公开(公告)号：CN108267681A

公开(公告)日：2018-07-10

申请号：CN201611256917.3

申请日：2016-12-30

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 周慧 ,  张爱丽 ,  丰震昊 ,  周军 ,  陈宁

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种可编程电路的模块测试系统，该模块测试系统设置在被测模块与通用互联资源模块之间，该模块测试系统包含：测试控制模块及分别与之连接的接口模块、指令分析模块及数据处理模块；所述的接口模块分别与所述的通用互联资源模块及所述的指令分析模块连接；所述的数据处理模块分别与所述的接口模块及所述的被测模块连接。本发明利用可编程特性，在尽可能少的增加硬件结构的情况下，降低模块测试设计的复杂度，提高测试覆盖率，并具有一定的通用性，适用于不同功能的数字可编程电路模块。

公开(公告)号：CN108267681B

公开(公告)日：2020-07-17

申请号：CN201611256917.3

申请日：2016-12-30

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 周慧 ,  张爱丽 ,  丰震昊 ,  周军 ,  陈宁

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种可编程电路的模块测试系统，该模块测试系统设置在被测模块与通用互联资源模块之间，该模块测试系统包含：测试控制模块及分别与之连接的接口模块、指令分析模块及数据处理模块；所述的接口模块分别与所述的通用互联资源模块及所述的指令分析模块连接；所述的数据处理模块分别与所述的接口模块及所述的被测模块连接。本发明利用可编程特性，在尽可能少的增加硬件结构的情况下，降低模块测试设计的复杂度，提高测试覆盖率，并具有一定的通用性，适用于不同功能的数字可编程电路模块。

公开(公告)号：CN107885181A

公开(公告)日：2018-04-06

申请号：CN201610876613.0

申请日：2016-09-30

Applicant: 上海复旦微电子集团股份有限公司

Inventor： 陈宁 ,  俞军 ,  沈磊 ,  俞剑 ,  张智 ,  丰震昊 ,  周慧

IPC: G05B23/02

CPC classification number: G05B23/0256

Abstract: 一种现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统。所述系统包括：时钟管理器、第一存储器、待测DSP单元、第二存储器、第三存储器以及测试单元，向所述第二存储器写入数据的时钟频率与所述第一存储器及待测DSP单元的工作频率相同，从所述第二存储器中读取数据的时钟频率与所述第三存储器以及测试单元的工作频率相同；其中：所述时钟管理器，适于提供第一时钟频率以及第二时钟频率，所述第一时钟频率大于所述第二时钟频率；所述待测DSP单元，适于以所述第一时钟频率，从所述第一存储器中获取所述激励数据，并对所述激励数据执行预设的运算操作，以及将运算结果数据输出至所述第二存储器。应用上述系统，可以提高高频下测试DSP单元功能的准确性。