量。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中在进行高温物体位移测量时标定复杂的技术问题。
-
公开(公告)号：CN107655833A
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201710853728.2
申请日：2017-09-20
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种低导热率非导体材料高温半球发射率测量方法与系统。该方法利用材料常温、高温、法向、半球发射率的关系，通过测量常温半球发射率、常温法向发射率及高温法向发射率，导出材料高温半球发射率。测量系统包括常温半球发射率测量装置、常温法向发射率测量装置及高温法向发射率测量装置。本发明通过间接测量的方式，得出高温半球发射率，实现了低导热率非导体材料高温半球发射率测量途径，测量过程科学，结果准确可靠。
-
公开(公告)号：CN106197290A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610712823.6
申请日：2016-08-24
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
CPC classification number: G01B11/02 , G01B11/167
Abstract: 本发明涉及一种基于结构光和数字散斑测量高温物体位移和形变的装置，包括：结构光激光器，用于输出单色结构光并照射到被测物体表面；激光测距单元，用于获得被测物体表面到光电探测单元的距离；光学成像单元，用于将被测物体表面的单色结构光图像成像在光电探测单元上；光电探测单元，用于采集成像的图像并发送给数据处理单元；数据处理单元，用于对光电探测单元发来的图像以及所述被测物体表面到光电探测单元的距离进行计算，得到所述被测量物体在高温状态下的位移和形变。本发明可以用于测量物体在高温状态下的位移和形变。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107655833B
公开(公告)日：2020-01-21
申请号：CN201710853728.2
申请日：2017-09-20
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种低导热率非导体材料高温半球发射率测量方法与系统。该方法利用材料常温、高温、法向、半球发射率的关系，通过测量常温半球发射率、常温法向发射率及高温法向发射率，导出材料高温半球发射率。测量系统包括常温半球发射率测量装置、常温法向发射率测量装置及高温法向发射率测量装置。本发明通过间接测量的方式，得出高温半球发射率，实现了低导热率非导体材料高温半球发射率测量途径，测量过程科学，结果准确可靠。
-
公开(公告)号：CN109917617A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201711319998.1
申请日：2017-12-12
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种抗冷反射红外靶标制备方法及抗冷反射红外靶标，该抗冷反射红外靶标制备方法包括：步骤一，在多晶硅基底上涂覆负性光刻胶层；步骤二，通过掩模板对表面涂覆有负性光刻胶层的多晶硅基底进行曝光；步骤三，对曝光后的表面涂覆有负性光刻胶层的多晶硅基底进行显影处理；步骤四，对表面具有靶标孔形的负性光刻胶层的多晶硅基底进行电腐蚀；步骤五，在抗反射层和靶标孔形的负性光刻胶层上均涂覆一层膜层；步骤六，除去多晶硅基体上的靶标孔形的负性光刻胶层以及设置在靶标孔形的负性光刻胶层上的膜层，以获取抗冷反射红外靶标。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中靶标表面反射率较高，容易产生冷反射现象的技术问题。
-
公开(公告)号：CN107062990B
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201710125039.X
申请日：2017-03-03
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，尤其涉及一种基于微型帕尔贴阵列的温场产生装置，包括控制器、驱动电路和微型帕尔贴阵列；控制器通过VGA接口与驱动电路连接，驱动电路与帕尔贴阵列相连接；控制器用于产生视频矩阵模拟信号，并发送给驱动电路；驱动电路对视频矩阵模拟信号进行解析，并进行模数转换，然后向微型帕尔贴阵列发送数字驱动信号；微型帕尔贴阵列产生温场分布图像。本发明可用于红外动态场景模拟器中，实现低温高分辨率红外动态场景的模拟，有效提高低温红外动态场景模拟精度，满足不同导引头的测试需求。
-
公开(公告)号：CN107062989B
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201710124732.5
申请日：2017-03-03
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: F41G3/32
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，尤其涉及一种基于微型帕尔贴阵列的红外动态场景模拟器，包括控制计算机、驱动电路、微型帕尔贴阵列和投影镜头；控制计算机通过VGA接口与驱动电路连接，驱动电路通过寻址线与帕尔贴阵列相连接，帕尔贴阵列放置于投影镜头的焦平面上；控制计算机用于产生视频矩阵模拟信号，并发送给驱动电路；驱动电路对视频矩阵模拟信号进行解析，并进行模数转换，然后向微型帕尔贴阵列发送数字驱动信号；微型帕尔贴阵列产生温场分布图像，并辐射至投影镜头；投影镜头产生无穷远处的无渐晕的红外动态场景。本发明可实现低温高分辨率红外动态场景的模拟，有效提高低温红外动态场景模拟精度，满足不同导引头的测试需求。
-
公开(公告)号：CN110388876B
公开(公告)日：2022-05-20
申请号：CN201810353372.0
申请日：2018-04-19
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种高温耦合场测量系统，该系统包括第一和第二光学组件、第一和第二探测组件以及测量控制处理单元，第一光学组件用于将被测目标的第一可见光图像和第一近红外图像成像在第一探测组件上，第二光学组件用于将被测目标的第二可见光图像和第二近红外图像成像在第二探测组件上，测量控制处理单元根据第一可见光图像以及第二可见光图像获取被测目标的位移及应变，测量控制处理单元根据第一近红外图像以及第一可见光图像和/或第二近红外图像以及第一可见光图像获取被测目标的温度。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中单参数独立测量方法存在多数据融合匹配精度差、参数测量时间不同步、使用复杂以及设备尺寸大的技术问题。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
26
records
(took 0.027 seconds)
