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公开(公告)号：CN115704714A
公开(公告)日：2023-02-17
申请号：CN202110936293.4
申请日：2021-08-16
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/10
Abstract: 本发明提供了一种基于shutter调制原理的超低温真空红外辐射计，包括调制组件、光机结构、红外探测器及电子学组件；所述调制组件放置在待测设备与光机结构之间，包括shutter调制器和shutter挡板，所述shutter调制器控制shutter挡板以固定频率移动，间歇式遮挡待测设备的辐射能量传递；所述光机结构用于汇聚辐射能量；所述红外探测器及电子学组件用于定量化采集和处理辐射能量。本发明将调制组件放置在辐射计光机结构外，用以替代斩波器，降低了由于调制系统给系统带来的热影响。
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公开(公告)号：CN110018547A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201810017157.3
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供了一种用于宽温范围红外平行光管的机械被动消热差装置，该机械被动消热差装置包括平台支撑组件、第一光学元件底座、第二光学元件底座和第一消热差组件，第一光学元件底座设置在平台支撑组件上，第二光学元件底座设置在平台支撑组件上，第一消热差组件设置在第一光学元件底座和第二光学元件底座之间，第一消热差组件包括沿同一轴线方向连接的第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒，在宽温范围内，当温度发生变化时，第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒彼此进行热补偿以保证第一光学元件底座和第二光学元件底座之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外平行光管在大温差变化条件下成像质量差的技术问题。
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公开(公告)号：CN114568142B
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202011387359.0
申请日：2020-12-01
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种打顶刀具、打顶执行器及打顶方法，该打顶刀具包括：刀具安装环、驱动机构和至少三个刀片；刀片转动连接于刀具安装环，至少三个刀片绕刀具安装环的轴线圆周分布；刀片具有第一刀刃和第二刀刃；驱动机构与刀片连接，用于驱动各个刀片在刀具安装环上转动至打开状态或者闭合状态；当处于打开状态时，待打顶的顶芽能够穿入刀具安装环中，且至少三个刀片包围待打顶的顶芽；当处于闭合状态时，相邻两个刀片中，一个刀片的第一刀刃与另一刀片的第二刀刃相抵接。通过本发明，缓解了现有技术中棉花打顶时容易将棉花顶芽周边的侧枝和叶片损伤，造成棉花产量的降低的技术问题。
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公开(公告)号：CN110926620A
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201811092252.6
申请日：2018-09-19
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于单晶硅基底的红外靶标及其制作方法、保护结构，红外靶标包括单晶硅基底，单晶硅基底的厚度为100μm，单晶硅基底上设置有镂空图形，单晶硅基底的反射面上设置有高反射率膜，高反射率膜上设置有保护膜；采用单晶硅作为基底，使其在镂空图形的加工过程中不会产生表面变形，并且便于抛光和镀膜，不产生塑性变形，保证靶标表面的平整度。
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公开(公告)号：CN110470636A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201810435109.6
申请日：2018-05-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01N21/47
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，公开了一种用于真空紫外BRDF特性测量的系统。该系统包括：真空紫外探测器、探测转臂、转臂旋转中心、探测转台、样品转台和样品平移台，其中，所述真空紫外探测器设置在所述探测转臂上，所述转臂旋转中心带动所述探测转臂进行绕水平轴的旋转运动，所述探测转台带动所述探测转臂进行绕垂直轴的旋转运动，所述样品转台带动待测样品进行绕垂直轴的旋转运动，所述样品平移台带动所述待测样品进行沿水平方向的平移运动，以对所述待测样品进行多角度漫反射信号探测，得到所述待测样品的BRDF值。由此，可以实现对待测样品的双向反射分布函数进行精确测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116124298A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202111337935.5
申请日：2021-11-12
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/061
Abstract: 本发明提供一种冷却结构和设计方法，包括方型锥塔结构、均热板结构和导热带，所述的导热带一端连接热源，另一端与连接均热板；所述的均热板结构上表面与导热带连接，下表面设置n个方型锥塔安装座，所述的方型锥塔安装座用于安装方型锥塔结构，所述的方型锥塔结构与需要冷却的结构连接。本发明通过导热带、压板、均热板、方型锥塔结构，可将导热带一端的冷量均匀的传递到超大黑体面上，保持黑体温场均匀性，实现有点到面的冷却(加热)设计。
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公开(公告)号：CN114674439A
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202011433400.3
申请日：2020-12-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种面源黑体装置及其制造方法，装置包括面源黑体，所述面源黑体包括呈矩阵排列的多个黑体单元，相邻的黑体单元之间通过凹凸结构进行拼接；解决现有技术中面源黑体口径较大导致原材料获取难、加工、安装难度大的问题；黑体单元采用凹凸结构进行拼接，解决了拼缝辐亮度不一致的问题。
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公开(公告)号：CN110018547B
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN201810017157.3
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供了一种用于宽温范围红外平行光管的机械被动消热差装置，该机械被动消热差装置包括平台支撑组件、第一光学元件底座、第二光学元件底座和第一消热差组件，第一光学元件底座设置在平台支撑组件上，第二光学元件底座设置在平台支撑组件上，第一消热差组件设置在第一光学元件底座和第二光学元件底座之间，第一消热差组件包括沿同一轴线方向连接的第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒，在宽温范围内，当温度发生变化时，第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒彼此进行热补偿以保证第一光学元件底座和第二光学元件底座之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外平行光管在大温差变化条件下成像质量差的技术问题。
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公开(公告)号：CN110017900A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201810017158.8
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种高低温红外成像系统检测装置，高低温红外成像系统检测装置包括平台支撑组件、目标黑体组件、背景黑体组件、靶标组件、高低温光学组件、第一消热差机构和第二消热差机构，目标黑体组件、背景黑体组件和靶标组件均可拆卸地设置在平台支撑组件上，目标黑体组件所产生的目标红外辐射和背景黑体组件所产生的背景红外辐射均通过靶标组件进入高低温光学组件以形成带有背景的红外目标，第一消热差机构用于保证靶标组件和次镜单元之间的距离不变，第二消热差机构用于保证次镜单元和主镜单元之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外成像系统检测装置无法实现深空背景、复杂背景、宽温范围下的目标仿真测试的技术问题。
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公开(公告)号：CN114353965B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202011059643.5
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种黑体辐射源及其温度控制方法、温度控制设备，所述黑体辐射源包括黑体腔以及加热模块；所述黑体腔包括：侧壁、腔底以及开口端，所述侧壁的一端位于所述开口端，所述侧壁的另一端与所述腔底连接；其中，所述开口端与所述腔底相向设置；所述加热模块包括：第一加热部以及至少一个第二加热部；其中，所述第一加热部一体成型于所述腔底的内部，至少一个所述第二加热部一体成型于所述侧壁的内部；所述第一加热部以及第二加热部分别用于向所述黑体腔的侧壁以及腔底提供热能以均匀加热所述黑体腔。通过本发明的黑体辐射源可以实现腔体内部温度一致且均匀，能够较精准的对光谱辐射测量仪器进行量值溯源。
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