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公开(公告)号：CN105403173B
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201511004270.0
申请日：2015-12-29
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明属于光学测量领域，涉及一种光场偏折术测量系统标定镜及其应用方法。本标定镜用于标定光场偏折术系统的位姿关系，用于标定相机5和双层光平面调制器间3和4的关系以及双层光平面调制器3和4间的关系，包括一个标定镜其镜面由标准棋盘格镜面和反射镜面并联组成；即将棋盘格刻画在一个平面反射镜的一部分上，使其具有标定棋盘格和反射功能；所述标定方法分为普通相机标定法和光场相机标定法。所述标定方法只需一次拍摄即可完成所有位姿关系的标定，具有操作简单容易操作，精度高等优点。所述光场相机标定法填补了国内外关于光场偏折术测量系统光场相机模式下标定的空白，为光场偏折术测量系统测量高反射物体提供了基础。
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公开(公告)号：CN114675220B
公开(公告)日：2025-02-21
申请号：CN202110916436.5
申请日：2021-08-11
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种测量铁磁性金属表面磁感应强度分布的方法，属于磁感应强度测量技术领域。该方法包括：电极体系准备，电化学体系分别在无磁场或施加磁场条件下进行动电位扫描；根据动电位曲线选择磁场有影响的电位在施加磁场条件下进行恒电位极化，磁场强度为0.05‑1.2T；观察恒电位极化后工作电极表面形貌，并用ComsolMultiphysics模拟铁磁性电极表面磁感应强度的分布，根据Comsol软件模拟铁磁性电极表面磁感应强度的分布验证通过腐蚀深度判断磁感应强度分布。本发明在电化学体系中引入磁场，通过观察极化后电极表面的腐蚀深度测量铁磁性金属表面磁感应强度的分布。
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公开(公告)号：CN118862062A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202411010840.6
申请日：2024-07-26
Applicant: 上海大学
IPC: G06F21/55 , G06F21/62 , G06N3/045 , G06N3/0475 , G06N3/094 , G06N3/088 , G06N3/0985 , G06F18/23213 , G06F18/2131 , G06F18/214
Abstract: 本发明涉及一种基于傅里叶频域分析的图像黑盒对抗攻击方法，该方法包括：在神经网络频域敏感区域建立阶段，首先构建多个神经网络频域的共同敏感区域，然后找到攻击价值最高的频域区域；在频域对抗攻击阶段，将要分享图像从空域变换到频域，得到频域图像，然后对频域图像进行频域增强，接着利用攻击价值最高的频域进行梯度计算与迭代，并更新频域图像，最终获得要分享图像的对抗样本。与现有技术相比，本发明具有提升对抗攻击的迁移性与不可见性，以及增强图像分享隐私保护的安全性等优点。
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公开(公告)号：CN106546192B
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201610888441.9
申请日：2016-10-12
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明涉及一种高反射自由曲面非接触测量方法，包括下列步骤：1）借助于LCD显示器和三相机获取物点坐标和法线信息：使用LCD显示器投射编码相移条纹，由相机获取经被测物体表面反射的LCD显示器上的相移条纹；借助于LCD显示器位置改变，获取入射光线所在的入射光平面；使用双相机获得的两个入射光平面，并由入射光平面求交获得入射光线信息；使用反射光线和入射光平面求交或反射光线和入射光线求交计算物点坐标信息；使用反射光线和入射光线获取物点法线信息；2）采用径向基插值法或梯度积分法对获取的物点坐标和法线信息进行插值或梯度积分，获取物点的精确三维信息。本发明测量速度快，非接触，对高反射物体表面无损伤。
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公开(公告)号：CN106546193B
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201610889307.0
申请日：2016-10-12
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明涉及一种高反射物体表面三维测量方法，包括下列步骤：1）借助于双投影仪和相机获取物点坐标和法线信息：使用双投影仪分时向白色平板投射编码相移条纹，由相机获取经被测物体表面反射的白色平板上的相移条纹；借助于白色平板位置改变，获取入射光线所在的入射光平面；使用双投影仪获得的两个入射光平面，并由入射光平面求交获得入射光线信息；使用反射光线和入射光平面求交或反射光线和入射光线求交计算物点坐标信息；使用反射光线和入射光线获取物点法线信息；2）采用径向基插值法或梯度积分法对获取的物点坐标和法线信息进行插值或梯度积分，获取物点的精确三维信息。本发明测量速度快，非接触，对高反射物体表面无损伤。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106546193A
