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公开(公告)号：CN219496585U
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202320478430.9
申请日：2023-03-14
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路霍尔效应测试装置，本实用新型涉及霍尔效应的技术领域。本实用新型包括检测架和霍尔效应测试仪，检测架呈“凹”型，检测架的下端固定连接有底架，检测架的上端固定连接有两个顶板，两个顶板的下端固定连接有两个连接板，霍尔效应测试仪放置于两个连接板的上端，霍尔效应测试仪的下端设置有检测腔，检测架的侧壁之间固定连接有操作板，操作板的上端开设有滑槽，滑槽内滑动连接有测试台，操作板的上方设置有两个卡块，两个卡块内设置有多个集成电路板，第一气缸和卡块配合，可以将集成电路板推入测试台上进行检测。
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公开(公告)号：CN217332717U
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202220127969.5
申请日：2022-01-18
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及集成电路技术领域，尤其是指一种集成电路芯片检测装置，其包括上检测组件和下检测组件，上检测组件包括上载移模座以及多个扁平封装芯片引脚检测探针，下检测组件包括下载移模座以及多个直插式封装芯片引脚检测探针，扁平封装芯片引脚检测探针包括第一探针管座、第一探针、第一弹性部件以及扁平式针头，扁平式针头与集成电路板的扁平封装芯片引脚相对应设置；直插式封装芯片引脚检测探针包括第二探针管座、第二探针、第二弹性部件以及凹杯式针头，凹杯式针头与集成电路板的直插式封装芯片引脚相对应设置。本申请能够对扁平式封装和直插式封装的集成电路进行同时检测，不需翻面操作，提高检测效率和准确率，操作简单。
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公开(公告)号：CN217059345U
公开(公告)日：2022-07-26
申请号：CN202220920843.3
申请日：2022-04-20
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
IPC: G01M13/025
Abstract: 本申请涉及一种减速器检测装置，包括：底座、驱动装置、输入扭矩传感器、输出扭矩传感器、磁粉制动器、输入角度编码器、输出角度编码器和控制单元。驱动装置滑动安装在底座上，输入扭矩传感器的输入端与驱动轴连接，输入扭矩传感器的输出端适用于与待检测减速器的输入端连接。输出扭矩传感器的输入端适用于与待检测减速器的输出端连接。磁粉制动器设置在底座上，磁粉制动器与输出扭矩传感器的输出端连接。输入角度编码器和输出角度编码器分别套设在输入扭矩传感器的输出端和输出扭矩传感器的输入端。控制单元读取输入扭矩传感器、输出扭矩传感器、输入角度编码器和输出角度编码器的检测数据，进而实现对待检测减速器的总体性能。
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公开(公告)号：CN215986156U
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202121686791.X
申请日：2021-07-23
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型公开了一种便携式用于测试集成电路的测试装置，包括测试装置本体，所述测试装置本体的底部固定连接有散热底盒，所述测试装置本体的底部开设有散热孔，所述散热孔的内腔固定连接有散热翅片，所述散热翅片的表面设置有散热风机，所述散热风机的一侧固定连接有连接杆。本实用新型通过测试装置本体、散热底盒、散热孔、散热翅片、散热风机、连接杆、防尘网、橡胶套、缓冲板、支撑杆、气管、活塞、第一弹簧、微型气泵和第二弹簧的配合使用，能够方便的携带本装置，而且能够对工作时产生的热量进行快速的散热，以及能够在放置的时候起到良好的防护性能，延长了其使用寿命，给日常的使用带来了极大的便利。
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公开(公告)号：CN214585834U
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202022532441.X
申请日：2020-11-05
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Inventor： 高宏玲 , 翟腾 , 艾文思 , 其他发明人请求不公开姓名
Abstract: 本实用新型公开了一种半导体检测用智能激光在线测量仪，包括箱体和升降板，所述箱体右侧的上端固定安装有伺服电机，所述伺服电机的输出端转动连接有转杆，所述转杆的顶部固定连接有密封盖板，所述箱体内腔的底部固定连接有滑杆，所述滑杆外表面的左右两侧均活动连接有活动块，所述活动块的顶部均活动连接有活动杆，且活动杆的交叉处活动连接，活动杆左右两侧的内侧均活动连接有电动伸缩杆，升降板下表面的左右两侧均开设有滑槽。本实用新型设置了电动伸缩杆、活动块、滑杆和活动杆，达到了防尘防护的目的，解决了现有的半导体检测用智能激光在线测量仪不具备防尘防护功能，导致其经常暴露在外而容易积尘和被碰撞损坏的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN217801806U
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN202220936593.2
申请日：2022-04-21
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
IPC: B25J19/00
Abstract: 本申请涉及一种工业机器人状态监控装置，包括：安装架、位移单元、连接轴、机器人安装底座和图像传感器。位移单元设置在安装架的一侧。连接轴设置在位移单元上。机器人安装底座和图像传感器均安装在连接轴上，机器人安装底座位于连接轴的一端，机器人安装底座适用于安装待监测工业机器人。图像传感器的检测端朝向机器人安装底座设置，图像传感器适用于与上位机电连接。本申请适用于对工业机器人的工作状态进行监测。通过设置图像传感装置，对工作中的待监测工业机器人进行动作采集，采集到的数据传输至上位机，上位机将待监测工业机器人的运动姿态与预先设定好的工业机器人工作程序进行对比，实现实时待监测工业机器人的工作状态。
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公开(公告)号：CN217332178U
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202220127970.8
申请日：2022-01-18
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其是指一种芯片硬件安全检测装置，其包括工作台面、机台架、去封装结构和拍照结构，去封装结构包括芯片槽块、芯片洗剂导出组件、吸剂组件以及加热组件，拍照结构包括CCD相机，芯片槽块设有定位槽，芯片洗剂导出组件包括第一挠性导管以及洗剂供给器，吸剂组件包括第二挠性导管和抽液泵，加热组件包括对焦移动架、若干个万向调节器和若干个激光发射器，对焦移动架的一端设有一万向调节器。本申请能够自动实现去封装、拍照等步骤，检测效率高，能够将集成电路板的损坏程度降至最低，不需要人工清洗，还能够及时抽走芯片洗剂，保护集成电路板的其它元器件。
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公开(公告)号：CN216087152U
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202122174999.X
申请日：2021-09-09
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型公开了一种用于SMT封装产品的集成电路测试模具，涉及集成电路技术领域，包括工作台，所述工作台的上方设置有测试仪，所述工作台的顶部设置有固定机构，所述工作台的顶部设置有调节机构，所述固定机构包括有固定框、L型块和卡杆，所述固定框活动安装在工作台的顶部。本实用新型通过拉块、卡杆、弹簧、限位块、L型块，固定框和橡胶垫的共同配合，避免人工对集成电路板进行固定导致集成电路板被汗渍和灰尘损坏，具有方便固定的优点，通过第一电机、第二电机、齿轮、齿板、限位杆、滚珠、滑块、支撑块、第一稳定块、第二稳定块、螺杆和测试仪的共同配合，对测试的位置进行自动调节，具有方便调节的优点。
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公开(公告)号：CN218835258U
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202223352878.0
申请日：2022-12-14
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路老化筛选测试装置，包括筛选测试架、导入槽以及导出槽，筛选测试架上开设有用于集成电路板导入的导入槽，导入槽尾端两侧设置有用于集成电路板导出的导出槽，两组导出槽之间设置有开设有在筛选测试架上的测试槽，测试槽内部安装有感应器，筛选测试架一侧面固定有固定板，固定板上安装有位于感应器上方的施力件，感应器与PLC控制器相连。本实用新型涉及集成电路老化筛选设备技术领域。本实用新型能够在老化电路板进行测试时对其表面增加一定压力，根据发生的形变变换产生的压力大小，判断电路板是否老化，对其中老化的集成电路板进行筛选，提高筛选便捷性。
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公开(公告)号：CN218727804U
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202222766334.2
申请日：2022-10-20
Applicant: 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)
Abstract: 本实用新型涉及一种集成电路可靠度的测试装置，包括装置底板和开设在装置底板上表面的放置槽，所述设置在装置底板上的固定组件，所述固定组件包括设置在放置槽上的若干个吸盘，在按压柱、连接槽、第一弹簧、限位孔、出气腔室、滑动腔室、滑杆、第二弹簧、连接杆、活塞和负压腔室的配合下，活塞靠近第二弹簧进运动，此时负压腔室内形成负压，使吸盘产生吸力，当电路板与吸盘相接触时，吸盘将对电路板进行限位固定。本实用新型涉及集成电路测试的技术领域。本实用新型具有电路板在检测的电路的过程中不会出损伤，确保数据的准确性以及减少电路板报销率的效果。
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