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201610889307.0
申请日：2016-10-12
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明涉及一种高反射物体表面三维测量方法，包括下列步骤：1）借助于双投影仪和相机获取物点坐标和法线信息：使用双投影仪分时向白色平板投射编码相移条纹，由相机获取经被测物体表面反射的白色平板上的相移条纹；借助于白色平板位置改变，获取入射光线所在的入射光平面；使用双投影仪获得的两个入射光平面，并由入射光平面求交获得入射光线信息；使用反射光线和入射光平面求交或反射光线和入射光线求交计算物点坐标信息；使用反射光线和入射光线获取物点法线信息；2）采用径向基插值法或梯度积分法对获取的物点坐标和法线信息进行插值或梯度积分，获取物点的精确三维信息。本发明测量速度快，非接触，对高反射物体表面无损伤。
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公开(公告)号：CN106145933A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201610406748.0
申请日：2016-06-12
Applicant: 上海大学
IPC: C04B35/468 , C04B35/475
CPC classification number: C04B35/468 , C04B35/475 , C04B2235/3203 , C04B2235/3217 , C04B2235/3232 , C04B2235/3234 , C04B2235/3236 , C04B2235/3251 , C04B2235/9607
Abstract: 本发明涉及一种高居里温度(Tc>190℃)低铅PTCR陶瓷材料制备方法，该方法采用以下材料：x(Bi1/2Na1/2)TiO3‑yPbTiO3‑(1‑x‑y)BaTiO3粉体；Nb2O5、La2O3、Sb2O3、Sm2O3、Nd2O3化合物中的一种或多种为半导化剂；MnO2、MnCO3或Mn(NO3)2中的一种或多种为PTCR效应调节剂；Li2CO3、Al2O3和TiO2为烧结助剂，采用的工艺是：将上述所列材料压制的圆片在N2气氛中1200‑1350℃下保温15～120分钟烧结，使其充分烧结和实现固相反应；对烧结后的圆片表面进行研磨，上电极，制得PTCR陶瓷材料。该陶瓷材料，其室温电阻率低至1×103Ω·cm，居里温度Tc在190～260℃，其居里温度和室温电阻率性能不仅能达到实用化要求，而且该材料中含铅量是传统的相同性能的PTCR陶瓷材料的15～25％，减少了其对人体和环境的危害。
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公开(公告)号：CN114675220A
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202110916436.5
申请日：2021-08-11
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种测量铁磁性金属表面磁感应强度分布的方法，属于磁感应强度测量技术领域。该方法包括：电极体系准备，电化学体系分别在无磁场或施加磁场条件下进行动电位扫描；根据动电位曲线选择磁场有影响的电位在施加磁场条件下进行恒电位极化，磁场强度为0.05‑1.2T；观察恒电位极化后工作电极表面形貌，并用ComsolMultiphysics模拟铁磁性电极表面磁感应强度的分布，根据Comsol软件模拟铁磁性电极表面磁感应强度的分布验证通过腐蚀深度判断磁感应强度分布。本发明在电化学体系中引入磁场，通过观察极化后电极表面的腐蚀深度测量铁磁性金属表面磁感应强度的分布。
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公开(公告)号：CN107084681B
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201710152270.8
申请日：2017-03-15
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种能主动适应水环境和水下目标的主动光照视觉成像系统和方法。蓝光源和红光源分别采用蓝光激光器和红光激光器，其偏振态都为线偏振光，且偏振方向一致，两束激光经过二相色分光镜耦合；耦合光经λ/2波片和第一λ/4波片后，投射照明到水下被测物体表面，经被测物体表面反射，经第二λ/4波片、检偏器后由相机拍摄成像，图像的质量由计算机进行评价，并根据水环境及其变化和具体被测物体的情况，对影响水下主动照明成像系统的照明波长、功率以及偏振态进行综合调节，确定最佳的波长、功率、偏振态，主动适应水环境和水下目标，获得最佳水下成像质量。
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公开(公告)号：CN105806257B
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201610138787.7
申请日：2016-03-12
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明涉及一种高反射物体表面光场偏折术测量系统和方法，用于高反射物体表面的三维重建，本系统采用光线反射原理获取高反射物体表面的法线信息,继而获得曲面信息，由光场投射系统，光线感知系统。本方法是通过相位恢复术确定入射光线和反射光线的对应性计算待测物体表面三维点。本发明相较普通相位偏折术不存在‘法线不唯一问题’，并且在光场相机模式下，对物体表面高度变化有更高的响应特性，能够得到更高的测量精度，填补了国内外基于光场的偏折术测量系统的空白。
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